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1、问答题 X射线的本质是什么？是谁首先发现了X射线，谁揭示了X射线的本质？
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本题答案：X射线的本质是一种横电磁波；伦琴首先发现了X射线，劳厄
本题解析：试题答案X射线的本质是一种横电磁波；伦琴首先发现了X射线，劳厄揭示了X射线的本质。
2、问答题 你如何用学过的光谱来分析确定乙炔是否已经聚合成为聚乙炔？
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本题答案：可采用红外光谱测试，观察是否有共轭双键生成；可采用紫外
本题解析：试题答案可采用红外光谱测试，观察是否有共轭双键生成；可采用紫外光谱测定，以确定是否有共轭双键生成，以及一些共轭双键长度的信息。
3、单项选择题 由于入射电子波长的非单一性造成的像差称为（）
A、球差
B、像散
C、色差
D、背散
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本题答案：C
本题解析：暂无解析
4、名词解释 背散射电子
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本题答案：入射电子与固体作用后又离开固体的电子。
本题解析：试题答案入射电子与固体作用后又离开固体的电子。
5、问答题 产生X射线需具备什么条件？
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本题答案：实验证实：在高真空中，凡高速运动的电子碰到任何障碍物时
本题解析：试题答案实验证实：在高真空中，凡高速运动的电子碰到任何障碍物时，均能产生X射线，对于其他带电的基本粒子也有类似现象发生。
电子式X射线管中产生X射线的条件可归纳为：1，以某种方式得到一定量的自由电子；2，在高真空中，在高压电场的作用下迫使这些电子作定向高速运动；3，在电子运动路径上设障碍物以急剧改变电子的运动速度。
6、单项选择题 透射电子显微镜中可以消除的像差是（）。
A.球差；
B.像散；
C.色差。
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本题答案：B
本题解析：暂无解析
7、问答题 同一粉末相上背射区线条与透射区线条比较起来其θ较高还是较低？相应的d较大还是较小？既然多晶粉末的晶体取向是混乱的，为何有此必然的规律
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本题答案：其θ较高，相应的d较小，虽然多晶体的粉末取
本题解析：试题答案其θ较高，相应的d较小，虽然多晶体的粉末取向是混乱的，但是衍射倒易球与反射球的交线，倒易球半径由小到大，θ也由小到大，d是倒易球半径的倒数，所以θ较高，相应的d较小。
8、问答题 磁透镜的像差是怎样产生的？如何来消除和减少像差？
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本题答案：像差分为球差，像散，色差.球差是磁透镜中心区和边沿区对
本题解析：试题答案像差分为球差，像散，色差.球差是磁透镜中心区和边沿区对电子的折射能力不同引起的.增大透镜的激磁电流可减小球差.像散是由于电磁透镜的周向磁场不非旋转对称引起的.可以通过引入一强度和方位都可以调节的矫正磁场来进行补偿.色差是电子波的波长或能量发生一定幅度的改变而造成的.稳定加速电压和透镜电流可减小色差.
9、单项选择题 当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（）
A.Cu；
B.Fe；
C.Ni；
D.Mo。
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本题答案：C
本题解析：暂无解析
10、问答题 举例介绍STM和AFM在材料分析工作中的应用。
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本题答案：与SEM，TEM，FIM相比，STM具有结构简单.分辨
本题解析：试题答案与SEM，TEM，FIM相比，STM具有结构简单.分辨本领高等特点，可在真空.大气或液体环境下，在实空间内进行原位动态观察样品表面的原子组态，并可直接用于观察样品表面发生的物理或化学的动态过程及反应中原子的迁移过程等。STM除具有一定的横向分辨本领外，还具有极优异的纵向分辨本领，STM的横向分辨率达0.1nm，在与样品垂直的z方向，其分辨率高达0.01nm。由此可见，STM具有极优异的分辨本领，可有效的填补SEM，TEM，FIM的不足，而且，从仪器工作原理上看，STM对样品的尺寸形状没有任何限制，不破坏样品的表面结构。目前，STM已成功地用于单质金属.半导体等材料表面原子结构的直接观察。
扫描隧道显微镜不能测量绝缘体表面的形貌。1986年G.Binnig提出原子力显微镜（AFM）的概念，它不但可以测量绝缘体表面形貌，达到接近原子分辨，还可以测量表面原子间的力，测量表面的弹性.塑性.硬度.粘着力.摩擦力等性质。
11、单项选择题 晶面指数（111）与晶向指数（111）的关系是（）。
A.垂直；
B.平行；
C.不一定。
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本题答案：C
本题解析：暂无解析
12、问答题 某一粉末相上背射区线条与透射区线条比较起来，其θ较高抑或较低？相应的d较大还是较小？
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本题答案：背射区线条与透射区线条比较θ较高，d较小。
本题解析：试题答案背射区线条与透射区线条比较θ较高，d较小。产生衍射线必须符合布拉格方程2dsinθ=λ，对于背射区属于2θ高角度区，根据d=λ/2sinθ，θ越大d越小。
13、名词解释 暗场像
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本题答案：用物镜光阑挡住透射束及其余衍射束，而只让一束强衍射束通
本题解析：试题答案用物镜光阑挡住透射束及其余衍射束，而只让一束强衍射束通过光阑参与成像的方法，称为暗场成像，所得图象为暗场像。
14、问答题 什么叫“相干散射”、“短波限”？
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本题答案：相干散射，物质中的电子在X射线电场的作用下，产生强迫振
本题解析：试题答案相干散射，物质中的电子在X射线电场的作用下，产生强迫振动。这样每个电子在各方向产生与入射X射线同频率的电磁波。新的散射波之间发生的干涉现象称为相干散射。
短波限，连续X射线谱在短波方向有一个波长极限，称为短波限λ0.它是由光子一次碰撞就耗尽能量所产生的X射线。
15、问答题 当X射线在原子例上发射时，相邻原子散射线在某个方向上的波程差若不为波长的整数倍，则此方向上必然不存在放射，为什么？
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本题答案：因为X射线在原子上发射的强度非常弱，需通过波程差为波长
本题解析：试题答案因为X射线在原子上发射的强度非常弱，需通过波程差为波长的整数倍而产生干涉加强后才可能有反射线存在，而干涉加强的条件之一必须存在波程差，且波程差需等于其波长的整数倍，不为波长的整数倍方向上必然不存在反射。
16、名词解释 蓝移
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本题答案：当有机化合物的结构发生变化时，其吸收带的最大吸收峰波长
本题解析：试题答案当有机化合物的结构发生变化时，其吸收带的最大吸收峰波长或位置（最大）向短波方向移动，这种现象称为蓝移（或紫移，或“向蓝”）。
17、单项选择题 选区光栏在TEM镜筒中的位置是（）。
A.物镜的物平面；
B.物镜的像平面
C.物镜的背焦面；
D.物镜的前焦面。
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本题答案：B
本题解析：暂无解析
18、问答题 叙述用X射线仪检测的误差来源。
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本题答案：用X射线仪检测时，误差是不可避免的，但是应使误差对结果
本题解析：试题答案用X射线仪检测时，误差是不可避免的，但是应使误差对结果的影响最小化。若要获得精确的点阵常数，首先是获得精确的X射线衍射线条的θ角。不同的衍射方法，θ角的误差来源不同。消除误差的方法也不同。
误差可以分为系统误差和偶然误差。系统误差是由试验条件所决定的，随某一函数有规则的变化。偶然误差是由于测量者的主观判断错误以及测量仪表的偶然波动或干扰引起的，没有固定的变化规律。德拜照相法的系统误差的主要来源有：（1）相机半径误差；（2）底片收缩（或伸长）误差；（3）试样偏心误差；（4）试样对X射线的吸收误差；（5）X射线折射误差。
用衍射议法精确测定点阵常数，衍射角的θ角系统误差来源有：未能精确调整仪器；计数器转动与试样转动比；（2：1）驱动失调；θ角00位置误差；试样放置误差；试样放置误差，试样表面与衍射仪轴不重合；平板试样误差，因为平面不能代替聚焦圆曲面；；透射误差；入射X射线线轴向发散度误差；仪器刻度误差等。
用衍射议法时，影响实验精度和准确度的一个重要问题是合理地选择实验参数。其中对实验结果影响较大的狭缝光阑、时间常数和扫描速度等。
19、问答题 扫描电镜的成像原理与透射电镜有何不同?
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本题答案：扫描电子显微镜（Scanning electron m
本题解析：试题答案扫描电子显微镜（Scanning electron microscope--SEM）是以类似电视摄影显像的方式，通过细聚焦电子束在样品表面扫描激发出的各种物理信号来调制成像的显微分析技术。SEM成像原理与TEM完全不同，不用电磁透镜放大成像
20、单项选择题 在正方晶系中，晶面指数{100}包括几个晶面（）。
A.6；
B.4；
C.2
D.1；。
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本题答案：B
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21、问答题 扫描电镜的分辨率受哪些因素影响？用不同的信号成像时，其分辨率有何不同？所谓扫描电镜的分辨率是指用何种信号成像时的分辨率？
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本题答案：影响因素：电子束束斑大小，检测信号类型，检测部位原子序
本题解析：试题答案影响因素：电子束束斑大小，检测信号类型，检测部位原子序数.SE和HE信号的分辨率最高，BE其次，X射线的最低.扫描电镜的分辨率是指用SE和HE信号成像时的分辨率.
