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1、问答题  为什么说X衍射线束的强度与晶胞中的原子位置和种类有关？

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本题答案：因为X射线强度取决于结构因子F，而结构因子会因晶胞中的
本题解析：试题答案因为X射线强度取决于结构因子F，而结构因子会因晶胞中的原子位置和种类而不同。所以说X衍射线束的强度与晶胞中的原子位置和种类有关。

2、问答题  解释红外光谱图的一般程序是什么？

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本题答案：运用红外光谱解谱的四要素，分析吸收峰对应的基团；若是单纯物质
本题解析：试题答案运用红外光谱解谱的四要素，分析吸收峰对应的基团；若是单纯物质可对照SADLTER标准图谱；还可从数据库查相应发表文献的红外光谱信息。

3、问答题  成像系统的主要构成及其特点是什么？

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本题答案：成像系统主要是由物镜、中间镜和投影镜组成。

本题解析：试题答案成像系统主要是由物镜、中间镜和投影镜组成。
（1）物镜：物镜是一个强激磁短焦距的透镜（f＝1到3mm），它的放大倍数较高，一般为100到300倍。目前，高质量的物镜其分辨率可达0.1nnm左右。
（2）中间镜：中间镜是一个 91EXAm.org弱激磁的长焦距变倍透镜，可在0到20倍范围调节。当放大倍数大于1时，用来进一步放大物镜像；当放大倍数小于1时，用来缩小物镜像。
（3）投影镜：投影镜的作用是把经中间镜放大（或缩小）的像（或电子衍射花样）进一步放大，并投影到荧光屏上，它和物镜一样，是一个短焦距的强激磁透镜。

4、问答题  陶瓷纳米/微米颗粒的红外光谱的分析样品该如何制，为什么？

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本题答案：陶瓷纳米/微米颗粒与KBr压片制备测试样品，也可采用红
本题解析：试题答案陶瓷纳米/微米颗粒与KBr压片制备测试样品，也可采用红外光谱的反射式测试方法直接测试粉状样品。

5、单项选择题  由于透镜磁场非旋转对称而引起的像差称为（）

A、球差
B、像散
C、色差
D、背散

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本题答案：B
本题解析：暂无解析

6、问答题  如何用红外光谱跟踪二氧化硅湿凝胶变为干凝胶的过程？

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本题答案：可采用在线跟踪测试，分别测试不同时间样品的红外谱图；其
本题解析：试题答案可采用在线跟踪测试，分别测试不同时间样品的红外谱图；其次，若变化过程很慢，可采用不同时间取样来测试，综合图谱以获得跟踪结果。

7、问答题  什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”？

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本题答案：⑴当χ射线通过物质时，物质原子的电子在电磁场的
本题解析：试题答案⑴当χ射线通过物质时，物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动，受迫振动产生交变电磁场，其频率与入射线的频率相同，这种由于散射线与入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，故称为相干散射。
⑵当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后，可以得到波长比入射χ射线长的χ射线，且波长随散射方向不同而改变，这种散射现象称为非相干散射。
⑶一个具有足够能量的χ射线光子从原子内部打出一个K电子，当外层电子来填充K空位时，将向外辐射K系χ射线，这种由χ射线光子激发原子所发生的辐射过程，称荧光辐射。或二次荧光。
⑷指χ射线通过物质时光子的能量大于或等于使物质原子激发的能量，如入射光子的能量必须等于或大于将K电子从无穷远移至K层时所作的功W，称此时的光子波长λ称为K系的吸收限。
⑸当原子中K层的一个电子被打出后，它就处于K激发状态，其能量为Ek。如果一个L层电子来填充这个空位，K电离就变成了L电离，其能由Ek变成El，此时将释Ek-El的能量，可能产生荧光χ射线，也可能给予L层的电子，使其脱离原子产生二次电离。即K层的一个空位被L层的两个空位所替代，这种现象称俄歇效应。

8、单项选择题  洛伦兹因子中，第二几何因子反映的是（）

A、晶粒大小对衍射强度的影响
B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响
C、衍射线位置对衍射强度的影响
D、试样形状对衍射强度的影响

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本题答案：B
本题解析：暂无解析

9、名词解释  俄歇电子

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本题答案：X射线或电子束激发固体中原子内层电子使原子电离，此时原
本题解析：试题答案X射线或电子束激发固体中原子内层电子使原子电离，此时原子（实际是离子）处于激发态，将发生较外层电子向空位跃迁以降低原子能量的过程，此过程发射的电子。

