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1、问答题 要分析钢中碳化物成分和基体中碳含量，应选用哪种电子探针仪？为什么？
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本题答案：分析钢中碳化物成分可用来源:91exam .org能谱仪；分析基体中碳含量可用波谱
本题解析：试题答案分析钢中碳化物成分可用能谱仪；分析基体中碳含量可用波谱仪，这是因为与波谱仪相比，能谱仪具有以下优点：能谱仪探测X射线的效率高。其灵敏度比波谱仪高约一个数量级。在同一时间对分析点内所有元素X射线光子的能量进行测定和计数，在几分钟内可得到定性分析结果，而波谱仪只能逐个测量每种元素特征波长。结构简单，稳定性和重现性都很好（因为无机械传动）不必聚焦，对样品表面无特殊要求，适于粗糙表面分析。
与波谱仪相比能谱仪具有以下缺点和不足：分辨率低：Si（Li）检测器分辨率约为160eV；波谱仪分辨率为5－10eV能谱仪中因Si（Li）检测器的铍窗口限制了超轻元素的测量，因此它只能分析原子序数大于11的元素；而波谱仪可测定原子序数从4到92间的所有元素。能谱仪的Si（Li）探头必须保持在低温态，因此必须时时用液氮冷却
2、问答题 试从入射光束、样品形状、成相原理、衍射线记录、衍射花样、样品吸收与衍射强度（公式）、衍射装备及应用等方面比较衍射仪法与德拜的异同点。
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本题答案：入射X射线的光束：都为单色的特征X射线，都有光栏调节光
本题解析：试题答案入射X射线的光束：都为单色的特征X射线，都有光栏调节光束。
不同：衍射仪法：采用一定发散度的入射线，且聚焦半径随2θ变化，德拜法：通过进光管限制入射线的发散度。试样形状：衍射仪法为平板状，德拜法为细圆柱状。试样吸收：衍射仪法吸收时间短，德拜法吸收时间长，约为10~20h。记录方式：衍射仪法采用计数率仪作图，与计算机连接可实现自动记录和衅谱处理，德拜法采用环带形底片成相，而且它们的强度（I）对（2θ）的分布（I-2θ曲线）也不同，衍射仪图谱中强度或直接测量精度高，且可获得绝对强度；衍射装备：衍射仪结构复杂成本高，德拜法结构简单造价低；应用：衍射仪与计算机连接，通过许多软件可获得各种信息而得到广泛应用。
3、单项选择题 将所需物相的纯物质另外单独标定，然后与多项混合物中待测相的相应衍射线强度相比较而进行的定量分析方法称为（）
A、外标法
B、内标法
C、直接比较法
D、K值法
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本题答案：A
本题解析：暂无解析
4、问答题 如何区分红外谱图中的醇与酚羟基的吸收峰？
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本题答案：它们的吸收峰的峰位不同。酚羟基在3610cm-1和12
本题解析：试题答案它们的吸收峰的峰位不同。酚羟基在3610cm-1和1200cm-1存在吸收峰，醇羟基则分别在3620-3640和1050-1150cm-1范围内存在吸收；而且含酚羟基的物质存在苯环的特征吸收峰。
5、问答题 多重性因子的物理意义是什么？某立方晶系晶体，其{100}的多重性因子是多少？如该晶体转变为四方晶系，这个晶面族的多重性因子会发生什么变化？为什么？
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本题答案：多重性因子的物理意义是等同晶面个数对衍射强度的影响因数
本题解析：试题答案多重性因子的物理意义是等同晶面个数对衍射强度的影响因数叫作多重性因子。某立方晶系晶体，其{100}的多重性因子是6？如该晶体转变为四方晶系多重性因子是4；这个晶面族的多重性因子会随对称性不同而改变。
6、问答题 你如何用学过的光谱来分析确定乙炔是否已经聚合成了聚乙炔？
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本题答案：可采用红外光谱测试，观察是否有共轭双键生成；可采用紫外
本题解析：试题答案可采用红外光谱测试，观察是否有共轭双键生成；可采用紫外光谱测定，以确定是否有共轭双键生成，以及一些共轭双键长度的信息
7、问答题 二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处？
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本题答案：二次电子像：
1）凸出的尖棱，小粒子以及比较
本题解析：试题答案二次电子像：
1）凸出的尖棱，小粒子以及比较陡的斜面处SE产额较多，在荧光屏上这部分的亮度较大。
2）平面上的SE产额较小，亮度较低。
3）在深凹槽底部尽管能产生较多二次电子，使其不易被控制到，因此相应衬度也较暗。
背散射电子像：
1）用BE进行形貌分析时，其分辨率远比SE像低。
2）BE能量高，以直线轨迹逸出样品表面，对于背向检测器的样品表面，因检测器无法收集到BE而变成一片阴影，因此，其图象衬度很强，衬度太大会失去细节的层次，不利于分析。因此，BE形貌分析效果远不及SE，故一般不用BE信号。
8、单项选择题 为了减小物镜的球差，往往在物镜的背焦面上安放一个（）
A、第二聚光镜光阑
B、物镜光阑
C、选区光阑
D、索拉光阑
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本题答案：B
本题解析：暂无解析
9、问答题 红外谱图在2100-2400cm-1有吸收峰，则可能含有几种什么基团？
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本题答案：碳碳或碳氮三键和各种累积双键、B-H和Si-H等。本题解析：试题答案碳碳或碳氮三键和各种累积双键、B-H和Si-H等。
10、单项选择题 在待测试样中掺入一定含量的标准物质，把试样中待测相的某根衍射线条强度与掺入试样中含量已知的标准物质的某根衍射线条相比较，从而获得待测相含量的定量分析方法称为（）
A、外标法
B、内标法
C、直接比较法
D、K值法
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本题答案：B
本题解析：暂无解析
11、问答题 简述X射线产生的基本条件。
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本题答案：①产生自由电子；
②使电子做定向高速运动；<
本题解析：试题答案①产生自由电子；
②使电子做定向高速运动；
③在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。
12、问答题 何谓衬度？TEM能产生哪几种衬度象，是怎样产生的，都有何用途
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本题答案：衬度是指图象上不同区域间明暗程度的差别。TEM能产生质
本题解析：试题答案衬度是指图象上不同区域间明暗程度的差别。TEM能产生质厚衬度象、衍射衬度象及相位衬度象。质厚衬度是由于样品不同微区间存在的原子序数或厚度的差异而形成的，适用于对复型膜试样电子图象作出解释。晶体试样在进行电镜观察时，由于各处晶体取向不同和（或）晶体结构不同，满足布拉格条件的程度不同，使得对应试样下表面处有不同的衍射效果，从而在下表面形成一个随位置而异的衍射振幅分布，这样形成的衬度，称为衍射衬度。衍衬技术被广泛应用于研究晶体缺陷。如果透射束与衍射束可以重新组合，从而保持它们的振幅和位相，则可直接得到产生衍射的那些晶面的晶格象，或者一个个原子的晶体结构象。这就是相位衬度象，仅适于很薄的晶体试样（≈100Å）。
13、问答题 扫描电镜的分辨率受哪些因素影响？用不同的信号成像时，其分辨率有何不同？所谓扫描电镜的分辨率是指用何种信号成像时的分辨率？
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本题答案：影响因素：电子束束斑大小，检测信号类型，检测部位原子序
本题解析：试题答案影响因素：电子束束斑大小，检测信号类型，检测部位原子序数.SE和HE信号的分辨率最高，BE其次，X射线的最低.扫描电镜的分辨率是指用SE和HE信号成像时的分辨率.