22、问答题 红外测试样品需尽可能把游离水驱除干净。含游离水样品的红外谱图中在哪两个波数范围会出现吸收峰？
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本题答案：把样品放入110℃烘箱中干燥至少2小时，并抽真空；含游
本题解析：试题答案把样品放入110℃烘箱中干燥至少2小时，并抽真空；含游离水样品的红外谱图在3000-3800cm-11590-1690cm-1存在吸收峰。
23、名词解释 结构因子
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本题答案：定量表征原子排布以及原子种类对衍射强度影响规律的参数。
本题解析：试题答案定量表征原子排布以及原子种类对衍射强度影响规律的参数。
24、问答题 试从入射光束、样品形状、成相原理、衍射线记录、衍射花样、样品吸收与衍射强度（公式）、衍射装备及应用等方面比较衍射仪法与德拜的异同点。
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本题答案：入射X射线的光束：都为单色的特征X射线，都有光栏调节光
本题解析：试题答案入射X射线的光束：都为单色的特征X射线，都有光栏调节光束。
不同：衍射仪法：采用一定发散度的入射线，且聚焦半径随2θ变化，德拜法：通过进光管限制入射线的发散度。试样形状：衍射仪法为平板状，德拜法为细圆柱状。试样吸收：衍射仪法吸收时间短，德拜法吸收时间长，约为10~20h。记录方式：衍射仪法采用计数率仪作图，与计算机连接可实现自动记录和衅谱处理，德拜法采用环带形底片成相，而且它们的强度（I）对（2θ）的分布（I-2θ曲线）也不同，衍射仪图谱中强度或直接测量精度高，且可获得绝对强度；衍射装备：衍射仪结构复杂成本高，德拜法结构简单造价低；应用：衍射仪与计算机连接，通过许多软件可获得各种信息而得到广泛应用。
25、问答题 如何用红外光谱跟踪二氧化硅湿凝胶变为干凝胶的过程？
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本题答案：可采用在线跟踪测试，分别测试不同时间样品的红外谱图；其
本题解析：试题答案可采用在线跟踪测试，分别测试不同时间样品的红外谱图；其次，若变化过程很慢，可采用不同时间取样来测试，综合图谱以获得跟踪结果。
26、问答题 什么是分辨率，影响透射电子显微镜分辨率的因素是哪些？
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本题答案：分辨率：两个物点通过透镜成像，在像平面上形成两个爱里斑
本题解析：试题答案分辨率：两个物点通过透镜成像，在像平面上形成两个爱里斑，如果两个物点相距较远时，两个Airy斑也各自分开，当两物点逐渐靠近时，两个Airy斑也相互靠近，直至发生部分重叠。根据LoadReyleigh建议分辨两个Airy斑的判据：当两个Airy斑的中心间距等于Airy斑半径时，此时两个Airy斑叠加，在强度曲线上，两个最强峰之间的峰谷强度差为19%，人的肉眼仍能分辨出是两物点的像。两个Airy斑再相互靠近，人的肉眼就不能分辨出是两物点的像。通常两Airy斑中心间距等于Airy斑半径时，物平面相应的两物点间距成凸镜能分辨的最小间距即分辨率。
影响透射电镜分辨率的因素主要有：衍射效应和电镜的像差（球差、像散、色差）等。
27、问答题 测角仪在采集衍射图时，如果试样表面转到与入射线成300角，则计数管与入射线所成角度为多少？能产生衍射的晶面，与试样的自由表面是何种几何关系？
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本题答案：当试样表面与入射X射线束成30°角时，计数管与入射X射线束的
本题解析：试题答案当试样表面与入射X射线束成30°角时，计数管与入射X射线束的夹角是600。能产生衍射的晶面与试样的自由表面平行。
28、单项选择题 透射电镜中物镜的作用是（）
A、电子源
B、会聚电子束
C、形成第一副高分辨率电子显微图像
D、进一步放大物镜像
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本题答案：C
本题解析：暂无解析
29、问答题 粉末样品颗粒过大或过小对德拜花样影响如何？为什么？板状多晶体样品晶粒过大或过小对衍射峰形影响又如何？
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本题答案：粉末样品颗粒过大会使德拜花样不连续，或过小，德拜宽度增
本题解析：试题答案粉末样品颗粒过大会使德拜花样不连续，或过小，德拜宽度增大，不利于分析工作的进行。因为当粉末颗粒过大（大于10-3cm）时，参加衍射的晶粒数减少，会使衍射线条不连续；不过粉末颗粒过细（小于10-5cm）时，会使衍射线条变宽，这些都不利于分析工作。
多晶体的块状试样，如果晶粒足够细将得到与粉末试样相似的结果，即衍射峰宽化。但晶粒粗大时参与反射的晶面数量有限，所以发生反射的概率变小，这样会使得某些衍射峰强度变小或不出现。
30、问答题 简述连续X射线产生实质。
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本题答案：假设管电流为10mA，则每秒到达阳极靶上的电子数可达6
本题解析：试题答案假设管电流为10mA，则每秒到达阳极靶上的电子数可达6.25x10（16）个，如此之多的电子到达靶上的时间和条件不会相同，并且绝大多数达到靶上的电子要经过多次碰撞，逐步把能量释放到零，同时产生一系列能量为hv（i）的光子序列，这样就形成了连续X射线。
31、问答题 试简要总结由分析简单点阵到复杂点阵衍射强度的整个思路和要点。
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本题答案：在进行晶体结构分析时，重要的是把握两类信息，第一类是衍
本题解析：试题答案在进行晶体结构分析时，重要的是把握两类信息，第一类是衍射方向，即θ角，它在λ一定的情况下取决于晶面间距d。衍射方向反映了晶胞的大小和形状因素，可以利用布拉格方程来描述。第二类为衍射强度，它反映的是原子种类及其在晶胞中的位置。
简单点阵只由一种原子组成，每个晶胞只有一个原子，它分布在晶胞的顶角上，单位晶胞的散射强度相当于一个原子的散射强度。复杂点阵晶胞中含有n个相同或不同种类的原子，它们除占据单胞的顶角外，还可能出现在体心、面心或其他位置。
复杂点阵的衍射波振幅应为单胞中各原子的散射振幅的合成。由于衍射线的相互干涉，某些方向的强度将会加强，而某些方向的强度将会减弱甚至消失。这样就推导出复杂点阵的衍射规律——称为系统消光（或结构消光）。
32、名词解释 二次电子
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本题答案：二次电子是指被入射电子轰击出来的核外电子。二次电子来自
本题解析：试题答案二次电子是指被入射电子轰击出来的核外电子。二次电子来自表面50-100Å的区域，能量为0-50eV。它对试样表面状态非常敏感，能有效地显示试样表面的微观形貌。
33、问答题 如何操作透射电子显微镜使其从成像方式转为衍射方式
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本题答案：透射电子显微镜中的成像操作就是把中间镜的物平面和物镜的
本题解析：试题答案透射电子显微镜中的成像操作就是把中间镜的物平面和物镜的像平面重合，这时只要把中间镜的物平面和物镜的背焦面重合，则在荧光屏上得到一幅电子衍射花样，成像方式就转为衍射方式了。
34、问答题 若只含碳氢两种元素的一种不饱和有机物有三个双键，如何用一种光谱来确定其双键可能的排列类型？
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本题答案：三个双键共轭、两个共轭和三个双键孤立三种状况，其紫外光
本题解析：试题答案三个双键共轭、两个共轭和三个双键孤立三种状况，其紫外光谱吸收蜂分别在177nm，210-230nm，260nm，由于三类物质紫外吸收峰存在很大差别，容易确定其实际的双键排列类型。
35、问答题 什么是双光束衍射？电子衍衬分析时，为什么要求在近似双光束条件下进行？
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本题答案：双光束衍射：倾转样品，使晶体中只有一个晶面满足Bragg条件
本题解析：试题答案双光束衍射：倾转样品，使晶体中只有一个晶面满足Bragg条件，从而产生衍射，其它晶面均远离Bragg位置，衍射花样中几乎只存在大的透射斑点和一个强衍射斑点。原因：在近似双光束条件下，产生强衍射，有利于对样品的分析
36、单项选择题 电子衍射成像时是将（）。
A.中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合；
B.中间镜的物平面与与物镜的像平面重合；
C.关闭中间镜；
D.关闭物镜。
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本题答案：A
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37、问答题 Ⅹ射线具有波粒二象性，其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中？
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本题答案：波动性主要表现为以一定的频率和波长在空间传播，反映了物
本题解析：试题答案波动性主要表现为以一定的频率和波长在空间传播，反映了物质运动的连续性；微粒性主要表现为以光子形式辐射和吸收时具有一定的质量，能量和动量，反映了物质运动的分立性。
38、单项选择题 为了减小物镜的球差，往往在物镜的背焦面上安放一个（）
A、第二聚光镜光阑
B、物镜光阑
C、选区光阑
D、索拉光阑
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本题答案：B
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39、名词解释 点分辨率与晶格分辨率
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本题答案：点分辨率是电镜能够分辨的两个物点间的最小间距；晶格分辨率是能
本题解析：试题答案点分辨率是电镜能够分辨的两个物点间的最小间距；晶格分辨率是能够分辨的具有最小面间距的晶格像的晶面间距。
40、单项选择题 衍射仪的测角仪在工作时，如试样表面转到与入射线成30度角时，计数管与入射线成多少度角？（）
A.30度；
B.60度；
C.90度。
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本题答案：B
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41、问答题 样品台的结构与功能如何？它应满足哪些要求？
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本题答案：样品台的作用是承载样品，并使样品能作平移、倾斜、旋转，
本题解析：试题答案样品台的作用是承载样品，并使样品能作平移、倾斜、旋转，以选择感兴趣的样品区域或位向进行观察分析。透射电镜的样品台是放置在物镜的上下极靴之间，由于这里的空间很小，所以透射电镜的样品台很小，通常是直径3mm的薄片。
对样品台的要求非常严格。首先必须使样品台牢固地夹持在样品座中并保持良好的热，电接触，减小因电子散射引起的热或电荷堆积而产生样品的损伤或图像漂移。平移是任何样品的最基本的动作，通常在2个相互垂直方向上样品平移最大值为±1mm，以确保样品上大部分区域都能观察到，样品平移机构要有足够的机械密度，无效行程应尽可能小。总而言之，在照相暴光期间样品图像漂移量应相应情况下的显微镜的分辨率。
42、名词解释 有效放大倍数
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本题答案：把显微镜最大分辨率放大到人眼的分辨本领（0.2mm），
本题解析：试题答案把显微镜最大分辨率放大到人眼的分辨本领（0.2mm），让人眼能分辨的放大倍数，即眼睛分辨率/显微镜分辨率。
43、单项选择题 波谱仪与能谱仪相比，能谱仪最大的优点是（）。
A.快速高效；
B.精度高；
C.没有机械传动部件；
D.价格便宜。
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本题答案：A
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44、单项选择题 中心暗场像的成像操作方法是（）。
A.以物镜光栏套住透射斑；
B.以物镜光栏套住衍射斑；
C.将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。
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本题答案：C
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45、单项选择题 对于简单点阵结构的晶体，系统消光的条件是（）
A、不存在系统消光
B、h+k为奇数
C、h+k+l为奇数
D、h、k、l为异性数
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本题答案：A
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46、单项选择题 洛伦兹因子中，第二几何因子反映的是（）
A、晶粒大小对衍射强度的影响
B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响
C、衍射线位置对衍射强度的影响
D、试样形状对衍射强度的影响
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本题答案：B
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47、问答题 简述X射线光电子能谱的分析特点。
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本题答案：X射线光电子能谱是以X射线光子激发样品材料产生光电子来
本题解析：试题答案X射线光电子能谱是以X射线光子激发样品材料产生光电子来分析材料成分和原子价态等。
它的分析特点有：
1.分析的成分是材料10nm以内的表层成分；
2.可以通过对化学位移的分析，给出所含元素的化学结构；
3.是一种无损分析方法（样品不被X射线分解）；
4.是一种超微量分析技术（分析时所需样品量少）；
5.是一种痕量分析方法（绝对灵敏度高）。但X射线光电子能谱分析相对灵敏度不高，只能检测出样品中含量在0.1%以上的组分。
48、单项选择题 在待测试样中掺入一定含量的标准物质，把试样中待测相的某根衍射线条强度与掺入试样中含量已知的标准物质的某根衍射线条相比较，从而获得待测相含量的定量分析方法称为（）
A、外标法
B、内标法
C、直接比较法
D、K值法
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本题答案：B
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49、问答题 薄膜样品的基本要求是什么？具体工艺过程如何？双喷减薄与离子减薄各适用于制备什么样品？
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本题答案：样品的基本要求：
1）薄膜样品的组织结构必须
本题解析：试题答案样品的基本要求：
1）薄膜样品的组织结构必须和大块样品相同，在制备过程中，组织结构不变化；
2）样品相对于电子束必须有足够的透明度
3）薄膜样品应有一定强度和刚度，在制备、夹持和操作过程中不会引起变形和损坏；
4）在样品制备过程中不允许表面产生氧化和腐蚀。
样品制备的工艺过程
1）切薄片样品
2）预减薄
3）终减薄离子减薄：
1）不导电的陶瓷样品
2）要求质量高的金属样品
3）不宜双喷电解的金属与合金样品双喷电解减薄：
1）不易于腐蚀的裂纹端试样
2）非粉末冶金试样
3）组织中各相电解性能相差不大的材料
4）不易于脆断、不能清洗的试样
50、问答题 晶格条纹像和结构像有何异同点？二者成像条件有何不同？
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本题答案：晶格像是以透射波和同晶带的衍射波干涉生成晶格条纹，晶格
本题解析：试题答案晶格像是以透射波和同晶带的衍射波干涉生成晶格条纹，晶格像广泛用在晶格缺陷、界面、表面和相变等领域的研究上，期刊杂志上发表的大多数高分辨电镜图像是二维晶格像。
结构像是透射束加多个衍射束在平行晶带轴条件下成像，要满足谢尔策欠焦。结构像最大特点是像衬度可以直接观察到单胞中原子及其排列的情况，或与模拟像进行比较可以确定衬度与样品原子及排列的对应关系，因此结构像可以在原子尺度上定量研究晶体结构和缺陷结构。
51、问答题 用单色X射线照射圆柱多晶体试样，其衍射线在空间将形成什么图案？为摄取德拜图相，应当采用什么样的底片去记录？
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本题答案：用单色X射线照射圆柱多晶体试样，其衍射线在空间将形成一
本题解析：试题答案用单色X射线照射圆柱多晶体试样，其衍射线在空间将形成一组锥心角不等的圆锥组成的图案；为摄取德拜图相，应当采用带状的照相底片去记录。