10、单项选择题  单晶体电子衍射花样是（）。

A.规则的平行四边形斑点；
B.同心圆环；
C.晕环；
D.不规则斑点。

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本题答案：A
本题解析：暂无解析

11、问答题  试述罗伦兹三种几何因子各表示什么？

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本题答案：洛伦兹因数第一种几何因子是表示样品中参与衍射的晶粒大小
本题解析：试题答案洛伦兹因数第一种几何因子是表示样品中参与衍射的晶粒大小对衍射强度的影响。，第二种几何因子是表示样品中参与衍射的晶粒的数目对衍射强度的影响，第三种几何因子是表示样品中衍射线位置对衍射强度的影响。

12、问答题  举例说明如何用选区衍射的方法来确定新相的惯习面及母相与新相的位相关系。

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本题答案：例如分析淬火钢回火时，碳化物沿母相马氏体中析出，可以用
本题解析：试题答案例如分析淬火钢回火时，碳化物沿母相马氏体中析出，可以用选区光阑套住（选取）包括母相马氏体和析出的碳化物的选区成像和进行衍射，根据衍射花样标定的晶体结构与位向，对照碳化物与母相的界限确定新相惯析面；根据新相与母相的衍射花样确定两相的位向关系。

13、问答题  为波谱仪和能谱仪？说明其工作的三种基本方式，并比较波谱仪和能谱仪的优缺点。

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本题答案：波谱仪：用来检测X射线的特征波长的仪器能谱仪：用来检测
本题解析：试题答案波谱仪：用来检测X射线的特征波长的仪器能谱仪：用来检测X射线的特征能量的仪器
优点：
1）能谱仪探测X射线的效率高。
2）在同一时间对分析点内所有元素X射线光子的能量进行测定和计数，在几分钟内可得到定性分析结果，而波谱仪只能逐个测量每种元素特征波长。
3）结构简单，稳定性和重现性都很好
4）不必聚焦，对样品表面无特殊要求，适于粗糙表面分析。
缺点：
1）分辨率低.
2）能谱仪只能分析原子序数大于11的元素；而波谱仪可测定原子序数从4到92间的所有元素。
3）能谱仪的Si（Li）探头必须保持在低温态，因此必须时时用液氮冷却

14、问答题  当X射线在原子例上发射时，相邻原子散射线在某个方向上的波程差若不为波长的整数倍，则此方向上必然不存在放射，为什么？

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本题答案：因为X射线在原子上发射的强度非常弱，需通过波程差为波长
本题解析：试题答案因为X射线在原子上发射的强度非常弱，需通过波程差为波长的整数倍而产生干涉加强后才可能有反射线存在，而干涉加强的条件之一必须存在波程差，且波程差需等于其波长的整数倍，不为波长的整数倍方向上必然不存在反射。

15、问答题  二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处？

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本题答案：二次电子像：
1）凸出的尖棱，小粒子以及比较
本题解析：试题答案二次电子像：
1）凸出的尖棱，小粒子以及比较陡的斜面处SE产额较多，在荧光屏上这部分的亮度较大。
2）平面上的SE产额较小，亮度较低。
3）在深凹槽底部尽管能产生较多二次电子，使其不易被控制到，因此相应衬度也较暗。
背散射电子像：
1）用BE进行形貌分析时，其分辨率远比SE像低。
2）BE能量高，以直线轨迹逸出样品表面，对于背向检测器的样品表面，因检测器无法收集到BE而变成一片阴影，因此，其图象衬度很强，衬度太大会失去细节的层次，不利于分析。因此，BE形貌分析效果远不及SE，故一般不用BE信号。

16、问答题  电子衍射与X射线衍射有那些区别？可否认为有了电子衍射分析手段，X射线衍射方法就可有可无了？

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本题答案：电子衍射与X射线衍射一样，遵从衍射产生的必要条件和系统
本题解析：试题答案电子衍射与X射线衍射一样，遵从衍射产生的必要条件和系统消光规律，但电子是物质波，因而电子衍射与X射线衍射相比，又有自身的特点：
（1）电子波波长很短，一般只有千分之几nm，而衍射用X射线波长约在十分之几到百分之几nm，按布拉格方程2dsinθ=λ可知，电子衍射的2θ角很小，即入射电子和衍射电子束都近乎平行于衍射晶面；
（2）由于物质对电子的散射作用很强，因而电子束穿透物质的能力大大减弱，故电子只适于材料表层或薄膜样品的结构分析；
（3）透射电子显微镜上配置选区电子衍射装置，使得薄膜样品的结构分析与形貌有机结合起来，这是X射线衍射无法比拟的特点。
但是，X射线衍射方法并非可有可无，这是因为：X射线的透射能力比较强，辐射厚度也比较深，约为几um到几十um，并且它的衍射角比较大，这些特点都使X射线衍射适宜于固态晶体的深层度分析。

17、单项选择题  中心暗场像的成像操作方法是（）。

A.以物镜光栏套住透射斑；
B.以物镜光栏套住衍射斑；
C.将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。

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本题答案：C
本题解析：暂无解析

18、问答题  扫描电镜的成像原理与透射电镜有何不同?