14、单项选择题 由于透镜磁场非旋转对称而引起的像差称为（）
A、球差
B、像散
C、色差
D、背散
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本题答案：B
本题解析：暂无解析
15、问答题 试总结德拜法衍射花样的背底来源，并提出一些防止和减少背底的措施。
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本题答案：德拜法衍射花样的背底来源是入射波的非单色光、进入试样后
本题解析：试题答案德拜法衍射花样的背底来源是入射波的非单色光、进入试样后出生的非相干散射、空气对X射线的散射、温度波动引起的热散射等。采取的措施有尽量使用单色光、缩短曝光时间、恒温试验等。
16、单项选择题 能提高透射电镜成像衬度的光阑是（）
A、第二聚光镜光阑
B、物镜光阑
C、选区光阑
D、索拉光阑
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本题答案：B
本题解析：暂无解析
17、问答题 如何用红外光谱跟踪二氧化硅湿凝胶变为干凝胶的过程？
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本题答案：可采用在线跟踪测试，分别测试不同时间样品的红外谱图；其
本题解析：试题答案可采用在线跟踪测试，分别测试不同时间样品的红外谱图；其次，若变化过程很慢，可采用不同时间取样来测试，综合图谱以获得跟踪结果。
18、单项选择题 扫描电子显微镜配备的成分分析附件中最常见的仪器是（）。
A.波谱仪；
B.能谱仪；
C.俄歇电子谱仪；
D.特征电子能量损失谱。
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本题答案：B
本题解析：暂无解析
19、问答题 在一块冷轧钢板中可能存在哪几种内应力？它的衍射谱有什么特点？按本章介绍的方法可测出哪一类应力？
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本题答案：钢板在冷轧过程中，常常产生残余应力。残余应力是材料及其
本题解析：试题答案钢板在冷轧过程中，常常产生残余应力。残余应力是材料及其制品内部存在的一种内应力，是指产生应力的各种因素不存在时，由于不均匀的塑性变形和不均匀的相变的影响，在物体内部依然存在并自身保持平衡的应力。通常残余应力可分为宏观应力、微观应力和点阵畸变应力三种，分别称为第一类应力、第二类应力和第三类应力。
其衍射谱的特点：
①X射线法测第一类应力，θ角发生变化，从而使衍射线位移。测定衍射线位移，可求出宏观残余应力。
②X射线法测第二类应力，衍射谱线变宽，根据衍 射线形的变化，就能测定微观应力。
③X射线法测第三类应力，这导致衍射线强度降低，根据衍射线的强度下降，可以测定第三类应力。
本章详细介绍了X射线法测残余应力，X射线照射的面积可以小到1--2mm的直径，因此，它可以测定小区域的局部应力，由于X射线穿透能力的限制，它所能记录的是表面10—30um深度的信息，此时垂直于表面的应力分量近似为0，所以它所能处理的是近似的二维应力；另外，对复相合金可以分别测定各相中的应力状态。不过X射线法的测量精度受组织因素影响较大，如晶粒粗大、织构等因素等能使测量误差增大几倍。按本章介绍的方法可测出第一类应力——宏观应力。
20、问答题 要观察钢中基体和析出相的组织形态，同时要分析其晶体结构和共格界面的位向关系，如何制备样品？以怎样的电镜操作方式和步骤来进行具体分析？
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本题答案：通过双喷减薄或离子减薄方法制备电镜样品，观察包括基体和
本题解析：试题答案通过双喷减薄或离子减薄方法制备电镜样品，观察包括基体和析出相的区域，拍摄明、暗场照片；采用样品倾转，使得基体与析出相的界面与电子束平行，用选区光阑套住基体和析出相进行衍射，获得包括基体和析出相的衍射花样进行分析，确定其晶体结构及位向关系。
21、问答题 聚光镜、物镜、中间镜和投影镜各自具有什么功能和特点？
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本题答案：聚光镜：聚光镜用来会聚电子抢射出的电子束，以最小的损失
本题解析：试题答案聚光镜：聚光镜用来会聚电子抢射出的电子束，以最小的损失照明样品，调节照明强度、孔径角和束斑大小。一般都采用双聚光系统，第一聚光系统是强励磁透镜，束斑缩小率为10-15倍左右，将电子枪第一交叉口束斑缩小为φ1--5μm；而第二聚光镜是弱励磁透镜，适焦时放大倍数为２倍左右。结果在样品平面上可获得φ２—１０μm的照明电子束斑。
物镜：物镜是用来形成第一幅高分辨率电子显微图象或电子衍射花样的透镜。投射电子显微镜分辨率的高低主要取决于物镜。因为物镜的任何缺陷都将被成相系统中的其他透镜进一步放大。物镜是一个强励磁短焦距的透镜（f=1--3mm），它的放大倍数高，一般为100-300倍。目前，高质量的物镜其分辨率可达0.1mm左右。
中间镜：中间镜是一个弱励磁的长焦距变倍率透镜，可在0-20倍范围调节。当放大倍数大于1时，用来进一步放大物镜像；当放大倍数小于1时，用来缩小物镜像。在电镜操作过程中，主要利用中间镜的可变倍率来控制电镜的总放大倍数。如果把中间镜的物平面和物镜的像平面重合，则在荧光屏上得到一幅放大像，这就是电子显微镜中的成像操作；如果把中间镜的物平面和物镜的背焦面重合，在在荧光屏上得到一幅电子衍射花样，这就是电子显微镜中的电子衍射操作。
投影镜：投影镜的作用是把中间镜放大（或缩小）的像（或电子衍射花样）进一步放大，并投影到荧光屏上，它和物镜一样，是一个短聚焦的强磁透镜。投影的励磁电流是固定的，因为成像的电子束进入透镜时孔径角很小，因此它的景深和焦长都非常大。即使改变中间竟的放大倍数，是显微镜的总放大倍数有很大的变化，也不会影响图象的清晰度。
22、名词解释 吸收电子
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本题答案：入射电子进入样品后，经多次非弹性散射，能量损失殆尽（假
本题解析：试题答案入射电子进入样品后，经多次非弹性散射，能量损失殆尽（假定样品有足够厚度，没有透射电子产生），最后被样品吸收。吸收电流像可以反映原子序数衬度，同样也可以用来进行定性的微区成分分析。
23、单项选择题 当偏离矢量S<0时，倒易点是在厄瓦尔德球的（）。
A.球面外；
B.球面上；
C.球面内；