52、名词解释 消光距离ξg
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本题答案：晶体内透射波与衍射波动力学相互作用，使其强度在晶体深度
本题解析：试题答案晶体内透射波与衍射波动力学相互作用，使其强度在晶体深度方向上发生周期性振荡，振荡的深度周期叫消光距离。
53、问答题 物相定性分析的原理是什么？对食盐进行化学分析与物相定性分析，所得信息有何不同？
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本题答案：物相定性分析的原理：X射线在某种晶体上的衍射必然反映出
本题解析：试题答案物相定性分析的原理：X射线在某种晶体上的衍射必然反映出带有晶体特征的特定的衍射花样（衍射位置θ、衍射强度I），而没有两种结晶物质会给出完全相同的衍射花样，所以我们才能根据衍射花样与晶体结构一一对应的关系，来确定某一物相。
对食盐进行化学分析，只可得出组成物质的元素种类（Na，Cl等）及其含量，却不能说明其存在状态，亦即不能说明其是何种晶体结构，同种元素虽然成分不发生变化，但可以不同晶体状态存在，对化合物更是如此。定性分析的任务就是鉴别待测样由哪些物相所组成。
54、名词解释 电子透镜
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本题答案：能使电子束聚焦的装置。
本题解析：试题答案能使电子束聚焦的装置。
55、问答题 简要说明多晶（纳米晶体）、单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理。
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本题答案：单晶花样是一个零层二维倒易截面，其倒易点规则排列，具有
本题解析：试题答案单晶花样是一个零层二维倒易截面，其倒易点规则排列，具有明显对称性，且处于二维网络的格点上。因此表达花样对称性的基本单元为平行四边形。单晶电子衍射花样就是（uvw）*0零层倒易截面的放大像。多晶面的衍射花样为：各衍射圆锥与垂直入射束方向的荧光屏或照相底片的相交线，为一系列同心圆环。每一族衍射晶面对应的倒易点分布集合而成一半径为1/d的倒易球面，与Ewald球的相惯线为园环，因此，样品各晶粒{hkl}晶面族晶面的衍射线轨迹形成以入射电子束为轴、2θ为半锥角的衍射圆锥，不同晶面族衍射圆锥2θ不同，但各衍射圆锥共顶、共轴。非晶的衍射花样为一个圆斑。
56、问答题 原子荧光光谱是怎么产生的？有几种类型？
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本题答案：气态自由原子吸收光源的特征辐射后，原子的外层电子跃迁到
本题解析：试题答案气态自由原子吸收光源的特征辐射后，原子的外层电子跃迁到较高能级，然后又跃迁返回基态或较低能级，同时发射出与原激发辐射波长相同或不同的辐射即为原子荧光。原子荧光属光致发光，也是二次发光。当激发光源停止照射后，再发射过程立即停止。原子荧光可分为共振荧光、非共振荧光与敏化荧光等三种类型
57、问答题 在一块冷轧钢板中可能存在哪几种内应力？它的衍射谱有什么特点？按本章介绍的方法可测出哪一类应力？
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本题答案：钢板在冷轧过程中，常常产生残余应力。残余应力是材料及其
本题解析：试题答案钢板在冷轧过程中，常常产生残余应力。残余应力是材料及其制品内部存在的一种内应力，是指产生应力的各种因素不存在时，由于不均匀的塑性变形和不均匀的相变的影响，在物体内部依然存在并自身保持平衡的应力。通常残余应力可分为宏观应力、微观应力和点阵畸变应力三种，分别称为第一类应力、第二类应力和第三类应力。
其衍射谱的特点：
①X射线法测第一类应力，θ角发生变化，从而使衍射线位移。测定衍射线位移，可求出宏观残余应力。
②X射线法测第二类应力，衍射谱线变宽，根据衍射线形的变化，就能测定微观应力。
③X射线法测第三类应力，这导致衍射线强度降低，根据衍射线的强度下降，可以测定第三类应力。
本章详细介绍了X射线法测残余应力，X射线照射的面积可以 小到1--2mm的直径，因此，它可以测定小区域的局部应力，由于X射线穿透能力的限制，它所能记录的是表面10—30um深度的信息，此时垂直于表面的应力分量近似为0，所以它所能处理的是近似的二维应力；另外，对复相合金可以分别测定各相中的应力状态。不过X射线法的测量精度受组织因素影响较大，如晶粒粗大、织构等因素等能使测量误差增大几倍。按本章介绍的方法可测出第一类应力——宏观应力。
58、名词解释 系统消光
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本题答案：因原子在晶体中位置不同或原子种类不同而引起的某些方向上
本题解析：试题答案因原子在晶体中位置不同或原子种类不同而引起的某些方向上衍射线消失的现象。
59、单项选择题 由于透镜磁场非旋转对称而引起的像差称为（）
A、球差
B、像散
C、色差
D、背散
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本题答案：B
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60、单项选择题 不利于提高德拜相机的分辨率的是（）。
A.采用大的相机半径；
B.采用X射线较长的波长；
C.选用大的衍射角；
D.选用面间距较大的衍射面。
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本题答案：D
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61、问答题 照明系统的作用是什么？它应满足什么要求？
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本题答案：照明系统由电子枪、聚光镜和相应的平移对中、倾斜调节装置
本题解析：试题答案照明系统由电子枪、聚光镜和相应的平移对中、倾斜调节装置组成。它的作用是提供一束亮度高、照明孔经角小、平行度好、束流稳定的照明源。它应满足明场和暗场成像需求。
62、名词解释 相机常数
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本题答案：定义K=Lλ，称相机常数，其中L为镜筒长
本题解析：试题答案定义K=Lλ，称相机常数，其中L为镜筒长度，λ为电子波长。1、明场像：让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法，叫明场成像，所得到的像叫明场像。
63、单项选择题 能帮助消除180º不唯一性的复杂衍射花样是（）。
A.高阶劳厄斑；
B.超结构斑点；
C.二次衍射斑；
D.孪晶斑点
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本题答案：A
本题解析：暂无解析
64、单项选择题 透射电镜中聚光镜的作用是（）
A、电子源
B、会聚电子束
C、形成第一副高分辨率电子显微图像
D、进一步放大物镜像
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本题答案：B
本题解析：暂无解析
65、问答题 多重性因子的物理意义是什么？某立方晶系晶体，其{100}的多重性因子是多少？如该晶体转变为四方晶系，这个晶面族的多重性因子会发生什么变化？为什么？
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本题答案：多重性因子的物理意义是等同晶面个数对衍射强度的影响因数
本题解析：试题答案多重性因子的物理意义是等同晶面个数对衍射强度的影响因数叫作多重性因子。某立方晶系晶体，其{100}的多重性因子是6？如该晶体转变为四方晶系多重性因子是4；这个晶面族的多重性因子会随对称性不同而改变。
66、问答题 含苯环的红外谱图中，吸收峰可能出现在哪4个波数范围？
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本题答案：3000-3100cm-1；1660-2000cm-1
本题解析：试题答案3000-3100cm-1；1660-2000cm-1；1450-1600cm-1；650-900cm-1
67、问答题 为什么荧光光谱比吸收光谱更灵敏？
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本题答案：荧光激发态停留时间短、返回速度快的途径，发生的几率大，
本题解析：试题答案荧光激发态停留时间短、返回速度快的途径，发生的几率大，发光强度相对大；另外，荧光光谱强度与激发光源强度成正比。
68、问答题 子束入射固体样品表面会激发哪些信号？它们有哪些特点和用途？
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本题答案：主要有六种：
1）背散射电子：能量高；来自样
本题解析：试题答案主要有六种：
1）背散射电子：能量高；来自样品表面几百nm深度范围；其产额随原子序数增大而增多.用作形貌分析、成分分析以及结构分析。
2）二次电子：能量较低；来自表层5—10nm深度范围；对样品表面化状态十分敏感。不能进行成分分析.主要用于分析样品表面形貌。
3）吸收电子：其衬度恰好和SE或BE信号调制图像衬度相反；与背散射电子的衬度互补。吸收电子能产生原子序数衬度，即可用来进行定性的微区成分分析.
4）透射电子：透射电子信号由微区的厚度、成分和晶体结构决定.可进行微区成分分析。
5）特征X射线：用特征值进行成分分析，来自样品较深的区域
6）俄歇电子：各元素的俄歇电子能量值很低；来自样品表面1—2nm范围。它适合做表面分析。
69、问答题 为什么紫外光谱定量分析的准确度比红外光谱高很多？
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本题答案：因为紫外光谱的能级差比红外光谱大很多，好仪器外界因素对
本题解析：试题答案因为紫外光谱的能级差比红外光谱大很多，好仪器外界因素对测试的干扰相对很小。
70、单项选择题 德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（）。
A.正装法；
B.反装法；
C.偏装法；
D.A+B。
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本题答案：C
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71、问答题 什么是衍射衬度？它与质厚衬度有什么区别？
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本题答案：由样品各处衍射束强度的差异形成的衬度称为衍射衬度。或是
本题解析：试题答案由样品各处衍射束强度的差异形成的衬度称为衍射衬度。或是由样品各处满足布拉格条件程度的差异造成的。对于晶体薄膜样品而言，厚度大致均匀，原子序数也无差别，因此，不可能利用质厚衬度来获得图象反差，这样，晶体薄膜样品成像是利用衍射衬度成像，简称“衍射衬度”非晶（复型）样品电子显微图像衬度是由于样品不同微区间存在原子序数或厚度的差异而形成的，即质厚衬度，质厚衬度是建立在非晶样品中原子对电子的散射和透射电子显微镜小孔径成像的基础上的。
72、单项选择题 最常用的X射线衍射方法是（）。
A.劳厄法；
B.粉末多法；
C.周转晶体法；
D.德拜法。
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本题答案：B
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73、问答题 简述特征X射线产生的物理机制。
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本题答案：原子系统中的电子遵从刨利不相容原理不连续的分布在K、L
本题解析：试题答案原子系统中的电子遵从刨利不相容原理不连续的分布在K、L、M、N等不同能级的壳层上，而且按能量最低原理从里到外逐层填充。当外来的高速度的粒子动能足够大时，可以将壳层中某个电子击出去，于是在原来的位置出现空位，原子系统的能量升高，处于激发态，这时原子系统就要向低能态转化，即向低能级上的空位跃迁，在跃迁时会有一能量产生，这一能量以光子的形式辐射出来，即特征X射线。
74、问答题 电子跃迁有哪几种类型？哪些类型的跃迁能在紫外及可见区吸收光谱中反映出来？
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本题答案：电子跃迁主要有四种跃迁所需能量Δ&Epsi
本题解析：试题答案电子跃迁主要有四种跃迁所需能量ΔΕ大小顺序为：n→π＊<π→π＊
75、问答题 什么是双束近似单束成象，为什么解释衍衬象有时还要拍摄相应衍射花样？
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本题答案：双束近似是为了满足运动学原理，单束成像是为了获得确定操
本题解析：试题答案双束近似是为了满足运动学原理，单束成像是为了获得确定操作反射下的衍射衬度像。拍摄相应的衍射花样是为了准确地解释衍射衬度像。
76、名词解释 质厚衬度
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本题答案：样品上的不同微区无论是质量还是厚度的差别，均可引起相应
本题解析：试题答案样品上的不同微区无论是质量还是厚度的差别，均可引起相应区域透射电子强度的改变，从而在图像上形成亮暗不同的区域，这一现象称为质厚衬度。
77、问答题 什么叫干涉面？当波长为λ的X射线在晶体上发生衍射时，相邻两个（hkl）晶面衍射线的波程差是多少？相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少？
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本题答案：晶面间距为d’/n、干涉指数为nh、nk、
本题解析：试题答案晶面间距为d’/n、干涉指数为nh、nk、nl的假想晶面称为干涉面。当波长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射，相邻两个（hkl）晶面的波程差是nλ，相邻两个（HKL）晶面的波程差是λ。
78、名词解释 偏离矢量s
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本题答案：倒易杆中心至与爱瓦尔德球面交截点的距离可用矢量s表示，
本题解析：试题答案倒易杆中心至与爱瓦尔德球面交截点的距离可用矢量s表示，s就是偏离矢量。
79、单项选择题 测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是（）。
A.外标法；
B.内标法；
C.直接比较法；
D.K值法。
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本题答案：C
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80、单项选择题 透射电镜中电子枪的作用是（）
A、电子源
B、会聚电子束
C、形成第一副高分辨率电子显微图像
D、进一步放大物镜像
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本题答案：A
本题解析：暂无解析
81、问答题 红外谱图在2100-2400cm-1有吸收峰，则可能含有几种什么基团？
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本题答案：碳碳或碳氮三键和各种累积双键、B-H和Si-H等。本题解析：试题答案碳碳或碳氮三键和各种累积双键、B-H和Si-H等。
82、问答题 如何用电镜分析螺位错b＝a/2（101）
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本题答案：根据螺位错线周围原子位移特征，可以确定缺陷位移矢量的方
本题解析：试题答案根据螺位错线周围原子位移特征，可以确定缺陷位移矢量的方向和布氏矢量b的方向一致。首先对样品进行标定，根据g·b=0位错线不可见判据，确定位错线的布氏矢量。可以采用两个操作反射的g1与g2，由两个方程联立，即g1×g2=b求得位错线的布氏矢量b。
83、名词解释 伸缩振动
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本题答案：键长变化而键角不变的振动，可分为对称伸缩振动和反对称伸
本题解析：试题答案键长变化而键角不变的振动，可分为对称伸缩振动和反对称伸缩振动。
84、单项选择题 关于相机分辨率的影响 因素叙述错误的是（）
A、相机半径越大，分辨率越高
B、θ角越大，分辨率越高
C、X射线波长越小，分辨率越高
D、晶面间距越大，分辨率越低
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本题答案：C
本题解析：暂无解析
85、问答题 说明透射电子显微镜成像系统的主要构成、安装位置、特点及其作用。
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本题答案：主要由物镜、物镜光栏、选区光栏、中间镜和投影镜组成.<
本题解析：试题答案主要由物镜、物镜光栏、选区光栏、中间镜和投影镜组成.