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本题答案：扫描电子显微镜（Scanning electron m
本题解析：试题答案扫描电子显微镜（Scanning electron microscope--SEM）是以类似电视摄影显像的方式，通过细聚焦电子束在样品表面扫描激发出的各种物理信号来调制成像的显微分析技术。SEM成像原理与TEM完全不同，不用电磁透镜放大成像

19、问答题  什么是丝织构，它的极图有何特点？

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本题答案：丝织构是一种晶粒取向轴对称分布的织构，存在于拉、轧或挤
本题解析：试题答案丝织构是一种晶粒取向轴对称分布的织构，存在于拉、轧或挤压成形的丝、棒材及各种表面镀层中。其特点是多晶体中各种晶粒的某晶向[uvw]与丝轴或镀层表面法线平行。丝织构的极图呈轴对称分布

20、问答题  红外测试样品需尽可能把游离水驱除干净。含游离水样品的红外谱图中在哪两个波数范围会出现吸收峰？

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本题答案：把样品放入110℃烘箱中干燥至少2小时，并抽真空；含游
本题解析：试题答案把样品放入110℃烘箱中干燥至少2小时，并抽真空；含游离水样品的红外谱图在3000-3800cm-11590-1690cm-1存在吸收峰。

21、问答题  原子荧光光谱是怎么产生的？有几种类型？

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本题答案：气态自由原子吸收光源的特征辐射后，原子的外层电子跃迁到
本题解析：试题答案气态自由原子吸收光源的特征辐射后，原子的外层电子跃迁到较高能级，然后又跃迁返回基态或较低能级，同时发射出与原激发辐射波长相同或不同的辐射即为原子荧光。原子荧光属光致发光，也是二次发光。当激发光源停止照射后，再发射过程立即停止。原子荧光可分为共振荧光、非共振荧光与敏化荧光等三种类型

22、名词解释  吸收电子

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本题答案：入射电子进入样品后，经多次非弹性散射，能量损失殆尽（假
本题解析：试题答案入射电子进入样品后，经多次非弹性散射，能量损失殆尽（假定样品有足够厚度，没有透射电子产生），最后被样品吸收。吸收电流像可以反映原子序数衬度，同样也可以用来进行定性的微区成分分析。

23、问答题  简述X射线光电子能谱的分析特点。

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本题答案：X射线光电子能谱是以X射线光子激发样品材料产生光电子来
本题解析：试题答案X射线光电子能谱是以X射线光子激发样品材料产生光电子来分析材料成分和原子价态等。
它的分析特点有：
1.分析的成分是材料10nm以内的表层成分；
2.可以通过对化学位移的分析，给出所含元素的化学结构；
3.是一种无损分析方法（样品不被X射线分解）；
4.是一种超微量分析技术（分析时所需样品量少）；
5.是一种痕量分析方法（绝对灵敏度高）。但X射线光电子能谱分析相对灵敏度不高，只能检测出样品中含量在0.1%以上的组分。

24、问答题  试总结德拜法衍射花样的背底来源，并提出一些防止和减少背底的措施。

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本题答案：德拜法衍射花样的背底来源是入射波的非单色光、进入试样后
本题解析：试题答案德拜法衍射花样的背底来源是入射波的非单色光、进入试样后出生的非相干散射、空气对X射线的散射、温度波动引起的热散射等。采取的措施有尽量使用单色光、缩短曝光时间、恒温试验等。

25、问答题  影响电磁透镜景深和焦长的主要因素是什么？景深和焦长对透射电子显微镜的成像和设计有何影响？

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本题答案：（1）把透镜物平面允许的轴向偏差定义为透镜的景深，影响
本题解析：试题答案（1）把透镜物平面允许的轴向偏差定义为透镜的景深，影响它的因素有电磁透镜分辨率、孔径半角，电磁透镜孔径半角越小，景深越大，如果允许较差的像分辨率（取决于样品），那么透镜的景深就更大了；把透镜像平面允许的轴向偏差定义为透镜的焦长，影响它的因素有分辨率、像点所张的孔径半角、透镜放大倍数，当电磁透镜放大倍数和分辨率一定时，透镜焦长随孔径半角的减小而增大。
（2）透射电子显微镜的成像系统由物镜、中间镜和投影镜组成。物镜的作用是形成样品的第一次放大镜，电子显微镜的分辨率是由一次像来决定的，物镜是一个强励磁短焦距的透镜，它的放大倍数较高。中间镜是一个弱透镜，其焦距很长，放大倍数可通过调节励磁电流来改变，在电镜操作过程中，主要是利用中间镜的可变倍率来控制电镜的放大倍数。投影镜的作用是把中间镜放大（或缩小）的像进一步放大，并投影到荧光屏上，它和物镜一样，是一个短焦距的强磁电镜。而磁透镜的焦距可以通过线圈中所通过的电流大小来改变，因此它的焦距可任意调节。用磁透镜成像时，可以在保持物距不变的情况下，改变焦距和像距来满足成像条件，也可以保持像距不变，改变焦距和物距来满足成像条件。
在用电子显微镜进行图象分析时，物镜和样品之间的距离总是固定不变的，因此改变物镜放大倍数进行成像时，主要是改变物镜的焦距和像距来满足条件；中间镜像平面和投影镜物平面之间距离可近似地认为固定不变，因此若要荧光屏上得到一张清晰的放大像必须使中间镜的物平面正好和物镜的像平面重合，即通过改变中间镜的励磁电流，使其焦距变化，与此同时，中间镜的物距也随之变化。
大的景深和焦长不仅使透射电镜成像方便，而且电镜设计荧光屏和相机位置非常方便。