D.B+C。
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本题答案：A
本题解析：暂无解析
24、问答题 什么是双束近似单束成象，为什么解释衍衬象有时还要拍摄相应衍射花样？
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本题答案：双束近似是为了满足运动学原理，单束成像是为了获得确定操
本题解析：试题答案双束近似是为了满足运动学原理，单束成像是为了获得确定操作反射下的衍射衬度像。拍摄相应的衍射花样是为了准确地解释衍射衬度像。
25、问答题 分别从原理、衍射特点及应用方面比较X射线衍射和透射电镜中的电子衍射在材料结构分析中的异同点。
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本题答案：原理：X射线照射晶体，电子受迫振动产生相干散射；同一原
本题解析：试题答案原理：X射线照射晶体，电子受迫振动产生相干散射；同一原子内各电子散射波相互干涉形成原子散射波；晶体内原子呈周期排列，因而各原子散射波间也存在固定的位相关系而产生干涉作用，在某些方向上发生相长干涉，即形成衍射。
特点：
1）电子波的波长比X射线短得多
2）电子衍射产生斑点大致分布在一个二维倒易截面内
3）电子衍射中略偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射
4）电子衍射束的强度较大，拍摄衍射花样时间短。
应用：硬X射线适用于金属部件的无损探伤及金属物相分析，软X射线可用于非金属的分析。透射电镜主要用于形貌分析和电子衍射分析（确定微区的晶体结构或晶体学性质）
26、问答题 薄膜样品的基本要求是什么？具体工艺过程如何？双喷减薄与离子减薄各适用于制备什么样品？
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本题答案：样品的基本要求：
1）薄膜样品的组织结构必须
本题解析：试题答案样品的基本要求：
1）薄膜样品的组织结构必须和大块样品相同，在制备过程中，组织结构不变化；
2）样品相对于电子束必须有足够的透明度
3）薄膜样品应有一定强度和刚度，在制备、夹持和操作过程中不会引起变形和损坏；
4）在样品制备过程中不允许表面产生氧化和腐蚀。
样品制备的工艺过程
1）切薄片样品
2）预减薄
3）终减薄离子减薄：
1）不导电的陶瓷样品
2）要求质量高的金属样品
3）不宜双喷电解的金属与合金样品双喷电解减薄：
1）不易于腐蚀的裂纹端试样
2）非粉末冶金试样
3）组织中各相电解性能相差不大的材料
4）不易于脆断、不能清洗的试样
27、问答题 什么叫干涉面？当波长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射，相邻两个（hkl）晶面的波程差是多少？相邻两个（HKL）晶面的波程差是多少？
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本题答案：晶面间距为d’/n、干涉指数为nh、nk、
本题解析：试题答案晶面间距为d’/n、干涉指数为nh、nk、nl的假想晶面称为干涉面。当波长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射，相邻两个（hkl）晶面的波程差是nλ，相邻两个（HKL）晶面的波程差是&l ambda;。
28、名词解释 溅射
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本题答案：入射离子轰击固体时，当表面原子获得足够的动量和能量背离
本题解析：试题答案入射离子轰击固体时，当表面原子获得足够的动量和能量背离表面运动时，就引起表面粒子（原子、离子、原子团等）的发射，这种现象称为溅射。
29、单项选择题 当t=5s/2时，衍射强度为（）。
A.Ig=0；
B.Ig<0；
C.Ig>0；
D.Ig=Imax。
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本题答案：D
本题解析：暂无解析
30、问答题 欲在应力仪（测角仪为立式）上分别测量圆柱形工件之轴向、径向及切向应力工件各应如何放置？假定测角仪为卧式，今要测定一个圆柱形零件的轴向及切向应力，问试样应该如何放置？
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本题答案：当测角仪为立式式，可以使用同倾法中的固定Ψ法中
本题解析：试题答案当测角仪为立式式，可以使用同倾法中的固定Ψ法中的法0o-45o来测应力，此时测量方向平面与扫描平面重合。测工件轴向应力时使圆柱侧面垂直于入射线（此时Ψ＝0o），然后再使样品在测量方向平面内转动45o（此时Ψ＝45o）；测径向应力时，应使样品底面垂直于入射线（此时Ψ＝0o），再使样品在测量方向平面内转动45o（此时Ψ＝45o）；测量切向应力时，应使工件切应力方向垂直于入射线，即使入射线垂直于切向于轴向所形成的平面（此时Ψ＝0o），再使样品在测量方向平面内转动45o（此时Ψ＝45o）。
当测角仪为卧式时，可用侧倾法来测应力，此时即扫描平面（衍射平面）垂直于测量方向平面，当测工件轴向应力时，使工件位于轴向与径向所构成的平面内，侧面垂直于径向，扫描平面位于径向与切向所构成的平面内。测工件切向应力时，使工件轴向垂直于测角仪，测量时转动一定角度即可。
31、问答题 点分辨率和晶格分辨率在意义上有何不同？
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本题答案：点分辨率和晶格分辨率都是表征透射电子显微镜放大本领的参
本题解析：试题答案点分辨率和晶格分辨率都是表征透射电子显微镜放大本领的参数，但点分辨率的测定与透镜的总放大倍数有关，是将铂、铂－铱或铂－钯等金属或合金，用真空蒸发的方法可以得到粒度为5～10Å、间距为2～10Å的粒子，将其均匀地分布在火胶棉（或碳）支持膜上，在高放大倍数下拍摄这些粒子的像，然后经光学放大（5倍左右），从照片上找出粒子间最小间距，除以总放大倍数得到；而晶格分辨率的测定要求制作标样（采用外延生长的方法制得的定向单晶薄膜）并拍摄其晶格像，由已知的样品晶面间距得到具体的衍射晶面，这种方法是条纹干涉像，不是真正的点分辨率。
32、问答题 洛伦兹因数是表示什么对衍射强度的影响？其表达式是综合了哪几方面考虑而得出的？