1）物镜：强励磁短焦透镜（f=1-3mm），放大倍数100—300倍。作用：形成第一幅放大像
2）物镜光栏：装在物镜背焦面，直径20—120um，无磁金属制成。作用：A.提高像衬度，B.减小孔经角，从而减小像差。C.进行暗场成像
3）选区光栏：装在物镜像平面上，直径20-400um，作用：对样品进行微区衍射分析。
4）中间镜：弱压短透镜，长焦，放大倍数可调节0—20倍作用A.控制电镜总放大倍数。B.成像/衍射模式选择。
5）投影镜：短焦、强磁透镜，进一步放大中间镜的像。投影镜内孔径较小，使电子束进入投影镜孔径角很小。小孔径角有两个特点：A.景深大，改变中间镜放大倍数，使总倍数变化大，也不影响图象清晰度。焦深长，放宽对荧光屏和底片平面严格位置要求
86、问答题 何谓衬度？TEM能产生哪几种衬度象，是怎样产生的，都有何用途
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本题答案：衬度是指图象上不同区域间明暗程度的差别。TEM能产生质
本题解析：试题答案衬度是指图象上不同区域间明暗程度的差别。TEM能产生质厚衬度象、衍射衬度象及相位衬度象。质厚衬度是由于样品不同微区间存在的原子序数或厚度的差异而形成的，适用于对复型膜试样电子图象作出解释。晶体试样在进行电镜观察时，由于各处晶体取向不同和（或）晶体结构不同，满足布拉格条件的程度不同，使得对应试样下表面处有不同的衍射效果，从而在下表面形成一个随位置而异的衍射振幅分布，这样形成的衬度，称为衍射衬度。衍衬技术被广泛应用于研究晶体缺陷。如果透射束与衍射束可以重新组合，从而保持它们的振幅和位相，则可直接得到产生衍射的那些晶面的晶格象，或者一个个原子的晶体结构象。这就是相位衬度象，仅适于很薄的晶体试样（≈100Å）。
87、问答题 为什么会出现吸收限？K吸收限为什么只有一个而L吸收限有三个？当激发K系荧光Ⅹ射线时，能否伴生L系？当L系激发时能否伴生K系？
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本题答案：一束X射线通过物体后，其强度将被衰减，它是被散射和吸收
本题解析：试题答案一束X射线通过物体后，其强度将被衰减，它是被散射和吸收的结果。并且吸收是造成强度衰减的主要原因。物质对X射线的吸收，是指X射线通过物质对光子的能量变成了其他形成的能量。X射线通过物质时产生的光电效应和俄歇效应，使入射X射线强度被衰减，是物质对X射线的真吸收过程。光电效应是指物质在光子的作用下发出电子的物理过程。
因为L层有三个亚层，每个亚层的能量不同，所以有三个吸收限，而K只是一层，所以只有一个吸收限。
激发K系光电效应时，入射光子的能量要等于或大于将K电子从K层移到无穷远时所做的功Wk。从X射线被物质吸收的角度称入K为吸收限。当激发K系荧光X射线时，能伴生L系，因为L系跃迁到K系自身产生空位，可使外层电子迁入，而L系激发时不能伴生K系。
88、问答题 物相定量分析的原理是什么？试述用K值法进行物相定量分析的过程。
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本题答案：根据X射线衍射强度公式，某一物相的相对含量的增加，其衍
本题解析：试题答案根据X射线衍射强度公式，某一物相的相对含量的增加，其衍射线的强度亦随之增加，所以通过衍射线强度的数值可以确定对应物相的相对含量。由于各个物相对X射线的吸收影响不同，X射线衍射强度与该物相的相对含量之间不成线性比例关系，必须加以修正。
这是内标法的一种，是事先在待测样品中加入纯元素，然后测出定标曲线的斜率即K值。当要进行这类待测材料衍射分析时，已知K值和标准物相质量分数ωs，只要测出a相强度Ia与标准物相的强度Is的比值Ia/Is就可以求出a相的质量分数ωa。
89、问答题 扫描电镜的分辨率受哪些因素影响？用不同的信号成像时，其分辨率有何不同？所谓扫描电镜的分辨率是指用何种信号成像时的分辨率？
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本题答案：影响因素：电子束束斑大小，检测信号类型，检测部位原子序
本题解析：试题答案影响因素：电子束束斑大小，检测信号类型，检测部位原子序数.SE和HE信号的分辨率最高，BE其次，X射线的最低.扫描电镜的分辨率是指用SE和HE信号成像时的分辨率.
90、问答题 成像系统的主要构成及其特点是什么？
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本题答案：成像系统主要是由物镜、中间镜和投影镜组成。
本题解析：试题答案成像系统主要是由物镜、中间镜和投影镜组成。
（1）物镜：物镜是一个强激磁短焦距的透镜（f＝1到3mm），它的放大倍数较高，一般为100到300倍。目前，高质量的物镜其分辨率可达0.1nnm左右。
（2）中间镜：中间镜是一个弱激磁的长焦距变倍透镜，可在0到20倍范围调节。当放大倍数大于1时，用来进一步放大物镜像；当放大倍数小于1时，用来缩小物镜像。
（3）投影镜：投影镜的作用是把经中间镜放大（或缩小）的像（或电子衍射花样）进一步放大，并投影到荧光屏上，它和物镜一样，是一个短焦距的强激磁透镜。
91、问答题 试述衍射仪在入射光束、试样形状、试样吸收，以及衍射线记录等方面与德拜法有何异同？测角仪在工作时，如试样表面转到与入射线成30°角时，计数管与入射线成多少度角？
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本题答案：衍射仪记录花样与德拜法有很大区别。首先，接收X射线方面
本题解析：试题答案衍射仪记录花样与德拜法有很大区别。首先，接收X射线方面衍射仪用辐射探测器，德拜法用底片感光；其次衍射仪试样是平板状，德拜法试样是细丝。衍射强度公式中的吸收项µ不一样。第三，衍射仪法中辐射探测器沿测角仪圆转动，逐一接收衍射；德拜法中底片是同时接收衍射。相比之下，衍射仪法使用更方便，自动化程度高，尤其是与计算机结合，使得衍射仪在强度测量、花样标定和物相分析等方面具有更好的性能。
测角仪在工作时，如试样表面转到与入射线成30°角时，计数管与入射线成60度角。因为工作时，探测器与试样同时转动，但转动的角速度为2：1的比例关系。
92、问答题 何谓“指纹区”？ 它有什么特点和用途？
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本题答案：是由于C-C、C-O、C-X单键的伸缩振动以及分子骨架
本题解析：试题答案是由于C-C、C-O、C-X单键的伸缩振动以及分子骨架中多数基团的弯曲振动而产生的吸收光谱，非常复杂，如同人的指纹一样，没有两人完全一样。只要在化学结构上存在微小的差异（如同系物、同分异构体和空间异构体），在指纹区的吸收都有明显的不同，所以，“指纹区”对化合物的鉴别很有用。
93、问答题 在一块冷轧钢板中可能存在哪几种内应力？它们的衍射谱有什么特点？
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本题答案：在一块冷轧钢板中可能存在三种内应力，它们是：第一类内应
本题解析：试题答案在一块冷轧钢板中可能存在三种内应力，它们是：第一类内应力是在物体较大范围内或许多晶粒范围内存在并保持平衡的应力。称之为宏观应力。它能使衍射线产生位移。第二类应力是在一个或少数晶粒范围内存在并保持平衡的内应力。它一般能使衍射峰宽化。第三类应力是在 若干原子范围存在并保持平衡的内应力。它能使衍射线减弱。
94、单项选择题 洛伦兹因子中，第一几何因子反映的是（）
A、晶粒大小对衍射强度的影响
B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响
C、衍射线位置对衍射强度的影响
D、试样形状对衍射强度的影响
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本题答案：A
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95、问答题 陶瓷纳米/微米颗粒的红外光谱的分析样品该如何制，为什么？
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本题答案：陶瓷纳米/微米颗粒与KBr压片制备测试样品，也可采用红
本题解析：试题答案陶瓷纳米/微米颗粒与KBr压片制备测试样品，也可采用红外光谱的反射式测试方法直接测试粉状样品。
96、问答题 要分析钢中碳化物成分和基体中碳含量，应选用哪种电子探针仪？为什么？
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本题答案：分析钢中碳化物成分可用能谱仪；分析基体中碳含量可用波谱
本题解析：试题答案分析钢中碳化物成分可用能谱仪；分析基体中碳含量可用波谱仪，这是因为与波谱仪相比，能谱仪具有以下优点：能谱仪探测X射线的效率高。其灵敏度比波谱仪高约一个数量级。在同一时间对分析点内所有元素X射线光子的能量进行测定和计数，在几分钟内可得到定性分析结果，而波谱仪只能逐个测量每种元素特征波长。结构简单，稳定性和重现性都很好（因为无机械传动）不必聚焦，对样品表面无特殊要求，适于粗糙表面分析。
与波谱仪相比能谱仪具有以下缺点和不足：分辨率低：Si（Li）检测器分辨率约为160eV；波谱仪分辨率为5－10eV能谱仪中因Si（Li）检测器的铍窗口限制了超轻元素的测量，因此它只能分析原子序数大于11的元素；而波谱仪可测定原子序数从4到92间的所有元素。能谱仪的Si（Li）探头必须保持在低温态，因此必须时时用液氮冷却
97、名词解释 溅射
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本题答案：入射离子轰击固体时，当表面原子获得足够的动量和能量背离
本题解析：试题答案入射离子轰击固体时，当表面原子获得足够的动量和能量背离表面运动时，就引起表面粒子（原子、离子、原子团等）的发射，这种现象称为溅射。
98、单项选择题 当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（）
A.光电子；
B.二次荧光；
C.俄歇电子；
D.A+C
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本题答案：D
本题解析：暂无解析
99、问答题 为什么TEM既能选区成像又能选区衍射？怎样才能做到两者所选区域的一致性。在实际应用方面有何重要意义？
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本题答案：TEM成像系统主要是由物镜，中间镜和投影镜组成。本题解析：试题答案TEM成像系统主要是由物镜，中间镜和投影镜组成。
如果把中间镜的物平面和物镜的像平面重合，则在荧光屏上得到一幅放大像，这就是TEM的成像操作。
如果把中间镜的物平面和物镜的背焦面重合，则在荧光屏上得到一幅电子衍射花样，这就是TEM的电子衍射操作。
降低成像的像差，精确聚焦才能做到两者所选区域一致。实际应用中是通过选区衍射确定微小物相的晶体结构。
100、单项选择题 晶体属于立方晶系，一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4，则该晶面的指标为（）
A、（364）
B、（234）
C、（213）
D、（468）
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本题答案：B
本题解析：暂无解析
101、问答题 影响电磁透镜景深和焦长的主要因素是什么？景深和焦长对透射电子显微镜的成像和设计有何影响？
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本题答案：（1）把透镜物平面允许的轴向偏差定义为透镜的景深，影响
本题解析：试题答案（1）把透镜物平面允许的轴向偏差定义为透镜的景深，影响它的因素有电磁透镜分辨率、孔径半角，电磁透镜孔径半角越小，景深越大，如果允许较差的像分辨率（取决于样品），那么透镜的景深就更大了；把透镜像平面允许的轴向偏差定义为透镜的焦长，影响它的因素有分辨率、像点所张的孔径半角、透镜放大倍数，当电磁透镜放大倍数和分辨率一定时，透镜焦长随孔径半角的减小而增大。
（2）透射电子显微镜的成像系统由物镜、中间镜和投影镜组成。物镜的作用是形成样品的第一次放大镜，电子显微镜的分辨率是由一次像来决定的，物镜是一个强励磁短焦距的透镜，它的放大倍数较高。中间镜是一个弱透镜，其焦距很长，放大倍数可通过调节励磁电流来改变，在电镜操作过程中，主要是利用中间镜的可变倍率来控制电镜的放大倍数。投影镜的作用是把中间镜放大（或缩小）的像进一步放大，并投影到荧光屏上，它和物镜一样，是一个短焦距的强磁电镜。而磁透镜的焦距可以通过线圈中所通过的电流大小来改变，因此它的焦距可任意调节。用磁透镜成像时，可以在保持物距不变的情况下，改变焦距和像距来满足成像条件，也可以保持像距不变，改变焦距和物距来满足成像条件。
在用电子显微镜进行图象分析时，物镜和样品之间的距离总是固定不变的，因此改变物镜放大倍数进行成像时，主要是改变物镜的焦距和像距来满足条件；中间镜像平面和投影镜物平面之间距离可近似地认为固定不变，因此若要荧光屏上得到一张清晰的放大像必须使中间镜的物平面正好和物镜的像平面重合，即通过改变中间镜的励磁电流，使其焦距变化，与此同时，中间镜的物距也随之变化。
大的景深和焦长不仅使透射电镜成像方便，而且电镜设计荧光屏和相机位置非常方便。
102、单项选择题 利用X射线激发某种物质会产生可见的荧光，而且荧光的多少与X射线强度成正比的特性而制造的计数器为（）
A、正比计数器
B、盖革计数器
C、闪烁计数器
D、锂漂移硅检测器
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本题答案：C
本题解析：暂无解析
103、单项选择题 当第二相粒子与基体呈共格关系时，此时的成像衬度是（）。
A.质厚衬度；
B.衍衬衬度；
C.应变场衬度；
D.相位衬度。
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本题答案：C
本题解析：暂无解析
104、问答题 若X射线管的额定功率为1.5kW，在管电压为35kV时，容许的最大电流是多少？
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本题答案：1.5kW/35kV=0.043A
本题解析：试题答案1.5kW/35kV=0.043A
105、问答题 解释红外光谱图的一般程序是什么？
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本题答案：运用红外光谱解谱的四要素，分析吸收峰对应的基团；若是单纯物质
本题解析：试题答案运用红外光谱解谱的四要素，分析吸收峰对应的基团；若是单纯物质可对照SADLTER标准图谱；还可从数据库查相应发表文献的红外光谱信息。
106、问答题 何为可动光阑？第二聚光镜光阑、物镜光阑和选区光阑在电镜的什么位置？它们各具有什么功能？
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本题答案：可动光阑即为可以调节的非固定光阑。
第二聚光
本题解析：试题答案可动光阑即为可以调节的非固定光阑。
第二聚光镜光阑在双聚光镜系统中，光阑常安装在第二聚光镜的下方。其作用是限制照明孔径角。
物镜光阑：又称衬度光阑，通常它被放在物镜的后焦面上。物镜光阑不仅具有减小球差，像散和色差的作用，
而且可以提高图像的衬度。加入物镜光阑使物镜孔径角减小，能减小相差，得到质量较高的显微图像。物镜光阑的另一个主要作用是在后焦面上套取衍射束的斑点（副焦点）成像，这就是所谓的暗场像。利用明暗场显微照片的对照分析，可以方便地进行物相鉴定和缺陷分析。
选区光阑又称场限光阑或场光阑。一般都放在物镜的像平面位置。其作用是便于分析样品上的一个微小区域。
107、问答题 分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么？（1）用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射；（2）用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射；（3）用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。
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本题答案：根据经典原子模型，原子内的电子分布在一系列量子化的壳层
本题解析：试题答案根据经典原子模型，原子内的电子分布在一系列量子化的壳层上，在稳定状态下，每个壳层有一定数量的电子，他们有一定的能量。最内层能量最低，向外能量依次增加。
根据能量关系，M、K层之间的能量差大于L、K成之间的能量差，K、L层之间的能量差大于M、L层能量差。由于释放的特征谱线的能量等于壳层间的能量差，所以Kß的能量大于Ka的能量，Ka能量大于La的能量。
因此在不考虑能量损失的情况下：
（1）CuKa能激发CuKa荧光辐射；（能量相同）
（2）CuKß能激发CuKa荧光辐射；（Kß>KA.