26、名词解释  孔径半角

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本题答案：孔径半角是物镜孔径角的一半，而物镜孔径角是物镜光轴上的
本题解析：试题答案孔径半角是物镜孔径角的一半，而物镜孔径角是物镜光轴上的物体点与物镜前透镜的有效直径所形成的角度。因此，孔径半角是物镜光轴上的物体点与物镜前透镜的有效直径所形成的角度的一半。

27、单项选择题  洛伦兹因子中，第一几何因子反映的是（）

A、晶粒大小对衍射强度的影响
B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响
C、衍射线位置对衍射强度的影响
D、试样形状对衍射强度的影响

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本题答案：A
本题解析：暂无解析

28、问答题  要分析钢中碳化物成分和基体中碳含量，应选用哪种电子探针仪？为什么？

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本题答案：分析钢中碳化物成分可用能谱仪；分析基体中碳含量可用波谱
本题解析：试题答案分析钢中碳化物成分可用能谱仪；分析基体中碳含量可用波谱仪，这是因为与波谱仪相比，能谱仪具有以下优点：能谱仪探测X射线的效率高。其灵敏度比波谱仪高约一个数量级。在同一时间对分析点内所有元素X射线光子的能量进行测定和计数，在几分钟内可得到定性分析结果，而波谱仪只能逐个测量每种元素特征波长。结构简单，稳定性和重现性都很好（因为无机械传动）不必聚焦，对样品表面无特殊要求，适于粗糙表面分析。
与波谱仪相比能谱仪具有以下缺点和不足：分辨率低：Si（Li）检测器分辨率约为160eV；波谱仪分辨率为5－10eV能谱仪中因Si（Li）检测器的铍窗口限制了超轻元素的测量，因此它只能分析原子序数大于11的元素；而波谱仪可测定原子序数从4到92间的所有元素。能谱仪的Si（Li）探头必须保持在低温态，因此必须时时用液氮冷却

29、问答题  X射线多晶衍射，实验条件应考虑那些问题？结合自己的课题拟定实验方案。

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本题答案：实验条件应考虑问题：
（1）选择试验条件如选
本题解析：试题答案实验条件应考虑问题：
（1）选择试验条件如选靶、选滤波片、管电压电流等
（2）选光阑尺寸、扫描速度、时间常数
（3）进行试样制备
（4）选择试验方法
实验方案：
（1）试样的制备
衍射仪一般采用块状平面试样，可以用粉末压制而成或者直接使用整块的多晶体。
（2）测试参数选择。
（3）衍射数据的采集。
（4）在分析工作中充分利用有关待分析物的化学、物理、力学性质及其加工等各方面的资料信息，进行物相检索。
（5）得出结论。

30、问答题  照明系统的作用是什么？它应满足什么要求？

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本题答案：照明系统由电子枪、聚光镜和相应的平移对中、倾斜调节装置
本题解析：试题答案照明系统由电子枪、聚光镜和相应的平移对中、倾斜调节装置组成。它的作用是提供一束亮度高、照明孔经角小、平行度好、束流稳定的照明源。它应满足明场和暗场成像需求。

31、单项选择题  热振动对x-ray衍射的影响中不正确的是（）

A、温度升高引起晶胞膨胀
B、使衍射线强度减小
C、产生热漫散射
D、改变布拉格角
E、热振动在高衍射角所降低的衍射强度较低角下小

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本题答案：E
本题解析：暂无解析

32、单项选择题  晶体属于立方晶系，一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4，则该晶面的指标为（）