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本题答案：洛伦兹因数是表示掠射角对衍射强度的影响。洛伦兹因数表达
本题解析：试题答案洛伦兹因数是表示掠射角对衍射强度的影响。洛伦兹因数表达式是综合了样品中参与衍射的晶粒大小，晶粒的数目和衍射线位置对衍射强度的影响。
33、单项选择题 当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（）
A.短波限λ0；
B.激发限λk；
C.吸收限；
D.特征X射线
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本题答案：A
本题解析：暂无解析
34、单项选择题 洛伦兹因子中，第二几何因子反映的是（）
A、晶粒大小对衍射强度的影响
B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响
C、衍射线位置对衍射强度的影响
D、试样形状对衍射强度的影响
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本题答案：B
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35、问答题 何为可动光阑？第二聚光镜光阑、物镜光阑和选区光阑在电镜的什么位置？它们各具有什么功能？
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本题答案：可动光阑即为可以调节的非固定光阑。
第二聚光
本题解析：试题答案可动光阑即为可以调节的非固定光阑。
第二聚光镜光阑在双聚光镜系统中，光阑常安装在第二聚光镜的下方。其作用是限制照明孔径角。
物镜光阑：又称衬度光阑，通常它被放在物镜的后焦面上。物镜光阑不仅具有减小球差，像散和色差的作用，
而且可以提高图像的衬度。加入物镜光阑使物镜孔径角减小，能减小相差，得到质量较高的显微图像。物镜光阑的另一个主要作用是在后焦面上套取衍射束的斑点（副焦点）成像，这就是所谓的暗场像。利用明暗场显微照片的对照分析，可以方便地进行物相鉴定和缺陷分析。
选区光阑又称场限光阑或场光阑。一般都放在物镜的像平面位置。其作用是便于分析样品上的一个微小区域。
36、单项选择题 由于入射电子波长的非单一性造成的像差称为（）
A、球差
B、像散
C、色差
D、背散
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本题答案：C
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37、单项选择题 当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（）
A.光电子；
B.二次荧光；
C.俄歇电子；
D.A+C
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本题答案：D
本题解析：暂无解析
38、单项选择题 透射电子显微镜中可以消除的像差是（）。
A.球差；
B.像散；
C.色差。
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本题答案：B
本题解析：暂无解析
39、问答题 某一粉末相上背射区线条与透射区线条比较起来，其θ较高抑或较低？相应的d较大还是较小？
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本题答案：背射区线条与透射区线条比较θ较高，d较小。
本题解析：试题答案背射区线条与透射区线条比较θ较高，d较小。产生衍射线必须符合布拉格方程2dsinθ=λ，对于背射区属于2θ高角度区，根据d=λ/2sinθ，θ越大d越小。
40、单项选择题 X射线物相定性分析时，若已知材料的物相可以查（）进行核对。
A.哈氏无机数值索引；
B.芬克无机数值索引；
C.戴维无机字母索引；
D.A或B。
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本题答案：C
本题解析：暂无解析
41、名词解释 衍射衬度
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本题答案：入射电子束和薄晶体样品之间相互作用后，样品内不同部位组
本题解析：试题答案入射电子束和薄晶体样品之间相互作用后，样品内不同部位组织的成像电子束在像平面上存在强度差别的反映。
42、问答题 扫描电镜的成像原理与透射电镜有何不同?
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本题答案：扫描电子显微镜（Scanning electron m
本题解析：试题答案扫描电子显微镜（Scanning electron microscope--SEM）是以类似电视摄影显像的方式，通过细聚焦电子束在样品表面扫描激发出的各种物理信号来调制成像的显微分析技术。SEM成像原理与TEM完全不同，不用电磁透镜放大成像
43、名词解释 Hanawalt索引
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本题答案：数字索引的一种，每种物质的所有衍射峰之中，必然有三个峰
本题解析：试题答案数字索引的一种，每种物质的所有衍射峰之中，必然有三个峰的强度最大（而非面网间距最大）。把这三个强度最大的峰，按一定的规律排序，就构成了Hanawalt排序和索引方法。排序时，考虑到影响强度的因素比较复杂，为了减少因强度测量的差异而带来的查找困难，索引中将每种物质列出三次。数据检索时，按实际衍射图谱中的3强峰进行数据检索，即可找到对应的衍射卡片。
44、问答题 为波谱仪和能谱仪？说明其工作的三种基本方式，并比较波谱仪和能谱仪的优缺点。
91EXAm.org
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本题答案：波谱仪：用来检测X射线的特征波长的仪器能谱仪：用来检测
本题解析：试题答案波谱仪：用来检测X射线的特征波长的仪器能谱仪：用来检测X射线的特征能量的仪器
优点：
1）能谱仪探测X射线的效率高。
2）在同一时间对分析点内所有元素X射线光子的能量进行测定和计数，在几分钟内可得到定性分析结果，而波谱仪只能逐个测量每种元素特征波长。
3）结构简单，稳定性和重现性都很好
4）不必聚焦，对样品表面无特殊要求，适于粗糙表面分析。
缺点：
1）分辨率低.