（3）CuKa能激发CuLa荧光辐射；（Ka>lA.
108、问答题 试述罗伦兹三种几何因子各表示什么？
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本题答案：洛伦兹因数第一种几何因子是表示样品中参与衍射的晶粒大小
本题解析：试题答案洛伦兹因数第一种几何因子是表示样品中参与衍射的晶粒大小对衍射强度的影响。，第二种几何因子是表示样品中参与衍射的晶粒的数目对衍射强度的影响，第三种几何因子是表示样品中衍射线位置对衍射强度的影响。
109、问答题 “一束X射线照射一个原子列（一维晶体），只有镜面反射方向上才有可能产生衍射线”，此种说法是否正确？
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本题答案：不正确，因为一束X射线照射一个原子列上，原子列上每个原
本题解析：试题答案不正确，因为一束X射线照射一个原子列上，原子列上每个原子受迫都会形成新的X射线源向四周发射与入射光波长一致的新的X射线，只要符合光的干涉三个条件（光程差是波长的整数倍），不同点光源间发出的X射线都可产生干涉和衍射。镜面反射，其光程差为零，是特殊情况。
110、问答题 原子散射因数的物理意义是什么？某元素的原子散射因数与其原子序数有何关系？
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本题答案：原子散射因数f是以一个电子散射波的振幅为度量单位的一个
本题解析：试题答案原子散射因数f是以一个电子散射波的振幅为度量单位的一个原子散射波的振幅。也称原子散射波振幅。它表示一个原子在某一方向上散射波的振幅是一个电子在相同条件下散射波振幅的f倍。它反映了原子将X射线向某一个方向散射时的散射效率。原子散射因数与其原子序数有何关系，Z越大，f越大。因此，重原子对X射线散射的能力比轻原子要强。
111、单项选择题 当偏离矢量S<0时，倒易点是在厄瓦尔德球的（）。
A.球面外；
B.球面上；
C.球面内；
D.B+C。
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本题答案：A
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112、单项选择题 可以消除的像差是（）。
A.球差；
B.像散；
C.色差；
D.A+B。
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本题答案：B
本题解析：暂无解析
113、单项选择题 已知一位错线在选择操作反射g1=（110）和g2=（111）时，位错不可见，那么它的布氏矢量是（）。
A.b=（0-10）；
B.b=（1-10）；
C.b=（0-11）；
D.b=（010）。
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本题答案：B
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114、问答题 分别从原理、衍射特 www.91exAm.org点及应用方面比较X射线衍射和透射电镜中的电子衍射在材料结构分析中的异同点。
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本题答案：原理：X射线照射晶体，电子受迫振动产生相干散射；同一原
本题解析：试题答案原理：X射线照射晶体，电子受迫振动产生相干散射；同一原子内各电子散射波相互干涉形成原子散射波；晶体内原子呈周期排列，因而各原子散射波间也存在固定的位相关系而产生干涉作用，在某些方向上发生相长干涉，即形成衍射。
特点：
1）电子波的波长比X射线短得多
2）电子衍射产生斑点大致分布在一个二维倒易截面内
3）电子衍射中略偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射
4）电子衍射束的强度较大，拍摄衍射花样时间短。
应用：硬X射线适用于金属部件的无损探伤及金属物相分析，软X射线可用于非金属的分析。透射电镜主要用于形貌分析和电子衍射分析（确定微区的晶体结构或晶体学性质）
115、单项选择题 制造出世界上第一台透射电子显微镜的是（）
A、德布罗意
B、鲁斯卡
C、德拜
D、布拉格
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本题答案：B
本题解析：暂无解析
116、问答题 试总结德拜法衍射花样的背底来源，并提出一些防止和减少背底的措施。
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本题答案：德拜法衍射花样的背底来源是入射波的非单色光、进入试样后
本题解析：试题答案德拜法衍射花样的背底来源是入射波的非单色光、进入试样后出生的非相干散射、空气对X射线的散射、温度波动引起的热散射等。采取的措施有尽量使用单色光、缩短曝光时间、恒温试验等。
117、问答题 衍射线在空间的方位取决于什么？而衍射线的强度又取决于什么？
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本题答案：衍射线在空间的方位主要取决于晶体的面网间距，或者晶胞的
本题解析：试题答案衍射线在空间的方位主要取决于晶体的面网间距，或者晶胞的大小。衍射线的强度主要取决于晶体中原子的种类和它们在晶胞中的相对位置。
118、问答题 球差、像散和色差是怎样造成的？如何减小这些像差？哪些是可消除的像差？
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本题答案：1，球差是由于电磁透镜磁场的近轴区与远轴区对电子束的会
本题解析：试题答案1，球差是由于电磁透镜磁场的近轴区与远轴区对电子束的会聚能力的不同而造成的。一个物点散射的电子束经过具有球差的电磁透镜后并不聚在一点，所以像平面上得到一个弥散圆斑，在某一位置可获得最小的弥散圆斑，成为弥散圆。还原到物平面上，则半径为
rs=1/4Csα3
rs为半径，Cs为透镜的球差系数，α为透镜的孔径半角。所以见效透镜的孔径半角可减少球差。
2，色差是由于成像电子的波长（能量）不同而引起的。一个物点散射的具有不同波长的电子，进入透镜磁场后将沿各自的轨道运动，结果不能聚焦在一个像点上，而分别交在一定的轴向范围内，形成最小色差弥散圆斑，半径为rc=Ccα|△E/E|
Cc为透镜色差系数，α为透镜孔径半角，△E/E为成像电子束能量变化率。所以减小△E/E、α可减小色差。
3，像散是由于透镜磁场不是理想的旋对称磁场而引起的。可减小孔径半角来减少像散。
119、问答题 X射线学有几个分支？每个分支的研究对象是什么？
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本题答案：X射线学分为三大分支：X射线透射学、X射线衍射学、X射
本题解析：试题答案X射线学分为三大分支：X射线透射学、X射线衍射学、X射线光谱学。
X射线透射学的研究对象有人体，工件等，用它的强透射性为人体诊断伤病、用于探测工件内部的缺陷等。
X射线衍射学是根据衍射花样，在波长已知的情况下测定晶体结构，研究与结构和结构变化的相关的各种问题。
X射线光谱学是根据衍射花样，在分光晶体结构已知的情况下，测定各种物质发出的X射线的波长和强度，从而研究物质的原子结构和成分。
120、单项选择题 PDF卡片中，数据可靠程度最低的用（）表示
A、i
B、★
C、○
D、C
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本题答案：C
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121、问答题 宏观应力对X射线衍射花样的影响是什么？衍射仪法测定宏观应力的方法有哪些？
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本题答案：宏观应力对X射线衍射花样的影响是造成衍射线位移。衍射仪
本题解析：试题答案宏观应力对X射线衍射花样的影响是造成衍射线位移。衍射仪法测定宏观应力的方法有两种，一种是0°-45°法。另一种是sin2ψ法。
122、问答题 产生电子衍射的必要条件与充分条件是什么？
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本题答案：产生电子衍射的充分条件是Fhkl≠0，
本题解析：试题答案产生电子衍射的充分条件是Fhkl≠0，
产生电子衍射必要条件是满足或基本满足布拉格方程。
123、名词解释 孔径半角
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本题答案：孔径半角是物镜孔径角的一半，而物镜孔径角是物镜光轴上的
本题解析：试题答案孔径半角是物镜孔径角的一半，而物镜孔径角是物镜光轴上的物体点与物镜前透镜的有效直径所形成的角度。因此，孔径半角是物镜光轴上的物体点与物镜前透镜的有效直径所形成的角度的一半。
124、单项选择题 可以提高TEM的衬度的光栏是（）。
A.第二聚光镜光栏；
B.物镜光栏；
C.选区光栏；
D.其它光栏。
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本题答案：B
本题解析：暂无解析
125、问答题 要观察钢中基体和析出相的组织形态，同时要分析其晶体结构和共格界面的位向关系，如何制备样品？以怎样的电镜操作方式和步骤来进行具体分析？
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本题答案：通过双喷减薄或离子减薄方法制备电镜样品，观察包括基体和
本题解析：试题答案通过双喷减薄或离子减薄方法制备电镜样品，观察包括基体和析出相的区域，拍摄明、暗场照片；采用样品倾转，使得基体与析出相的界面与电子束平行，用选区光阑套住基体和析出相进行衍射，获得包括基体和析出相的衍射花样进行分析，确定其晶体结构及位向关系。
126、问答题 什么是光电效应？光电效应在材料分析中有哪些用途？
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本题答案：光电效应是指：当用X射线轰击物质时，若X射线的能量大于
本题解析：试题答案光电效应是指：当用X射线轰击物质时，若X射线的能量大于物质原子对其内层电子的束缚力时，入射X射线光子的能量就会被吸收，从而导致其内层电子被激发，产生光电子。材料分析中应用光电效应原理研制了光电子能谱仪和荧光光谱仪，对材料物质的元素组成等进行分析。
127、问答题 实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以Fe为主要成分的样品，试选择合适的X射线管和合适的滤波片。
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本题答案：实验中选择X射线管的原则是为避免或减少产生荧光辐射，应
本题解析：试题答案实验中选择X射线管的原则是为避免或减少产生荧光辐射，应当避免使用比样品中主元素的原子序数大2~6（尤其是2）的材料作靶材的X射线管。选择滤波片的原则是X射线分析中，在X射线管与样品之间一个滤波片，以滤掉Kβ线。滤波片的材料依靶的材料而定，一般采用比靶材的原子序数小1或2的材料。以分析以铁为主的样品，应该选用Co或Fe靶的X射线管，同时选用Fe和Mn为滤波片。
128、问答题 二次电子像景深很大，样品凹坑底部都能清楚地显示出来，从而使图像的立体感很强，其原因何在？
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本题答案：二次电子像立体感很强这是因为
1）凸出的尖棱，小
本题解析：试题答案二次电子像立体感很强这是因为
1）凸出的尖棱，小粒子以及比较陡的斜面处SE产额较多，在荧光屏上这部分的亮度较大。
2）平面上的SE产额较小，亮度较低。
3）在深的凹槽底部尽管能产生较多二次电子，使其不易被控制到，因此相应衬度也较暗。
129、问答题 二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处？
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本题答案：二次电子像：
1）凸出的尖棱，小粒子以及比较
本题解析：试题答案二次电子像：
1）凸出的尖棱，小粒子以及比较陡的斜面处SE产额较多，在荧光屏上这部分的亮度较大。
2）平面上的SE产额较小，亮度较低。
