集成电路制造工艺员:集成电路制造工艺员(三级)考试资料(最新版)

时间:2019-05-04 20:48:43

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1、多项选择题  沾污是指半导体制造过程中引入半导体硅片的任何危害微芯片()的不希望有的物质。

A.功能
B.成品率
C.物理性能
D.电学性能
E.外观


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2、单项选择题  买来的新树脂往往是Na型或Cl型,新树脂使用前必须分别用酸(阳树脂),碱(阴树脂)浸泡约()个小时,把Na型或Cl型转换成H型或OH型。

A.3
B.4
C.5
D.6


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3、 单项选择题  为了保证保护装置能可靠地动作,27.5A的接地电流只能保证断开动作电流不超过多少的继电保护装置。()

A.18.3A
B.13.8A
C.11A
D.9.2A


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4、单项选择题  在将清洗完的硅片放进扩散炉扩散时,需要将硅片先装入(),然后再装入扩散炉。

A.耐热陶瓷器皿
B.金属器皿
C.石英舟
D.玻璃器皿


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5、单项选择题  ESD产生()种不同的静电总类。

A.1
B.4
C.3
D.2


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6、多项选择题  下列可作为磷扩散源的是()。

A.磷钙玻璃
B.三氯氧磷
C.三氯化磷
D.磷烷
E.掺磷二氧化硅乳胶源


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7、单项选择题  在酸性浆料中,最常使用的氧化剂为()。

A.硝酸
B.硝酸铜
C.硫酸
D.磺酸


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8、单项选择题  刻蚀是把进行光刻前所沉积的薄膜厚度约在数千到数百A之间中没有被()覆盖及保护的部分,以化学作用或是物理作用的方式加以去除,以完成转移掩膜图案到薄膜上面的目的。

A.二氧化硅
B.氮化硅
C.光刻胶
D.去离子水


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9、单项选择题  下列材料中电阻率最低的是()。

A.铝
B.铜
C.多晶硅
D.金


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10、多项选择题  在半导体工艺中,与氮化硅比较,二氧化硅更适合应用在()。

A.晶圆顶层的保护层
B.多层金属的介质层
C.多晶硅与金属之间的绝缘层
D.掺杂阻挡层
E.晶圆片上器件之间的隔离


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11、多项选择题  半导体芯片生产中,离子注入主要是用来()。

A.氧化
B.改变导电类型
C.涂层
D.改变材料性质
E.镀膜


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12、单项选择题  以下属于口腔医务人员个人保护措施的是()

A.手套
B.口罩
C.防护镜
D.保护性工作服
E.以上均是


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13、多项选择题  下列扩散杂质源中,()不仅是硅常用的施主杂质,也是锗常用的施主杂质。

A.硼
B.锡
C.锑
D.磷
E.砷


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14、多项选择题  属于铝的性质有()。

A.电阻低
B.抗电迁移特性好
C.对硅氧化物有很好的黏合性
D.有很高的纯度
E.易于光刻


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15、单项选择题  当注入剂量增加到某个值时,损伤量不再增加,趋于饱和。开始饱和的注入剂量称为()。

A.临界剂量
B.饱和剂量
C.无损伤剂量
D.零点剂量


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16、单项选择题  在靶片前方设一抑制栅,作用是将()抑制回去,从而保证测量的准确性。

A.二次电子
B.二次中子
C.二次质子
D.无序离子


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17、单项选择题  企业的战略一般由四个要素组成,即经营范围、资源配置、竞争优势以及协同合作,其中协同合作是指企业通过共同的努力达到()。

A.分力之和大于简单相加的结果
B.分力之和等于简单相加
C.共享开发工具、共享信息
D.共同分担着开发失败的风险


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18、单项选择题  引出系统要求能引出分散性较好的强束流,还希望具有较()的气阻。

A.无序
B.稳定
C.小
D.大


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19、单项选择题  在深紫外曝光中,需要使用()光刻胶。

A.DQN
B.CA
C.ARC
D.PMMA


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20、多项选择题  按加热源的不同,可以分成()几种不同类型的蒸发。

A.真空蒸发
B.离子束蒸发
C.电子束蒸发
D.粒子束蒸发
E.常压蒸发


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21、单项选择题  在热扩散工艺中的预淀积步骤中,硼在950~1100℃的条件下,扩散时间大约()为宜。

A.4~6h
B.50min~2h
C.10~40min
D.5~10min


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22、多项选择题  涂胶之前,要保证晶片的质量以及涂胶工序的顺利进行,下列操作正确的是()。

A.进行去水烘烤以保证晶片干燥
B.在晶片表面涂上增粘剂以保证晶片黏附性好
C.刚刚处理好的晶片应立即涂胶
D.贮存的晶片在涂胶前必须再次清洗及干燥
E.也可以直接使用贮存的晶片


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23、单项选择题  在确定扩散率的测结深实验中,结深的测量是采用HF和()的混和液对磨斜角进行化学染色的。

A.乙醇
B.HCL
C.H2SO4
D.HNO3


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24、单项选择题  铜互连金属多层布线中,磨料的粒径一般为()。

A.5~10nm
B.20~30nm
C.50~80nm
D.100~200nm


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25、单项选择题  决定吸附原子彼此间能否形成一个稳定的核团,以便于进行凝结的主要因素主宰于所形成的核团是否()而定。

A.动能最低
B.稳定
C.运动
D.静止


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26、单项选择题  ()主要是以化学反应方式来进行薄膜沉积的。

A.PVD
B.CVD
C.溅射
D.蒸发


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27、单项选择题  为了解决中性束对注入均匀性的影响,可在系统中设有(),使离子束偏转后再达到靶室。

A.磁分析器
B.正交电磁场分析器
C.静电偏转电极
D.束流分析仪


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28、多项选择题  解决氧化层中的钠离子沾污的方法有()。

A.加强工艺操作
B.加强人体和环境卫生
C.使用高纯化学试剂、高纯水和超净设备
D.采用HCl氧化工艺
E.硅片清洗后,要充分烘干,表面无水迹


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29、单项选择题  半导体硅常用的施主杂质是()。

A.锡
B.硫
C.硼
D.磷


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30、单项选择题  thermal conductivity gauge的意思是()。

A.离子计
B.热传导真空计
C.放电型真空计
D.麦克劳式真空计


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