2）能谱仪只能分析原子序数大于11的元素；而波谱仪可测定原子序数从4到92间的所有元素。
3）能谱仪的Si（Li）探头必须保持在低温态，因此必须时时用液氮冷却
45、问答题 红外谱图在1600-1700cm-1有吸收峰，则可能含有几种什么基团？
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本题答案：可能含有碳碳双键，或碳氧双键，或碳氮双键，或水等。本题解析：试题答案可能含有碳碳双键，或碳氧双键，或碳氮双键，或水等。
46、问答题 消像散器的作用和原理是什么？
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本题答案：消像散器的作用就是用来消除像散的。其原理就利用外加的磁
本题解析：试题答案消像散器的作用就是用来消除像散的。其原理就利用外加的磁场把固有的椭圆形磁场校正成接近旋转对称的磁场。机械式的消像散器式在电磁透镜的磁场周围放置几块位置可以调节的导磁体来吸引一部分磁场从而校正固有的椭圆形磁场。而电磁式的是通过电磁板间的吸引和排斥来校正椭圆形磁场的。
47、单项选择题 关于相机分辨率的影响因素叙述错误的是（）
A、相机半径越大，分辨率越高
B、θ角越大，分辨率越高
C、X射线波长越小，分辨率越高
D、晶面间距越大，分辨率越低
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本题答案：C
本题解析：暂无解析
48、单项选择题 透射电镜中聚光镜的作用是（）
A、电子源
B、会聚电子束
C、形成第一副高分辨率电子显微图像
D、进一步放大物镜像
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本题答案：B
本题解析：暂无解析
49、问答题 什么是衍射衬度？它与质厚衬度有什么区别？
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本题答案：由样品各处衍射束强度的差异形成的衬度称为衍射衬度。或是
本题解析：试题答案由样品各处衍射束强度的差异形成的衬度称为衍射衬度。或是由样品各处满足布拉格条件程度的差异造成的。对于晶体薄膜样品而言，厚度大致均匀，原子序数也无差别，因此，不可能利用质厚衬度来获得图象反差，这样，晶体薄膜样品成像是利用衍射衬度成像，简称“衍射衬度”非晶（复型）样品电子显微图像衬度是由于样品不同微区间存在原子序数或厚度的差异而形成的，即质厚衬度，质厚衬度是建立在非晶样品中原子对电子的散射和透射电子显微镜小孔径成像的基础上的。
50、问答题 举例说明如何用选区衍射的方法来确定新相的惯习面及母相与新相的位相关系。
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本题答案：例如分析淬火钢回火时，碳化物沿母相马氏体中析出，可以用
本题解析：试题答案例如分析淬火钢回火时，碳化物沿母相马氏体中析出，可以用选区光阑套住（选取）包括母相马氏体和析出的碳化物的选区成像和进行衍射，根据衍射花样标定的晶体结构与位向，对照碳化物与母相的界限确定新相惯析面；根据新相与母相的衍射花样确定两相的位向关系。
51、名词解释 背散射电子
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本题答案：入射电子与固体作用后又离开固体的电子。
本题解析：试题答案入射电子与固体作用后又离开固体的电子。
52、单项选择题 若H-800电镜的最高分辨率是0.5nm，那么这台电镜的有效放大倍数是（）。
A.1000；
B.10000；
C.40000；
D.600000。
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本题答案：C
本题解析：暂无解析
53、问答题 照明系统的作用是什么？它应满足什么要求？
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本题答案：照明系统由电子枪、聚光镜和相应的平移对中、倾斜调节装置
本题解析：试题答案照明系统由电子枪、聚光镜和相应的平移对中、倾斜调节装置组成。它的作用是提供一束亮度高、照明孔经角小、平行度好、束流稳定的照明源。它应满足明场和暗场成像需求。
54、问答题 为什么说从衍射观点看有些倒易点阵也是衍射点阵，其倒易点不是几何点？其形状和所具有的强度取决于哪些因素，在实际上有和重要意义？
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本题答案：倒易点阵中的一个点代表的是正点阵中的一组晶面。衍射点阵
本题解析：试题答案倒易点阵中的一个点代表的是正点阵中的一组晶面。衍射点阵是那些能产生衍射（去掉结构消光）的倒易点阵。衍射点阵中倒易点不是几何点，其形状和强度取决于晶体形状和倒易体与厄瓦尔德球相交的位置。根据衍射花样可以推测晶体形态或缺陷类型以及衍射偏离布拉格角的程度。
55、单项选择题 透射电镜中物镜的作用是（）
A、电子源
B、会聚电子束
C、形成第一副高分辨率电子显微图像
D、进一步放大物镜像
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本题答案：C
本题解析：暂无解析
56、单项选择题 洛伦兹因子中，第一几何因子反映的是（）
A、晶粒大小对衍射强度的影响
B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响
C、衍射线位置对衍射强度的影响
D、试样形状对衍射强度的影响
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本题答案：A
本题解析：暂无解析
57、单项选择题 不利于提高德拜相机的分辨率的是（）。
A.采用大的相机半径；
B.采用X射线较长的波长；
C.选用大的衍射角；
D.选用面间距较大的衍射面。
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本题答案：D
本题解析：暂无解析
58、问答题 说明透射电子显微镜成像系统的主要构成、安装位置、特点及其作用。
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本题答案：主要由物镜、物镜光栏、选区光栏、中间镜和投影镜组成.<
本题解析：试题答案主要由物镜、物镜光栏、选区光栏、中间镜和投影镜组成.
1）物镜：强励磁短焦透镜（f=1-3mm），放大倍数100—300倍。作用：形成第一幅放大像
2）物镜光栏：装在物镜背焦面，直径20—120um，无磁金属制成。作用：A.提高像衬度，B.减小孔经角，从而减小像差。C.进行暗场成像
3）选区光栏：装在物镜像平面上，直径20-400um，作用：对样品进行微区衍射分析。
4）中间镜：弱压短透镜，长焦，放大倍数可调节0—20倍作用A.控制电镜总放大倍数。B.成像/衍射模式选择。
5）投影镜：短焦、强磁透镜，进一步放大中间镜的像。投影镜内孔径较小，使电子束进入投影镜孔径角很小。小孔径角有两个特点：A.景深大，改变中间镜放大倍数，使总倍数变化大，也不影响图象清晰度。焦深长，放宽对荧光屏和底片平面严格位置要求
59、问答题 测角仪在采集衍射图时，如果试样表面转到与入射线成300角，则计数管与入射线所成角度为多少？能产生衍射的晶面，与试样的自由表面是何种几何关系？
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本题答案：当试样表面与入射X射线束成30°角时，计数管与入射X射线束的
本题解析：试题答案当试样表面与入射X射线束成30°角时，计数管与入射X射线束的夹角是600。能产生衍射的晶面与试样的自由表面平行。
60、问答题 物相定性分析的原理是什么？对食盐进行化学分析与物相定性分析，所得信息有何不同？