3）在深凹槽底部尽管能产生较多二次电子，使其不易被控制到，因此相应衬度也较暗。
背散射电子像：
1）用BE进行形貌分析时，其分辨率远比SE像低。
2）BE能量高，以直线轨迹逸出样品表面，对于背向检测器的样品表面，因检测器无法收集到BE而变成一片阴影，因此，其图象衬度很强，衬度太大会失去细节的层次，不利于分析。因此，BE形貌分析效果远不及SE，故一般不用BE信号。
130、问答题 什么是缺陷不可见判据？如何用不可见判据来确定位错的布氏矢量？
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本题答案：缺陷不可见判据是指：。确定位错的布氏矢量可按如下步骤：
本题解析：试题答案缺陷不可见判据是指：。确定位错的布氏矢量可按如下步骤：找到两个操作发射g1和g2，其成像时位错均不可见，则必有g1b＝0，g2b＝0。这就是说，b应该在g1和g2所对应的晶面（h1k1l1）he（h2k2l2）内，即b应该平行于这两个晶面的交线，b＝g1×g2，再利用晶面定律可以求出b的指数。至于b的大小，通常可取这个方向上的最小点阵矢量。
131、问答题 电子衍射与X射线衍射有那些区别？可否认为有了电子衍射分析手段，X射线衍射方法就可有可无了？
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本题答案：电子衍射与X射线衍射一样，遵从衍射产生的必要条件和系统
本题解析：试题答案电子衍射与X射线衍射一样，遵从衍射产生的必要条件和系统消光规律，但电子是物质波，因而电子衍射与X射线衍射相比，又有自身的特点：
（1）电子波波长很短，一般只有千分之几nm，而衍射用X射线波长约在十分之几到百分之几nm，按布拉格方程2dsinθ=λ可知，电子衍射的2θ角很小，即入射电子和衍射电子束都近乎平行于衍射晶面；
（2）由于物质对电子的散射作用很强，因而电子束穿透物质的能力大大减弱，故电子只适于材料表层或薄膜样品的结构分析；
（3）透射电子显微镜上配置选区电子衍射装置，使得薄膜样品的结构分析与形貌有机结合起来，这是X射线衍射无法比拟的特点。
但是，X射线衍射方法并非可有可无，这是因为：X射线的透射能力比较强，辐射厚度也比较深，约为几um到几十um，并且它的衍射角比较大，这些特点都使X射线衍射适宜于固态晶体的深层度分析。
132、问答题 特征X射线与荧光X射线的产生机理有何异同？某物质的K系荧光X射线波长是否等于它的K系特征X射线波长？
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本题答案：特征X射线与荧光X射线都是由激发态原子中的高能级电子向
本题解析：试题答案特征X射线与荧光X射线都是由激发态原子中的高能级电子向低能级跃迁时，多余能量以X射线的形式放出而形成的。不同的是：高能电子轰击使原子处于激发态，高能级电子回迁释放的是特征X射线；以X射线轰击，使原子处于激发态，高能级电子回迁释放的是荧光X射线。某物质的K系特征X射线与其K系荧光X射线具有相同波长。
133、单项选择题 测角仪中，探测器的转速与试样的转速关系是（）。
A.保持同步1﹕1；
B.2﹕1；
C.1﹕2；
D.1﹕0。
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本题答案：B
本题解析：暂无解析
134、问答题 和波谱仪相比，能谱仪在分析微区化学成分时有哪些优缺点？
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本题答案：能谱仪全称为能量分散谱仪（EDS），波谱仪全称为波长分
本题解析：试题答案能谱仪全称为能量分散谱仪（EDS），波谱仪全称为波长分散谱仪（WDS）。
Si（Li）能谱仪的优点：
（1）分析速度快
能谱仪可以同时接受和检测所有不同能量的X射线光子信号，故可在几分钟内分析和确定样品中含有的所有元素。
（2）灵敏度高
X射线收集立体角大，由于能谱仪中Si（Li）探头可以放在离发射源很近的地方（10㎝左右），无需经过晶体衍射，信号强度几乎没有损失，所以灵敏度高。此外，能谱仪可在低入射电子束流条件下工作，这有利于提高分析的空间分辨率。
（3）谱线重复性好
由于能谱仪结构比波谱仪简单，没有机械传动部分，因此稳定性和重复性好。
（4）对样品表面没有特殊要求
能谱仪不必聚焦，因此对样品表面没有特殊要求，适合于粗糙表面的分析工作。能谱仪的缺点：
（1）能量分辨率低
峰背比低。由于能谱仪的探头直接对着样品，所以由背散射电子或X射线所激发产生的荧光X射线信号也被同时检测到，从而使得Si（Li）检测器检测到的特征谱线在强度提高的同时，背底也相应提高，谱线的重叠现象严重。故仪器分辨不同能量特征X射线的能力变差。能谱仪的能量分辨率（160eV）比波谱仪的能量分辨率（5eV）低。
（2）分析元素范围限制
带铍窗口的探测器可探测的元素范围为11Na~92U，而波谱仪可测定原子序数从4-92之间的所有元素。
（3）工作条件要求严格
Si（Li）探头必须始终保持在液氦冷却的低温状态，即使是在不工作时也不能中断，否则晶体内Li的浓度分布状态就会因扩散而变化，导致探头功能下降甚至完全被破坏。
135、问答题 举例说明如何用选区衍射的方法来确定新相的惯习面及母相与新相的位相关系。
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本题答案：例如分析淬火钢回火时，碳化物沿母相马氏体中析出，可以用
本题解析：试题答案例如分析淬火钢回火时，碳化物沿母相马氏体中析出，可以用选区光阑套住（选取）包括母相马氏体和析出的碳化物的选区成像和进行衍射，根据衍射花样标定的晶体结构与位向，对照碳化物与母相的界限确定新相惯析面；根据新相与母相的衍射花样确定两相的位向关系。
136、问答题 你如何用学过的光谱来分析确定乙炔是否已经聚合成了聚乙炔？
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本题答案：可采用红外光谱测试，观察是否有共轭双键生成；可采用紫外
本题解析：试题答案可采用红外光谱测试，观察是否有共轭双键生成；可采用紫外光谱测定，以确定是否有共轭双键生成，以及一些共轭双键长度的信息
137、问答题 原子吸收分析中为什么选择共振线作吸收线？
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本题答案：共振线是元素的特征谱线，最易发生、吸收最强、最灵敏线。
本题解析：试题答案共振线是元素的特征谱线，最易发生、吸收最强、最灵敏线。
138、问答题 有效放大倍数和放大倍数在意义上有何区别？
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本题答案：有效放大倍数是把显微镜最大分辨率放大到人眼的分辨本领（
本题解析：试题答案有效放大倍数是把显微镜最大分辨率放大到人眼的分辨本领（0.2mm），让人眼能分辨的放大倍数。放大倍数是指显微镜本身具有的放大功能，与其具体结构有关。放大倍数超出有效放大倍数的部分对提高分辨率没有贡献，仅仅是让人观察得更舒服而已，所以放大倍数意义不大。显微镜的有效放大倍数、分辨率才是判断显微镜性能的主要参数。
139、单项选择题 X射线物相定性分析时，若已知材料的物相可以查（）进行核对。
A.哈氏无机数值索引；
B.芬克无机数值索引；
C.戴维无机字母索引；
D.A或B。
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本题答案：C
本题解析：暂无解析
140、名词解释 俄歇电子
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本题答案：X射线或电子束激发固体中原子内层电子使原子电离，此时原
本题解析：试题答案X射线或电子束激发固体中原子内层电子使原子电离，此时原子（实际是离子）处于激发态，将发生较外层电子向空位跃迁以降低原子能量的过程，此过程发射的电子。
141、单项选择题 立方晶系{100}晶面的多重性因子为（）
A、2
B、3
C、4
D、6
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本题答案：D
本题解析：暂无解析
142、问答题 衍衬运动学理论的最基本假设是什么？怎样做才能满足或接近基本假设？
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本题答案：1）入射电子在样品内只可能受到不多于一次散射
本题解析：试题答案1）入射电子在样品内只可能受到不多于一次散射
2）入射电子波在样品内传播的过程中，强度的衰减可以忽略，这意味着衍射波的强度与透射波相比始终是很小。可以通过以下途径近似的满足运动学理论基本假设所要求的实验条件：
1）采用足够薄的样品，使入射电子受到多次散射的机会减少到可以忽略的程度。同时由于参与散射作用的原子不多，衍射波强度也较弱。
2）让衍射晶面处于足够偏离布拉格条件的位向，即存在较大的偏离，此时衍射波强度较弱。
143、单项选择题 要分析基体中碳含量，一般应选用（）电子探针仪，
A.波谱仪型
B.能谱仪型
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本题答案：A
本题解析：暂无解析
144、问答题 X射线多晶衍射，实验条件应考虑那些问题？结合自己的课题拟定实验方案。
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本题答案：实验条件应考虑问题：
（1）选择试验条件如选
本题解析：试题答案实验条件应考虑问题：
（1）选择试验条件如选靶、选滤波片、管电压电流等
（2）选光阑尺寸、扫描速度、时间常数
（3）进行试样制备
（4）选择试验方法
实验方案：
（1）试样的制备
衍射仪一般采用块状平面试样，可以用粉末压制而成或者直接使用整块的多晶体。
（2）测试参数选择。
（3）衍射数据的采集。
（4）在分析工作中充分利用有关待分析物的化学、物理、力学性质及其加工等各方面的资料信息，进行物相检索。
（5）得出结论。
145、单项选择题 用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（）
A.X射线透射学；
B.X射线衍射学；
C.X射线光谱学
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本题答案：B
本题解析：暂无解析
146、问答题 一种化合物含有两个基团与各含一个基团的两种化合物的混合物，其红外谱图有大的差别吗？为什么？
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本题答案：若该化合物中的两个基团是孤立的，通常两种测试样品的红外
本题解析：试题答案若该化合物中的两个基团是孤立的，通常两种测试样品的红外谱图没有大的差别，因此测试红外光谱时应尽可能把样品的各组份完全分离后测试。
147、单项选择题 样品台和测角仪机械连动时，计数器与试样的转速关系是（）
A、1﹕1
B、2﹕1
C、1﹕2
D、没有确定比例
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本题答案：B
本题解析：暂无解析
148、单项选择题 若H-800电镜的最高分辨率是0.5nm，那么这台电镜的有效放大倍数是（）。
A.1000；
B.10000；
C.40000；
D.600000。
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本题答案：C
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149、问答题 分析电子衍射与x射线衍射有何异同？
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本题答案：电子衍射与X射线衍射相比具有下列特点：
（1
本题解析：试题答案电子衍射与X射线衍射相比具有下列特点：
（1）电子波的波长比X射线短得多，因此，在同样满足布拉格条件时，它的衍射角度很小，10-2rad，而X射线最大衍射角可达π/2。
（2）电子衍射产生斑点大致分布在一个二维倒易截面内，晶体产生的衍射花样能比较直观地反映晶体内各晶面的位向。因为电子波长短，用Ewald图解时，反射球半径很大，在衍射角很小时的范围内，反射球的球面可近似为平面。
（3）电子衍射用薄晶体样品，其倒易点沿样品厚度方向扩展为倒易杆，增加了倒易点和Ewald球相交截面机会，结果使略偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射。