A、（364）
B、（234）
C、（213）
D、（468）

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本题答案：B
本题解析：暂无解析

33、问答题  试从入射光束、样品形状、成相原理、衍射线记录、衍射花样、样品吸收与衍射强度（公式）、衍射装备及应用等方面比较衍射仪法与德拜的异同点。

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本题答案：入射X射线的光束：都为单色的特征X射线，都有光栏调节光
本题解析：试题答案入射X射线的光束：都为单色的特征X射线，都有光栏调节光束。
不同：衍射仪法：采用一定发散度的入射线，且聚焦半径随2θ变化，德拜法：通过进光管限制入射线的发散度。试样形状：衍射仪法为平板状，德拜法为细圆柱状。试样吸收：衍射仪法吸收时间短，德拜法吸收时间长，约为10~20h。记录方式：衍射仪法采用计数率仪作图，与计算机连接可实现自动记录和衅谱处理，德拜法采用环带形底片成相，而且它们的强度（I）对（2θ）的分布（I-2θ曲线）也不同，衍射仪图谱中强度或直接测量精度高，且可获得绝对强度；衍射装备：衍射仪结构复杂成本高，德拜法结构简单造价低；应 91Exam.org用：衍射仪与计算机连接，通过许多软件可获得各种信息而得到广泛应用。

34、单项选择题  M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（）

A.Kα；
B.Kβ；
C.Kγ；
D.Lα。

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本题答案：B
本题解析：暂无解析

35、问答题  什么叫干涉面？当波长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射，相邻两个（hkl）晶面的波程差是多少？相邻两个（HKL）晶面的波程差是多少？

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本题答案：晶面间距为d’/n、干涉指数为nh、nk、
本题解析：试题答案晶面间距为d’/n、干涉指数为nh、nk、nl的假想晶面称为干涉面。当波长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射，相邻两个（hkl）晶面的波程差是nλ，相邻两个（HKL）晶面的波程差是λ。

36、名词解释  中心暗场像

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本题答案：用物镜光阑挡住透射束及其余衍射束，而只让一束强衍射束通
本题解析：试题答案用物镜光阑挡住透射束及其余衍射束，而只让一束强衍射束通过光阑参与成像的方法，称为暗场成像，所得图象为暗场像。如果物镜光阑处于光轴位置，所得图象为中心暗场像。

37、问答题  红外谱图在1600-1700cm-1有吸收峰，则可能含有几种什么基团？

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本题答案：可能含有碳碳双键，或碳氧双键，或碳氮双键，或水等。本题解析：试题答案可能含有碳碳双键，或碳氧双键，或碳氮双键，或水等。

38、问答题  红外光谱的近期发展有哪些？

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本题答案：付立叶红外及差谱技术，红外二向色性，二维相关红外，动态
本题解析：试题答案付立叶红外及差谱技术，红外二向色性，二维相关红外，动态红外光谱和表面红外技术等。

39、问答题  实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以Fe为主要成分的样品，试选择合适的X射线管和合适的滤波片。

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本题答案：实验中选择X射线管的原则是为避免或减少产生荧光辐射，应
本题解析：试题答案实验中选择X射线管的原则是为避免或减少产生荧光辐射，应当避免使用比样品中主元素的原子序数大2~6（尤其是2）的材料作靶材的X射线管。选择滤波片的原则是X射线分析中，在X射线管与样品之间一个滤波片，以滤掉Kβ线。滤波片的材料依靶的材料而定，一般采用比靶材的原子序数小1或2的材料。以分析以铁为主的样品，应该选用Co或Fe靶的X射线管，同时选用Fe和Mn为滤波片。

40、单项选择题  关于相机分辨率的影响因素叙述错误的是（）

A、相机半径越大，分辨率越高
B、θ角越大，分辨率越高
C、X射线波长 91eXaM.org越小，分辨率越高
D、晶面间距越大，分辨率越低

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本题答案：C
本题解析：暂无解析

41、问答题  用单色X射线照射圆柱多晶体试样，其衍射线在空间将形成什么图案？为摄取德拜图相，应当采用什么样的底片去记录？

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本题答案：用单色X射线照射圆柱多晶体试样，其衍射线在空间将形成一
本题解析：试题答案用单色X射线照射圆柱多晶体试样，其衍射线在空间将形成一组锥心角不等的圆锥组成的图案；为摄取德拜图相，应当采用带状的照相底片去记录。

42、问答题  有效放大倍数和放大倍数在意义上有何区别？

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本题答案：有效放大倍数是把显微镜最大分辨率放大到人眼的分辨本领（
本题解析：试题答案有效放大倍数是把显微镜最大分辨率放大到人眼的分辨本领（0.2mm），让人眼能分辨的放大倍数。放大倍数是指显微镜本身具有的放大功能，与其具体结构有关。放大倍数超出有效放大倍数的部分对提高分辨率没有贡献，仅仅是让人观察得更舒服而已，所以放大倍数意义不大。显微镜的有效放大倍数、分辨率才是判断显微镜性能的主要参数。

43、名词解释  衍射衬度

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本题答案：入射电子束和薄晶体样品之间相互作用后，样品内不同部位组
本题解析：试题答案入射电子束和薄晶体样品之间相互作用后，样品内不同部位组织的成像电子束在像平面上存在强度差别的反映。