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本题答案：物相定性分析的原理：X射线在某种晶体上的衍射必然反映出
本题解析：试题答案物相定性分析的原理：X射线在某种晶体上的衍射必然反映出带有晶体特征的特定的衍射花样（衍射位置θ、衍射强度I），而没有两种结晶物质会给出完全相同的衍射花样，所以我们才能根据衍射花样与晶体结构一一对应的关系，来确定某一物相。
对食盐进行化学分析，只可得出组成物质的元素种类（Na，Cl等）及其含量，却不能说明其存在状态，亦即不能说明其是何种晶体结构，同种元素虽然成分不发生变化，但可以不同晶体状态存在，对化合物更是如此。定性分析的任务就是鉴别待测样由哪些物相所组成。
61、问答题 在水平测角器的衍射仪上安装一侧倾附件，用侧倾法测定轧制板材的残余应力，当测量轧向和横向应力时，试样应如何放置？
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本题答案：测倾法的特点是测量方向平面与扫描平面垂直，也就是说测量
本题解析：试题答案测倾法的特点是测量方向平面与扫描平面垂直，也就是说测量扎制板材的残余应力时，其扎向和横向要分别与扫描平面垂直。
62、问答题 欠焦量和样品厚度对相位衬度有何影响？
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本题答案：欠焦量是影响相位衬度的关键因素，只有在最佳欠焦量下（满
本题解析：试题答案欠焦量是影响相位衬度的关键因素，只有在最佳欠焦量下（满足谢尔策欠焦条件）才能获得高相位衬度；样品厚度也是影响相位衬度的重要因素，随样品厚度增加，透射波和衍射波的振幅、相位随之而变，成像机制也发生改变，逐渐由相位衬度转变为振幅衬度。
63、问答题 为何对称入射时，即只有倒易点阵原点在爱瓦尔德球面上，也能得到除中心斑点以外的一系列衍射斑点？
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本题答案：如果倒易点是几何点，那么对称入射时就没有倒易点落在厄瓦
本题解析：试题答案如果倒易点是几何点，那么对称入射时就没有倒易点落在厄瓦尔德球上。但是，由于电镜样品是薄样品，倒易点拉长成倒易杆。倒易杆与厄瓦尔德球相交可以产生衍射。
64、名词解释 点分辨率与晶格分辨率
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本题答案：点分辨率是电镜能够分辨的两个物点间的最小间距；晶格分辨率是能
本题解析：试题答案点分辨率是电镜能够分辨的两个物点间的最小间距；晶格分辨率是能够分辨的具有最小面间距的晶格像的晶面间距。
65、问答题 现代分析型电镜具有那些功能？如何在材料微观分析中运用这些功能？
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本题答案：现代分析电镜主要指透射电子显微镜及其外围分析设备。简称
本题解析：试题答案现代分析电镜主要指透射电子显微镜及其外围分析设备。简称分析型透射电镜，AEM。其主要功能除进行形貌观察、衍衬分析外，还能够利用能谱仪、电子能量损失谱进行成分分析。还可以利用相应的样品台，在透射电镜中作原位观察、加热相变观察、冷却相变观察和拉伸试验。会聚束电子衍射也是分析型电子显微镜的附加功能。
66、问答题 原子吸收分析中为什么选择共振线作吸收线？
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本题答案：共振线是元素的特征谱线，最易发生、吸收最强、最灵敏线。
本题解析：试题答案共振线是元素的特征谱线，最易发生、吸收最强、最灵敏线。
67、问答题 磁透镜的像差是怎样产生的？如何来消除和减少像差？
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本题答案：像差分为球差，像散，色差.球差是磁透镜中心区和边沿区对
本题解析：试题答案像差分为球差，像散，色差.球差是磁透镜中心区和边沿区对电子的折射能力不同引起的.增大透镜的激磁电流可减小球差.像散是由于电磁透镜的周向磁场不非旋转对称引起的.可以通过引入一强度和方位都可以调节的矫正磁场来进行补偿.色差是电子波的波长或能量发生一定幅度的改变而造成的.稳定加速电压和透镜电流可减小色差.
68、问答题 制备复型的材料应具备什么条件？
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本题答案：（1）复型材料本身必须是非晶态材料。
（2）
本题解析：试题答案（1）复型材料本身必须是非晶态材料。
（2）复型材料的粒子尺寸必须很小。
（3）复型材料应具备耐电子轰击的性能，即在电子束照射下能保持稳定，不发生分解和破坏。
69、问答题 “一束X射线照射一个原子列（一维晶体），只有镜面反射方向上才有可能产生衍射线”，此种说法是否正确？
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本题答案：不正确，因为一束X射线照射一个原子列上，原子列上每个原
本题解析：试题答案不正确，因为一束X射线照射一个原子列上，原子列上每个原子受迫都会形成新的X射线源向四周发射与入射光波长一致的新的X射线，只要符合光的干涉三个条件（光程差是波长的整数倍），不同点光源间发出的X射线都可产生干涉和衍射。镜面反射，其光程差为零，是特殊情况。
70、单项选择题 粉末照相法所用的试样形状为（）
A、块状
B、分散
C、圆柱形
D、任意形状
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本题答案：C
本题解析：暂无解析
71、问答题 影响电磁透镜景深和焦长的主要因素是什么？景深和焦长对透射电子显微镜的成像和设计有何影响？
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本题答案：（1）把透镜物平面允许的轴向偏差定义为透镜的景深，影响
本题解析：试题答案（1）把透镜物平面允许的轴向偏差定义为透镜的景深，影响它的因素有电磁透镜分辨率、孔径半角，电磁透镜孔径半角越小，景深越大，如果允许较差的像分辨率（取决于样品），那么透镜的景深就更大了；把透镜像平面允许的轴向偏差定义为透镜的焦长，影响它的因素有分辨率、像点所张的孔径半角、透镜放大倍数，当电磁透镜放大倍数和分辨率一定时，透镜焦长随孔径半角的减小而增大。
（2）透射电子显微镜的成像系统由物镜、中间镜和投影镜组成。物镜的作用是形成样品的第一次放大镜，电子显微镜的分辨率是由一次像来决定的，物镜是一个强励磁短焦距的透镜，它的放大倍数较高。中间镜是一个弱透镜，其焦距很长，放大倍数可通过调节励磁电流来改变，在电镜操作过程中，主要是利用中间镜的可变倍率来控制电镜的放大倍数。投影镜的作用是把中间镜放大（或缩小）的像进一步 放大，并投影到荧光屏上，它和物镜一样，是一个短焦距的强磁电镜。而磁透镜的焦距可以通过线圈中所通过的电流大小来改变，因此它的焦距可任意调节。用磁透镜成像时，可以在保持物距不变的情况下，改变焦距和像距来满足成像条件，也可以保持像距不变，改变焦距和物距来满足成像条件。
在用电子显微镜进行图象分析时，物镜和样品之间的距离总是固定不变的，因此改变物镜放大倍数进行成像时，主要是改变物镜的焦距和像距来满足条件；中间镜像平面和投影镜物平面之间距离可近似地认为固定不变，因此若要荧光屏上得到一张清晰的放大像必须使中间镜的物平面正好和物镜的像平面重合，即通过改变中间镜的励磁电流，使其焦距变化，与此同时，中间镜的物距也随之变化。
大的景深和焦长不仅使透射电镜成像方便，而且电镜设计荧光屏和相机位置非常方便。
72、单项选择题 菊池线可以帮助（）。
A.估计样品的厚度；
B.确定180º不唯一性；
C.鉴别有序固溶体；
D.精确测定晶体取向。