（4）电子衍射束的强度较大，拍摄衍射花样时间短。因为原子对电子的散射能力远大于对X射线的散射能力。
150、问答题 透射电镜的成像系统的主要构成及特点是什么？
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本题答案：透射电镜的成像系统由物镜、物镜光栏、选区光栏、中间镜（
本题解析：试题答案透射电镜的成像系统由物镜、物镜光栏、选区光栏、中间镜（1、2）和投影镜组成。各部件的特点如下：
1）物镜：强励磁短焦透镜（f=1-3mm），放大倍数100—300倍。
作用：形成第一幅放大像
2）物镜光栏：装在物镜背焦面，直径20—120um，无磁金属制成。
作用：A.提高像衬度，B.减小孔径角，从而减小像差。C.进行暗场成像
3）选区光栏：装在物镜像平面上，直径20-400um，
作用：对样品进行微区衍射分析。
4）中间镜：弱压短透镜，长焦，放大倍数可调节0—20倍
作用A.控制电镜总放大倍数。B.成像/衍射模式选择。
5）投影镜：短焦、强磁透镜，进一步放大中间镜的像。投影镜内孔径较小，使电子束进入投影镜孔径角很小。
小孔径角有两个特点：A.景深大，改变中间镜放大倍数，使总倍数变化大，也不影响图象清晰度。B.焦深长，放宽对荧光屏和底片平面严格位置要求。
并且有些电镜还装有附加投影镜，用以自动校正磁转角。
151、问答题 说明多晶、单晶及厚单晶衍射花样的特征及形成原理。
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本题答案：多晶衍射花样是晶体倒易球与反射球的交线，是一个个以透射
本题解析：试题答案多晶衍射花样是晶体倒易球与反射球的交线，是一个个以透射斑为中心的同心圆环；单晶衍射花样是晶体倒易点阵去掉结构消光的倒易杆与反射球的交点，这些点构成平行四边形衍射花样；当单晶体较厚时，由于散射因素的影响会出现除衍射花样外的一明一暗线对的菊池衍射花样。
152、问答题 紫外光谱常用来鉴别哪几类有机物？
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本题答案：普通紫外光谱用来鉴别具有共轭双键、电荷迁移跃迁和配位场
本题解析：试题答案普通紫外光谱用来鉴别具有共轭双键、电荷迁移跃迁和配位场跃迁的物质。但紫外光谱常作为辅助的鉴别手段。
153、单项选择题 物镜光阑安放在（）
A、物镜的物平面
B、物镜的像平面
C、物镜的背焦面
D、物镜的前焦面
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本题答案：C
本题解析：暂无解析
154、问答题 总结简单点阵、体心点阵和面心点阵衍射线的系统消光规律。
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本题答案：简单点阵不存在系统消光，体心点阵衍射线的系统消光规律是
本题解析：试题答案简单点阵不存在系统消光，体心点阵衍射线的系统消光规律是（h+k+l）偶数时出现反射，（h+k+l）奇数时消光。面心点阵衍射线的系统消光规律是h，k，l全奇或全偶出现反射，h，k，l有奇有偶时消光。答：简单点阵不存在系统消光，体心点阵衍射线的系统消光规律是（h+k+l）偶数时出现反射，（h+k+l）奇数时消光。面心点阵衍射线的系统消光规律是h，k，l全奇或全偶出现反射，h，k，l有奇有偶时消光。
155、问答题 谢乐公式B=kλ/tcosθ中的B、λ、t、θ分别表示什么？该公式用于粒径大小测定时应注意哪些问题？
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本题答案：B为半高宽或峰的积分宽度，λ为入射X射线
本题解析：试题答案B为半高宽或峰的积分宽度，λ为入射X射线波长，t为粒径大小，θ为表示选用X射线位置
①这是运用X射线来测定晶粒大小的一个基本公式。B为衍射峰的宽，t表示晶粒的大小。可见当晶粒变小时，衍射峰产生宽化。一般当晶粒小于10-4cm时，它的衍射峰就开始宽化。因此式适合于测定晶粒<10-5cm，即100纳米以下晶粒的粒径。因此，它是目前测定纳米材料颗粒大小的主要方法。虽然精度不很高，但目前还没有其它好的方法测定纳米级粒子的大小。
②一般情况下我们的样品可能不是细小的粉末，但实际上理想的晶体是不存在的，即使是较大的晶体，它经常也具有镶嵌结构在，即是由一些大小约在10-4cm嵌晶块组成。它们也会导到X射线衍射峰的宽化。
156、问答题 现代分析型电镜具有那些功能？如何在材料微观分析中运用这些功能？
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本题答案：现代分析电镜主要指透射电子显微镜及其外围分析设备。简称
本题解析：试题答案现代分析电镜主要指透射电子显微镜及其外围分析设备。简称分析型透射电镜，AEM。其主要功能除进行形貌观察、衍衬分析外，还能够利用能谱仪、电子能量损失谱进行成分分析。还可以利用相应的样品台，在透射电镜中作原位观察、加热相变观察、冷却相变观察和拉伸试验。会聚束电子衍射也是分析型电子显微镜的附加功能。
157、单项选择题 由于电磁透镜中心区域和边缘区域对电子折射能力不同而造成的像差称为（）
A、球差
B、像散
C、色差
D、背散
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本题答案：A
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158、单项选择题 洛伦兹因子中，第三几何因子反映的是（）
A、晶粒大小对衍射强度的影响
B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响
C、衍射线位置对衍射强度的影响
D、试样形状对衍射强度的影响
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本题答案：C
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159、问答题 什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”？
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本题答案：⑴当χ射线通过物质时，物质原子的电子在电磁场的
本题解析：试题答案⑴当χ射线通过物质时，物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动，受迫振动产生交变电磁场，其频率与入射线的频率相同，这种由于散射线与入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，故称为相干散射。
⑵当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后，可以得到波长比入射χ射线长的χ射线，且波长随散射方向不同而改变，这种散射现象称为非相干散射。
⑶一个具有足够能量的χ射线光子从原子内部打出一个K电子，当外层电子来填充K空位时，将向外辐射K系χ射线，这种由χ射线光子激发原子所发生的辐射过程，称荧光辐射。或二次荧光。
⑷指χ射线通过物质时光子的能量大于或等于使物质原子激发的能量，如入射光子的能量必须等于或大于将K电子从无穷远移至K层时所作的功W，称此时的光子波长λ称为K系的吸收限。
⑸当原子中K层的一个电子被打出后，它就处于K激发状态，其能量为Ek。如果一个L层电子来填充这个空位，K电离就变成了L电离，其能由Ek变成El，此时将释Ek-El的能量，可能产生荧光χ射线，也可能给予L层的电子，使其脱离原子产生二次电离。即K层的一个空位被L层的两个空位所替代，这种现象称俄歇效应。
160、单项选择题 对于面心立方晶体，产生系统消光的晶面有（）
A、200
B、220
C、112
D、111
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本题答案：C
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161、名词解释 吸收电子
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本题答案：入射电子进入样品后，经多次非弹性散射，能量损失殆尽（假
本题解析：试题答案入射电子进入样品后，经多次非弹性散射，能量损失殆尽（假定样品有足够厚度，没有透射电子产生），最后被样品吸收。吸收电流像可以反映原子序数衬度，同样也可以用来进行定性的微区成分分析。
162、名词解释 中心暗场像
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本题答案：用物镜光阑挡住透射束及其余衍射束，而只让一束强衍射束通
本题解析：试题答案用物镜光阑挡住透射束及其余衍射束，而只让一束强衍射束通过光阑参与成像的方法，称为暗场成像，所得图象为暗场像。如果物镜光阑处于光轴位置，所得图象为中心暗场像。
163、问答题 如何区分红外谱图中的醇与酚羟基的吸收峰？
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本题答案：它们的吸收峰的峰位不同。酚羟基在3610cm-1和12
本题解析：试题答案它们的吸收峰的峰位不同。酚羟基在3610cm-1和1200cm-1存在吸收峰，醇羟基则分别在3620-3640和1050-1150cm-1范围内存在吸收；而且含酚羟基的物质存在苯环的特征吸收峰。
164、单项选择题 薄片状晶体的倒易点形状是（）。
A.尺寸很小的倒易点；
B.尺寸很大的球；
C.有一定长度的倒易杆；
D.倒易圆盘。
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本题答案：C
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165、问答题 为什么说从衍射观点看有些倒易点阵也是衍射点阵，其倒易点不是几何点？其形状和所具有的强度取决于哪些因素，在实际上有和重要意义？
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本题答案：倒易点阵中的一个点代表的是正点阵中的一组晶面。衍射点阵
本题解析：试题答案倒易点阵中的一个点代表的是正点阵中的一组晶面。衍射点阵是那些能产生衍射（去掉结构消光）的倒易点阵。衍射点阵中倒易点不是几何点，其形状和强度取决于晶体形状和倒易体与厄瓦尔德球相交的位置。根据衍射花样可以推测晶体形态或缺陷类型以及衍射偏离布拉格角的程度。
166、问答题 为何对称入射时，即只有倒易点阵原点在爱瓦尔德球面上，也能得到除中心斑点以外的一系列衍射斑点？
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本题答案：如果倒易点是几何点，那么对称入射时就没有倒易点落在厄瓦
本题解析：试题答案如果倒易点是几何点，那么对称入射时就没有倒易点落在厄瓦尔德球上。但是，由于电镜样品是薄样品，倒易点拉长成倒易杆。倒易杆与厄瓦尔德球相交可以产生衍射。
167、单项选择题 当第二相粒子与基体呈共格关系时，此时所看到的粒子大小（）。
A.小于真实粒子大小；
B.是应变场大小；
C.与真实粒子一样大小；
D.远远大于真实粒子
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本题答案：B
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168、单项选择题 以气体电离为基础制造的计数器是（）
A、正比计数器
B、盖革计数器
C、闪烁计数器
D、A和B
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本题答案：D
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169、问答题 能谱仪、俄歇谱仪和X光电子能谱仪都可作成分分析，它们各自的特点如何？
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本题答案：能谱仪分析的是微区成分，分析范围为11-92的元素，若
本题解析：试题答案能谱仪分析的是微区成分，分析范围为11-92的元素，若开鈹窗能分析5-92的元素，分析精度可达5%；。
俄歇谱仪分析的是极表层的成分，分析深度只有1nm.