44、单项选择题  X射线物相定性分析时，若已知材料的物相可以查（）进行核对。

A.哈氏无机数值索引；
B.芬克无机数值索引；
C.戴维无机字母索引；
D.A或B。

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本题答案：C
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45、问答题  如何用电镜分析螺位错b＝a/2（101）

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本题答案：根据螺位错线周围原子位移特征，可以确定缺陷位移矢量的方
本题解析：试题答案根据螺位错线周围原子位移特征，可以确定缺陷位移矢量的方向和布氏矢量b的方向一致。首先对样品进行标定，根据g·b=0位错线不可见 www.91eXam.org判据，确定位错线的布氏矢量。可以采用两个操作反射的g1与g2，由两个方程联立，即g1×g2=b求得位错线的布氏矢量b。

46、单项选择题  透射电子显微镜中可以消除的像差是（）。

A.球差；
B.像散；
C.色差。

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本题答案：B
本题解析：暂无解析

47、问答题  消像散器的作用和原理是什么？

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本题答案：消像散器的作用就是用来消除像散的。其原理就利用外加的磁
本题解析：试题答案消像散器的作用就是用来消除像散的。其原理就利用外加的磁场把固有的椭圆形磁场校正成接近旋转对称的磁场。机械式的消像散器式在电磁透镜的磁场周围放置几块位置可以调节的导磁体来吸引一部分磁场从而校正固有的椭圆形磁场。而电磁式的是通过电磁板间的吸引和排斥来校正椭圆形磁场的。

48、单项选择题  透射电镜成形貌像时是将（）

A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合
B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合
C、关闭中间镜
D、关闭物镜

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本题答案：B
本题解析：暂无解析

49、问答题  什么是双束近似单束成象，为什么解释衍衬象有时还要拍摄相应衍射花样？

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本题答案：双束近似是为了满足运动学原理，单束成像是为了获得确定操
本题解析：试题答案双束近似是为了满足运动学原理，单束成像是为了获得确定操作反射下的衍射衬度像。拍摄相应的衍射花样是为了准确地解释衍射衬度像。

50、问答题  “一束X射线照射一个原子列（一维晶体），只有镜面反射方向上才有可能产生衍射线”，此种说法是否正确？

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本题答案：不正确，因为一束X射线照射一个原子列上，原子列上每个原
本题解析：试题答案不正确，因为一束X射线照射一个原子列上，原子列上每个原子受迫都会形成新的X射线源向四周发射与入射光波长一致的新的X射线，只要符合光的干涉三个条件（光程差是波长的整数倍），不同点光源间发出的X射线都可产生干涉和衍射。镜面反射，其光程差为零，是特殊情况。

51、问答题  试述X射线衍射单物相定性基本原理及其分析步骤？

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本题答案：X射线物相分析的基本原理是每一种结晶物质都有自己独特的
本题解析：试题答案X射线物相分析的基本原理是每一种结晶物质都有自己独特的晶体结构，即特定点阵类型、晶胞大小、原子的数目和原子在晶胞中的排列等。因此，从布拉格公式和强度公式知道，当X射线通过晶体时，每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样，衍射花样的特征可以用各个反射晶面的晶面间距值d和反射线的强度I来表征。其中晶面间距值d与晶胞的形状和大小有关，相对强度I则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。通过与物相衍射分析标准数据比较鉴定物相。
单相物质定性分析的基本步骤是：
（1）计算或查找出衍射图谱上每根峰的d值与I值；
（2）利用I值最大的三根强线的对应d值查找索引，找出基本符合的物相名称及卡片号；
（3）将实测的d、I值与卡片上的数据一一对照，若基本符合，就可定为该物相。

52、问答题  简述连续X射线产生实质。

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本题答案：假设管电流为10mA，则每秒到达阳极靶上的电子数可达6
本题解析：试题答案假设管电流为10mA，则每秒到达阳极靶上的电子数可达6.25x10（16）个，如此之多的电子到达靶上的时间和条件不会相同，并且绝大多数达到靶上的电子要经过多次碰撞，逐步把能量释放到零，同时产生一系列能量为hv（i）的光子序列，这样就形成了连续X射线。

53、问答题  分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么？（1）用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射；（2）用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射；（3）用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。

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本题答案：根据经典原子模型，原子内的电子分布在一系列量子化的壳层
本题解析：试题答案根据经典原子模型，原子内的电子分布在一系列量子化的壳层上，在稳定状态下，每个壳层有一定数量的电子，他们有一定的能量。最内层能量最低，向外能量依次增加。
根据能量关系，M、K层之间的能量差大于L、K成之间的能量差，K、L层之间的能量差大于M、L层能量差。由于释放的特征谱线的能量等于壳层间的能量差，所以Kß的能量大于Ka的能量，Ka能量大于La的能量。
因此在不考虑能量损失的情况下：
（1）CuKa能激发CuKa荧光辐射；（能量相同）
（2）CuKß能激发CuKa荧光辐射；（Kß>KA.
（3）CuKa能激发CuLa荧光辐射；（Ka>lA.