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本题答案：D
本题解析：暂无解析
73、问答题 什么是消光距离？影响晶体消光距离的主要物性参数和外界条件是什么？
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本题答案：消光距离：由于透射波和衍射波强烈的动力学相互作用结果，
本题解析：试题答案消光距离：由于透射波和衍射波强烈的动力学相互作用结果，使I0和Ig在晶体深度方向上发生周期性的振荡，此振荡的深度周期叫消光距离。影响因素：晶胞体积，结构因子，Bragg角，电子波长。
74、单项选择题 可以消除的像差是（）。
A.球差；
B.像散；
C.色差；
D.A+B。
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本题答案：B
本题解析：暂无解析
75、问答题 原子发射光谱是怎么产生的？其特点是什么？
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本题答案：原子的外层电子由高能级向低能级跃迁，能量以电磁辐射的形
本题解析：试题答案原子的外层电子由高能级向低能级跃迁，能量以电磁辐射的形式发射出去，这样就得到发射光谱。原子发射光谱特点是线状光谱。
76、名词解释 孔径半角
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本题答案：孔径半角是物镜孔径角的一半，而物镜孔径角是物镜光轴上的
本题解析：试题答案孔径半角是物镜孔径角的一半，而物镜孔径角是物镜光轴上的物体点与物镜前透镜的有效直径所形成的角度。因此，孔径半角是物镜光轴上的物体点与物镜前透镜的有效直径所形成的角度的一半。
77、问答题 粉末样品颗粒过大或过小对德拜花样影响如何？为什么？板状多晶体样品晶粒过大或过小对衍射峰形影响又如何？
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本题答案：粉末样品颗粒过大会使德拜花样不连续，或过小，德拜宽度增
本题解析：试题答案粉末样品颗粒过大会使德拜花样不连续，或过小，德拜宽度增大，不利于分析工作的进行。因为当粉末颗粒过大（大于10-3cm）时，参加衍射的晶粒数减少，会使衍射线条不连续；不过粉末颗粒过细（小于10-5cm）时，会使衍射线条变宽，这些都不利于分析工作。
多晶体的块状试样，如果晶粒足够细将得到与粉末试样相似的结果，即衍射峰宽化。但晶粒粗大时参与反射的晶面数量有限，所以发生反射的概率变小，这样会使得某些衍射峰强度变小或不出现。
78、问答题 晶格条纹像和结构像有何异同点？二者成像条件有何不同？
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本题答案：晶格像是以透射波和同晶带的衍射波干涉生成晶格条纹，晶格
本题解析：试题答案晶格像是以透射波和同晶带的衍射波干涉生成晶格条纹，晶格像广泛用在晶格缺陷、界面、表面和相变等领域的研究上，期刊杂志上发表的大多数高分辨电镜图像是二维晶格像。
结构像是透射束加多个衍射束在平行晶带轴条件下成像，要满足谢尔策欠焦。结构像最大特点是像衬度可以直接观察到单胞中原子及其排列的情况，或与模拟像进行比较可以确定衬度与样品原子及排列的对应关系，因此结构像可以在原子尺度上定量研究晶体结构和缺陷结构。
79、问答题 分析电子衍射与x射线衍射有何异同？
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本题答案：电子衍射与X射线衍射相比具有下列特点：
（1
本题解析：试题答案电子衍射与X射线衍射相比具有下列特点：
（1）电子波的波长比X射线短得多，因此，在同样满足布拉格条件时，它的衍射角度很小，10-2rad，而X射线最大衍射角可达π/2。
（2）电子衍射产生斑点大致分布在一个二维倒易截面内，晶体产生的衍射花样能比较直观地反映晶体内各晶面的位向。因为电子波长短，用Ewald图解时，反射球半径很大，在衍射角很小时的范围内，反射球的球面可近似为平面。
（3）电子衍射用薄晶体样品，其倒易点沿样品厚度方向扩展为倒易杆，增加了倒易点和Ewald球相交截面机会，结果使略偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射。
（4）电子衍射束的强度较 大，拍摄衍射花样时间短。因为原子对电子的散射能力远大于对X射线的散射能力。
80、问答题 衍射线在空间的方位取决于什么？而衍射线的强度又取决于什么？
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本题答案：衍射线在空间的方位主要取决于晶体的面网间距，或者晶胞的
本题解析：试题答案衍射线在空间的方位主要取决于晶体的面网间距，或者晶胞的大小。衍射线的强度主要取决于晶体中原子的种类和它们在晶胞中的相对位置。
81、问答题 为什么特征X射线的产生存在一个临界激发电压？X射线管的工作电压与其靶材的临界激发电压有什么关系？为什么？
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本题答案：要使内层电子受激发，必须给予施加大于或等于其结合能的能
本题解析：试题答案要使内层电子受激发，必须给予施加大于或等于其结合能的能量，才能使其脱离轨道，从而产生特征X射线，而要施加的最低能量，就存在一个临界激发电压。X射线管的工作电压一般是其靶材的临界激发电压的3-5倍，这时特征X射线对连续X射线比例最大，背底较低。
82、问答题 测角仪在采集衍射图时，如果试样表面转到与入射线成30°角，则计数管与人射线所成角度为多少？能产生衍射的晶面，与试样的自由表面呈何种几何关系？
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本题答案：60度。因为计数管的转速是试样的2倍。辐射探测器接收的
本题解析：试题答案60度。因为计数管的转速是试样的2倍。辐射探测器接收的衍射是那些与试样表面平行的晶面产生的衍射。晶面若不平行于试样表面，尽管也产生衍射，但衍射线进不了探测器，不能被接收。
83、问答题 X射线的本质是什么？是谁首先发现了X射线，谁揭示了X射线的本质？
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本题答案：X射线的本质是一种横电磁波；伦琴首先发现了X射线，劳厄
本题解析：试题答案X射线的本质是一种横电磁波；伦琴首先发现了X射线，劳厄揭示了X射线的本质。
84、单项选择题 当第二相粒子与基体呈共格关系时，此时所看到的粒子大小（）。
A.小于真实粒子大小；
B.是应变场大小；
C.与真实粒子一样大小；
D.远远大于真实粒子
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本题答案：B
本题解析：暂无解析
85、单项选择题 选区光栏在TEM镜筒中的位置是（）。
A.物镜的物平面；
B.物镜的像平面
C.物镜的背焦面；
D.物镜的前焦面。
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本题答案：B
本题解析：暂无解析
86、单项选择题 薄片状晶体的倒易点形状是（）。
A.尺寸很小的倒易点；
B.尺寸很大的球；
C.有一定长度的倒易杆；
D.倒易圆盘。
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本题答案：C
本题解析：暂无解析
87、单项选择题 立方晶系{100}晶面的多重性因子为（）
A、2
B、3
C、4
D、6
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本题答案：D
本题解析：暂无解析
88、单项选择题 最常用的X射线衍射方法是（）。