X光电子能谱仪也是分析表层成分，但X光电子能谱仪可以提供元素价态。
170、单项选择题 低角的弧线接近中心孔，高角线靠近端部的底片安装方法为（）
A、正装法
B、反装法
C、偏装法
D、任意安装都可
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本题答案：A
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171、问答题 影响红外光谱吸收峰位置的主要因素有哪些？
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本题答案：成键轨道类型，诱导效应，共轭效应，键张力，氢键，振动的
本题解析：试题答案成键轨道类型，诱导效应，共轭效应，键张力，氢键，振动的耦合，不同物态等。
172、问答题 试说明菊池线测试样取向关系比斑点花样精确度为高的原因。
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本题答案：当电子束穿过较厚的完整单晶体样品时，衍射图上除斑点花样
本题解析：试题答案当电子束穿过较厚的完整单晶体样品时，衍射图上除斑点花样外，又出现一些平行的亮暗线对，这就是菊池线。利用菊池图与试验得到的菊池衍射图对比可直接确定晶体取向，而无需进行繁琐的指数标定和晶体取向的计算；可控制样品转到所需晶带轴的倾转方向和角度。当样品倾斜时，衍射斑点位置无明显改变，而菊池线对明显移动，故可以精确测定晶体取向。
173、单项选择题 菊池线可以帮助（）。
A.估计样品的厚度；
B.确定180º不唯一性；
C.鉴别有序固溶体；
D.精确测定晶体取向。
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本题答案：D
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174、单项选择题 扫描电子显微镜配备的成分分析附件中最常见的仪器是（）。
A.波谱仪；
B.能谱仪；
C.俄歇电子谱仪；
D.特征电子能量损失谱。
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本题答案：B
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175、问答题 消像散器的作用和原理是什么？
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本题答案：消像散器的作用就是用来消除像散的。其原理就利用外加的磁
本题解析：试题答案消像散器的作用就是用来消除像散的。其原理就利用外加的磁场把固有的椭圆形磁场校正成接近旋转对称的磁场。机械式的消像散器式在电磁透镜的磁场周围放置几块位置可以调节的导磁体来吸引一部分磁场从而校正固有的椭圆形磁场。而电磁式的是通过电磁板间的吸引和排斥来校正椭圆形磁场的。
176、问答题 简述X射线产生的基本条件。
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本题答案：①产生自由电子；
②使电子做定向高速运动；<
本题解析：试题答案①产生自由电子；
②使电子做定向高速运动；
③在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。
177、问答题 叙述如何用X射线进行物相分析及注意事项。
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本题答案：所谓X射线物相分析即通过X射线衍射分析来确定材料的物相
本题解析：试题答案所谓X射线物相分析即通过X射线衍射分析来确定材料的物相构成。
1.根据待测相的衍射数据得出三强线的晶面间距值d1，d2和d3（并估计误差）
2.根据最强线的面间距d1在数字索引中找到所属组，再在d2，d3找到其中一行。
3.比较此行中的三条线，看其相对强度是否与被测物质三强线基本一致。如d和I\I1
4.基本一致，则可初步断定之。
5.根据索引中查找的卡片号，从卡片盒中找到所需要卡片。
6.将卡片全部d和I\I1与未知物质的d和I\I1对比，如果完全吻合，则卡片上物质即为所测物质。
若多相，则采用逐一排除法，即标出一种物相后就从衍射谱中除去它的衍射线条，剩下的进行归一化后再进行物相确定，直至所有衍射线条全部标定为止。
注意事项：
1.利用计算机是行之有效的方法。
2.试样衍射花样的误差和卡片的误差
3.晶面间距d比相对强度重要。
4.多相混合物的衍射线条有可能重叠，应配合其他方法加以区分。
178、问答题 为什么说X衍射线束的强度与晶胞中的原子位置和种类有关？
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本题答案：因为X射线强度取决于结构因子F，而结构因子会因晶胞中的
本题解析：试题答案因为X射线强度取决于结构因子F，而结构因子会因晶胞中的原子位置和种类而不同。所以说X衍射线束的强度与晶胞中的原子位置和种类有关。
179、问答题 哪些因素影响着透射电镜的分辨率？它们的影响程度如何？如果透射电镜的分辨率极高，此时它的景深和焦长如何？
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本题答案：透射电镜分辨率包括衍射效应和像差两方面，其中主要影响因
本题解析：试题答案透射电镜分辨率包括衍射效应和像差两方面，其中主要影响因素为波长λ和孔径半角α。如果透射电镜分辨率极高，这时景深和焦长将减小。
180、问答题 为什么TEM既能选区成像又能选区衍射？怎样才能做到两者所选区域的一致性。在实际应用方面有和重要意义？
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本题答案：TEM成像系统主要是由物镜，中间镜和投影镜组成。本题解析：试题答案TEM成像系统主要是由物镜，中间镜和投影镜组成。
如果把中间镜的物平面和物镜的像平面重合，则在荧光屏上得到一幅放大像，这就是TEM的成像操作。
如果把中间镜的物平面和物镜的背焦面重合，则在荧光屏上得到一幅电子衍射花样，这就是TEM的电子衍射操作。
降低成像的像差，精确聚焦才能做到两者所选区域一致。实际应用中是通过选区衍射确定微小物相的晶体结构。
181、单项选择题 M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（）
A.Kα；
B.Kβ；
C.Kγ；
D.Lα。
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本题答案：B
本题解析：暂无解析
182、单项选择题 选区光阑在TEM镜筒中的位置是（）
A、物镜的物平面
B、物镜的像平面
C、物镜的背焦面
D、物镜的前焦面
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本题答案：B
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183、问答题 洛伦兹因数是表示什么对衍射强度的影响？其表达式是综合了哪几方面考虑而得出的？
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本题答案：洛伦兹因数是表示掠射角对衍射强度的影响。洛伦兹因数表达
本题解析：试题答案洛伦兹因数是表示掠射角对衍射强度的影响。洛伦兹因数表达式是综合了样品中参与衍射的晶粒大小，晶粒的数目和衍射线位置对衍射强度的影响。
184、问答题 聚光镜、物镜、中间镜和投影镜各自具有什么功能和特点？
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本题答案：聚光镜：聚光镜用来会聚电子抢射出的电子束，以最小的损失
本题解析：试题答案聚光镜：聚光镜用来会聚电子抢射出的电子束，以最小的损失照明样品，调节照明强度、孔径角和束斑大小。一般都采用双聚光系统，第一聚光系统是强励磁透镜，束斑缩小率为10-15倍左右，将电子枪第一交叉口束斑缩小为φ1--5μm；而第二聚光镜是弱励磁透镜，适焦时放大倍数为２倍左右。结果在样品平面上可获得φ２—１０μm的照明电子束斑。
物镜：物镜是用来形成第一幅高分辨率电子显微图象或电子衍射花样的透镜。投射电子显微镜分辨率的高低主要取决于物镜。因为物镜的任何缺陷都将被成相系统中的其他透镜进一步放大。物镜是一个强励磁短焦距的透镜（f=1--3mm），它的放大倍数高，一般为100-300倍。目前，高质量的物镜其分辨率可达0.1mm左右。
中间镜：中间镜是一个弱励磁的长焦距变倍率透镜，可在0-20倍范围调节。当放大倍数大于1时，用来进一步放大物镜像；当放大倍数小于1时，用来缩小物镜像。在电镜操作过程中，主要利用中间镜的可变倍率来控制电镜的总放大倍数。如果把中间镜的物平面和物镜的像平面重合，则在荧光屏上得到一幅放大像，这就是电子显微镜中的成像操作；如果把中间镜的物平面和物镜的背焦面重合，在在荧光屏上得到一幅电子衍射花样，这就是电子显微镜中的电子衍射操作。
投影镜：投影镜的作用是把中间镜放大（或缩小）的像（或电子衍射花样）进一步放大，并投影到荧光屏上，它和物镜一样，是一个短聚焦的强磁透镜。投影的励磁电流是固定的，因为成像的电子束进入透镜时孔径角很小，因此它的景深和焦长都非常大。即使改变中间竟的放大倍数，是显微镜的总放大倍数有很大的变化，也不会影响图象的清晰度。
185、问答题 红外光谱的近期发展有哪些？
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本题答案：付立叶红外及差谱技术，红外二向色性，二维相关红外，动态
本题解析：试题答案付立叶红外及差谱技术，红外二向色性，二维相关红外，动态红外光谱和表面红外技术等。
186、名词解释 Ariy斑
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本题答案：物体上的物点通过透镜成像时，由于衍射效应，在像平面上得
本题解析：试题答案物体上的物点通过透镜成像时，由于衍射效应，在像平面上得到的并不是一个点，而是一个中心最亮、周围带有明暗相间同心圆环的圆斑，即所谓Airy斑。
187、问答题 透射电镜主要由几大系统构成？各系统之间关系如何？
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本题答案：四大系统：电子光学系统，真空系统，供电控制系统，附加仪
本题解析：试题答案四大系统：电子光学系统，真空系统，供电控制系统，附加仪器系统。其中电子光学系统是其核心。其他系统为辅助系统。
188、名词解释 Hanawalt索引
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本题答案：数字索引的一种，每种物质的所有衍射峰之中，必然有三个峰
本题解析：试题答案数字索引的一种，每种物质的所有衍射峰之中，必然有三个峰的强度最大（而非面网间距最大）。把这三个强度最大的峰，按一定的规律排序，就构成了Hanawalt排序和索引方法。排序时，考虑到影响强度的因素比较复杂，为了减少因强度测量的差异而带来的查找困难，索引中将每种物质列出三次。数据检索时，按实际衍射图谱中的3强峰进行数据检索，即可找到对应的衍射卡片。
189、问答题 如何进行紫外光谱的定量分析？
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本题答案：首先确定定量时的紫外吸收峰波长，然后需要配制一系列不同
本题解析：试题答案首先确定定量时的紫外吸收峰波长，然后需要配制一系列不同浓度的标准溶液并测定其吸光度数据，获得工作曲线。测试待测样品获得吸光度数据，对比工作曲线计算得到待测样品的浓度。
190、问答题 要观察钢中基体和析出相的组织形态，同时要分析其晶体结构和共格界面的位向关系，如何制备样品？以怎样的电镜操作方式和步骤来进行具体分析？
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本题答案：通过双喷减薄或离子减薄方法制备电镜样品，观察包括基体和
本题解析：试题答案通过双喷减薄或离子减薄方法制备电镜样品，观察包括基体和析出相的区域，拍摄明、暗场照片；采用样品倾转，使得基体与析出相的界面与电子束平行，用选区光阑套住基体和析出相进行衍射，获得包括基体和析出相的衍射花样进行分析，确定其晶体结构及位向关系。
191、问答题 制备复型的材料应具备什么条件？
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本题答案：（1）复型材料本身必须是非晶态材料。
（2）
本题解析：试题答案（1）复型材料本身必须是非晶态材料。
（2）复型材料的粒子尺寸必须很小。
（3）复型材料应具备耐电子轰击的性能，即在电子束照射下能保持稳定，不发生分解和破坏。
192、名词解释 特征X射线
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本题答案：原子的内层电子受到激发以后，在能级跃迁过程中直接释放的
本题解析：试题答案原子的内层电子受到激发以后，在能级跃迁过程中直接释放的具有特征能量和波长的一种电磁波辐射。利用特征X射线可以进行成分分析。
193、单项选择题 热振动对x-ray衍射的影响中不正确的是（）
A、温度升高引起晶胞膨胀
B、使衍射线强度减小
C、产生热漫散射
D、改变布拉格角
E、热振动在高衍射角所降低的衍射强度较低角下小
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本题答案：E
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194、单项选择题 透射电镜中电中间镜的作用是（）
A、电子源
B、会聚电子束
C、形成第一副高分辨率电子显微图像
D、进一步放大物镜像
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本题答案：D
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195、单项选择题 能提高透射电镜成像衬度的光阑是（）
A、第二聚光镜光阑
B、物镜光阑
C、选区光阑
D、索拉光阑
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本题答案：B
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196、问答题 为波谱仪和能谱仪？说明其工作的三种基本方式，并比较波谱仪和能谱仪的优缺点。
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本题答案：波谱仪：用来检测X射线的特征波长的仪器能谱仪：用来检测
本题解析：试题答案波谱仪：用来检测X射线的特征波长的仪器能谱仪：用来检测X射线的特征能量的仪器
优点：
1）能谱仪探测X射线的效率高。
2）在同一时间对分析点内所有元素X射线光子的能量进行测定和计数，在几分钟内可得到定性分析结果，而波谱仪只能逐个测量每种元素特征波长。
3）结构简单，稳定性和重现性都很好
4）不必聚焦，对样品表面无特殊要求，适于粗糙表面分析。
缺点：
1）分辨率低.
2）能谱仪只能分析原子序数大于11的元素；而波谱仪可测定原子序数从4到92间的所有元素。
3）能谱仪的Si（Li）探头必须保持在低温态，因此必须时时用液氮冷却
197、名词解释 衍射衬度
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本题答案：入射电子束和薄晶体样品之间相互作用后，样品内不同部位组
本题解析：试题答案入射电子束和薄晶体样品之间相互作用后，样品内不同部位组织的成像电子束在像平面上存在强度差别的反映。
198、单项选择题 PDF卡片中，数据最可靠的用（）表示
A、i
B、★
C、○
D、C
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本题答案：B
本题解析：暂无解析
199、问答题 举例说明紫外吸收光谱在分析上有哪些应用。
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本题答案：（1）定性分析：max：化合物特性参数，可作为定性依据
本题解析：试题答案（1）定性分析：max：化合物特性参数，可作为定性依据；有机化合物紫外吸收光谱：反映结构中生色团和助色团的特性，不完全反映分子特性；计算吸收峰波长，确定共扼体系等；甲苯与乙苯：谱图基本相同；结构确定的辅助工具；
（2）定量分析：依据：朗伯-比耳定律：吸光度：A=bc。有机化合物结构的辅助解析。
（3）可获得的结构信息.如：（1）200-400nm无吸收峰。饱和化合物，单烯。（2）270-350nm有吸收峰（ε=10-100）醛酮n→π*跃迁产生的R带。（3）250-300nm有中等强度的吸收峰（ε=200-2000），芳环的特征吸收（具有精细解构的B带）。（4）200-250nm有强吸收峰（ε104），表明含有一个共轭体系（K）带。共轭二烯：K带（230nm）；不饱和醛酮：K带230nm，R带310-330nm，260nm，300nm，330nm有强吸收峰，3，4，5个双键的共轭体系
200、单项选择题 衍射仪法中的试样形状是（）。
A.丝状粉末多晶；
B.块状粉末多晶；
C.块状单晶；
D.任意形状。
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本题答案：B
本题解析：暂无解析
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