54、问答题  为什么TEM既能选区成像又能选区衍射？怎样才能做到两者所选区域的一致性。在实际应用方面有和重要意义？

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本题答案：TEM成像系统主要是由物镜，中间镜和投影镜组成。本题解析：试题答案TEM成像系统主要是由物镜，中间镜和投影镜组成。
如果把中间镜的物平面和物镜的像平面重合，则在荧光屏上得到一幅放大像，这就是TEM的成像操作。
如果把中间镜的物平面和物镜的背焦面重合，则在荧光屏上得到一幅电子衍射花样，这就是TEM的电子衍射操作。
降低成像的像差，精确聚焦才能做到两者所选区域一致。实际应用中是通过选区衍射确定微小物相的晶体结构。

55、问答题  为何对称入射时，即只有倒易点阵原点在爱瓦尔德球面上，也能得到除中心斑点以外的一系列衍射斑点？

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本题答案：如果倒易点是几何点，那么对称入射时就没有倒易点落在厄瓦
本题解析：试题答案如果倒易点是几何点，那么对称入射时就没有倒易点落在厄瓦尔德球上。但是，由于电镜样品是薄样品，倒易点拉长成倒易杆。倒易杆与厄瓦尔德球相交可以产生衍射。

56、名词解释  相机常数

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本题答案：定义K=Lλ，称相机常数，其中L为镜筒长
本题解析：试题答案定义K=Lλ，称相机常数，其中L为镜筒长度，λ为电子波长。1、明场像：让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法，叫明场成像，所得到的像叫明场像。

57、名词解释  溅射

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本题答案：入射离子轰击固体时，当表面原子获得足够的动量和能量背离
本题解析：试题答案入射离子轰击固体时，当表面原子获得足够的动量和能量背离表面运动时，就引起表面粒子（原子、离子、原子团等）的发射，这种现象称为溅射。

58、问答题  什么是消光距离？影响晶体消光距离的主要物性参数和外界条件是什么？

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本题答案：消光距离：由于透射波和衍射波强烈的动力学相互作用结果，
本题解析：试题答案消光距离：由于透射波和衍射波强烈的动力学相互作用结果，使I0和Ig在晶体深度方向上发生周期性的振荡，此振荡的深度周期叫消光距离。影响因素：晶胞体积，结构因子，Bragg角，电子波长。

59、问答题  多重性因子的物理意义是什么？某立方晶系晶体，其{100}的多重性因子是多少？如该晶体转变为四方晶系，这个晶面族的多重性因子会发生什么变化？为什么？

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本题答案：多重性因子的物理意义是等同晶面个数对衍射强度的影响因数
本题解析：试题答案多重性因子的物理意义是等同晶面个数对衍射强度的影响因数叫作多重性因子。某立方晶系晶体，其{100}的多重性因子是6？如该晶体转变为四方晶系多重性因子是4；这个晶面族的多重性因子会随对称性不同而改变。

60、单项选择题  若H-800电镜的最高分辨率是0.5nm，那么这台电镜的有效放大倍数是（）。

A.1000；
B.10000；
C.40000；
D.600000。

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本题答案：C
本题解析：暂无解析

61、单项选择题  最常用的X射线衍射方法是（）。

A.劳厄法；
B.粉末多法；
C.周转晶体法；
D.德拜法。

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本题答案：B
本题解析：暂无解析

62、问答题  何谓“指纹区”？它有什么特点和用途？

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本题答案：是由于C-C、C-O、C-X单键的伸缩振动以及分子骨架
本题解析：试题答案是由于C-C、C-O、C-X单键的伸缩振动以及分子骨架中多数基团的弯曲振动而产生的吸收光谱，非常复杂，如同人的指纹一样，没有两人完全一样。只要在化学结构上存在微小的差异（如同系物、同分异构体和空间异构体），在指纹区的吸收都有明显的不同，所以，“指纹区”对化合物的鉴别很有用。

63、单项选择题  可以提高TEM的衬度的光栏是（）。

A.第二聚光镜光栏；
B.物镜光栏；
C.选区光栏；
D.其它光栏。

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本题答案：B
本题解析：暂无解析

64、名词解释  背散射电子

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本题答案：入射电子与固体作用后又离开固体的电子。
本题解析：试题答案入射电子与固体作用后又离开固体的电子。

65、问答题  简述特征X射线产生的物理机制。

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本题答案：原子系统中的电子遵从刨利不相容原理不连续的分布在K、L
本题解析：试题答案原子系统中的电子遵从刨利不相容原理不连续的分布在K、L、M、N等不同能级的壳层上，而且按能量最低原理从里到外逐层填充。当外来的高速度的粒子动能足够大时，可以将壳层中某个电子击出去，于是在原来的位置出现空位，原子系统的能量升高，处于激发态，这时原子系统就要向低能态转化，即向低能级上的空位跃迁，在跃迁时会有一能量产生，这一能量以光子的形式辐射出来，即特征X射线。