A.劳厄法；
B.粉末多法；
C.周转晶体法；
D.德拜法。
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本题答案：B
本题解析：暂无解析
89、问答题 简述连续X射线产生实质。
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本题答案：假设管电流为10mA，则每秒到达阳极靶上的电子数可达6
本题解析：试题答案假设管电流为10mA，则每秒到达阳极靶上的电子数可达6.25x10（16）个，如此之多的电子到达靶上的时间和条件不会相同，并且绝大多数达到靶上的电子要经过多次碰撞，逐步把能量释放到零，同时产生一系列能量为hv（i）的光子序列，这样就形成了连续X射线。
90、问答题 物相定量分析的原理是什么？试述用K值法进行物相定量分析的过程。
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本题答案：根据X射线衍射强度公式，某一物相的相对含量的增加，其衍
本题解析：试题答案根据X射线衍射强度公式，某一物相的相对含量的增加，其衍射线的强度亦随之增加，所以通过衍射线强度的数值可以确定对应物相的相对含量。由于各个物相对X射线的吸收影响不同，X射线衍射强度与该物相的相对含量之间不成线性比例关系，必须加以修正。
这是内标法的一种，是事先在待测样品中加入纯元素，然后测出定标曲线的斜率即K值。当要进行这类待测材料衍射分析时，已知K值和标准物相质量分数ωs，只要测出a相强度Ia与标准物相的强度Is的比值Ia/Is就可以求出a相的质量分数ωa。
91、问答题 特征X射线与荧光X射线的产生机理有何异同？某物质的K系荧光X射线波长是否等于它的K系特征X射线波长？
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本题答案：特征X射线与荧光X射线都是由激发态原子中的高能级电子向
本题解析：试题答案特征X射线与荧光X射线都是由激发态原子中的高能级电子向低能级跃迁时，多余能量以X射线的形式放出而形成的。不同的是：高能电子轰击使原子处于激发态，高能级电子回迁释放的是特征X射线；以X射线轰击，使原子处于激发态，高能级电子回迁释放的是荧光X射线。某物质的K系特征X射线与其K系荧光X射线具有相同波长。
92、单项选择题 德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（）。
A.正装法；
B.反装法；
C.偏装法；
D.A+B。
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本题答案：C
本题解析：暂无解析
93、问答题 透射电镜主要由几大系统构成？各系统之间关系如何？
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本题答案：四大系统：电子光学系统，真空系统，供电控制系统，附加仪
本题解析：试题答案四大系统：电子光学系统，真空系统，供电控制系统，附加仪器系统。其中电子光学系统是其核心。其他系统为辅助系统。
94、问答题 简述X射线光电子能谱的分析特点。
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本题答案：X射线光电子能谱是以X射线光子激发样品材料产生光电子来
本题解析：试题答案X射线光电子能谱是以X射线光子激发样品材料产生光电子来分析材料成分和原子价态等。
它的分析特点有：
1.分析的成分是材料10nm以内的表层成分；
2.可以通过对化学位移的分析，给出所含元素的化学结构；
3.是一种无损分析方法（样品不被X射线分解）；
4.是一种超微量分析技术（分析时所需样品量少）；
5.是一种痕量分析方法（绝对灵敏度高）。但X射线光电子能谱分析相对灵敏度不高，只能检测出样品中含量在0.1%以上的组分。
95、问答题 何谓“指纹区”？它有什么特点和用途？
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本题答案：是由于C-C、C-O、C-X单键的伸缩振动以及分子骨架
本题解析：试题答案是由于C-C、C-O、C-X单键的伸缩振动以及分子骨架中多数基团的弯曲振动而产生的吸收光谱，非常复杂，如同人的指纹一样，没有两人完全一样。只要在化学结构上存在微小的差异（如同系物、同分异构体和空间异构体），在指纹区的吸收都有明显的不同，所以，“指纹区”对化合物的鉴别很有用。
96、问答题 要观察钢中基体和析出相的组织形态，同时要分析其晶体结构和共格界面的位向关系，如何制备样品？以怎样的电镜操作方式和步骤来进行具体分析？
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本题答案：通过双喷减薄或离子减薄方法制备电镜样品，观察包括基体和
本题解析：试题答案通过双喷减薄或离子减薄方法制备电镜样品，观察包括基体和析出相的区域，拍摄明、暗场照片；采用样品倾转，使得基体与析出相的界面与电子束平行，用选区光阑套住基体和析出相进行衍射，获得包括基体和析出相的衍射花样进行分析，确定其晶体结构及位向关系。
97、问答题 说明多晶、单晶及厚单晶衍射花样的特征及形成原理。
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本题答案：多晶衍射花样是晶体倒易球与反射球的交线，是一个个以透射
本题解析：试题答案多晶衍射花样是晶体倒易球与反射球的交线，是一个个以透射斑为中心的同心圆环；单晶衍射花样是晶体倒易点阵去掉结构消光的倒易杆与反射球的交点，这些点构成平行四边形衍射花样；当单晶体较厚时，由于散射因素的影响会出现除衍射花样外的一明一暗线对的菊池衍射花样。
98、名词解释 暗场像
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本题答案：用物镜光阑挡住透射束及其余衍射束，而只让一束强衍射束通
本题解析：试题答案用物镜光阑挡住透射束及其余衍射束，而只让一束强衍射束通过光阑参与成像的方法，称为暗场成像，所得图象为暗场像。
99、问答题 紫外光谱常用来鉴别哪几类有机物？
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本题答案：普通紫外光谱用来鉴别具有共轭双键、电荷迁移跃迁和配位场
本题解析：试题答案普通紫外光谱用来鉴别具有共轭双键、电荷迁移跃迁和配位场跃迁的物质。但紫外光谱常作为辅助的鉴别手段。
100、问答题 举例说明紫外吸收光谱在分析上有哪些应用。
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本题答案：（1）定性分析：max：化合物特性参数，可作为定性依据
本题解析：试题答案（1）定性分析：max：化合物特性参数，可作为定性依据；有机化合物紫外吸收光谱：反映结构中生色团和助色团的特性，不完全反映分子特性；计算吸收峰波长，确定共扼体系等；甲苯与乙苯：谱图基本相同；结构确定的辅助工具；
（2）定量分析：依据：朗伯-比耳定律：吸光度：A=bc。有机化合物结构的辅助解析。
（3）可获得的结构信息.如：（1）200-400nm无吸收峰。饱和化合物，单烯。（2）270-350nm有吸收峰（ε=10-100）醛酮n→π*跃迁产生的R带。（3）250-300nm有中等强度的吸收峰（ε=200-2000），芳环的特征吸收（具有精细解构的B带）。（4）200-250nm有强吸收峰（ε104），表明含有一个共轭体系（K）带。共轭二烯：K带（230nm）；不饱和醛酮：K带230nm，R带310-330nm，260nm，300nm，330nm有强吸收峰，3，4，5个双键的共轭体系
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