66、单项选择题  透射电镜中电子枪的作用是（）

A、电子源
B、会聚电子束
C、形成第一副高分辨率电子显微图像
D、进一步放大物镜像

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本题答案：A
本题解析：暂无解析

67、问答题  表面形貌衬度和原子序数衬度各有什么特点？

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本题答案：表面形貌衬度是由于试样表面形貌差别而形成的衬度。利用对
本题解析：试题答案表面形貌衬度是由于试样表面形貌差别而形成的衬度。利用对试样表面形貌变化敏感的物理信号调制成像，可以得到形貌衬度图像。形貌衬度的形成是由于某些信号，如二次电子、背散射电子等，其强度是试样表面倾角的函数，而试样表面微区形貌差别实际上就是各微区表面相对于入射电子束的倾角不同，因此电子束在试样上扫描时任何两点的形貌差别，表现为信号强度的差别，从而在图像中形成显示形貌的衬度。二次电子像的衬度是最典型的形貌衬度。由于二次电子信号主要来自样品表层5-10nm深度范围，它的强度与原子序数没有明确的关系，而仅对微区刻面相对于入射电子束的位向十分敏感，且二次电子像分辨率比较高，所以特别适用于显示形貌衬度。
原子序数衬度是由于试样表面物质原子序数（或化学成分）差别而形成的衬度。利用对试样表面原子序数（或化学成分）变化敏感的物理信号作为显像管的调制信号，可以得到原子序数衬度图像。背散射电子像、吸收电子像的衬度都含有原子序数衬度，而特征X射线像的衬度就是原子序数衬度。粗糙表面的原子序数衬度往往被形貌衬度所掩盖，为此，对于显示原子序数衬度的样品，应进行磨平和抛光，但不能浸蚀。

68、问答题  什么叫干涉面？当波长为λ的X射线在晶体上发生衍射时，相邻两个（hkl）晶面衍射线的波程差是多少？相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少？

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本题答案：晶面间距为d’/n、干涉指数为nh、nk、
本题解析：试题答案晶面间距为d’/n、干涉指数为nh、nk、nl的假想晶面称为干涉面。当波长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射，相邻两个（hkl）晶面的波程差是nλ，相邻两个（HKL）晶面的波程差是λ。

69、问答题  试简要总结由分析简单点阵到复杂点阵衍射强度的整个思路和要点。

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本题答案：在进行晶体结构分析时，重要的是把握两类信息，第一类是衍
本题解析：试题答案在进行晶体结构分析时，重要的是把握两类信息，第一类是衍射方向，即θ角，它在λ一定的情况下取决于晶面间距d。衍射方向反映了晶胞的大小和形状因素，可以利用布拉格方程来描述。第二类为衍射强度，它反映的是原子种类及其在晶胞中的位置。
简单点阵只由一种原子组成，每个晶胞只有一个原子，它分布在晶胞的顶角上，单位晶胞的散射强度相当于一个原子的散射强度。复杂点阵晶胞中含有n个相同或不同种类的原子，它们除占据单胞的顶角外，还可能出现在体心、面心或其他位置。
复杂点阵的衍射波振幅应为单胞中各原子的散射振幅的合成。由于衍射线的相互干涉，某些方向的强度将会加强，而某些方向的强度将会减弱甚至消失。这样就推导出复杂点阵的衍射规律——称为系统消光（或结构消光）。

70、问答题  在一块冷轧钢板中可能存在哪几种内应力？它的衍射谱有什么特点？按本章介绍的方法可测出哪一类应力？

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本题答案：钢板在冷轧过程中，常常产生残余应力。残余应力是材料及其
本题解析：试题答案钢板在冷轧过程中，常常产生残余应力。残余应力是材料及其制品内部存在的一种内应力，是指产生应力的各种因素不存在时，由于不均匀的塑性变形和不均匀的相变的影响，在物体内部依然存在并自身保持平衡的应力。通常残余应力可分为宏观应力、微观应力和点阵畸变应力三种，分别称为第一类应力、第二类应力和第三类应力。
其衍射谱的特点：
①X射线法测第一类应力，θ角发生变化，从而使衍射线位移。测定衍射线位移，可求出宏观残余应力。
②X射线法测第二类应力，衍射谱线变宽，根据衍射线形的变化，就能测定微观应力。
③X射线法测第三类应力，这导致衍射线强度降低，根据衍射线的强度下降，可以测定第三类应力。
本章详细介绍了X射线法测残余应力，X射线照射的面积可以小到1--2mm的直径，因此，它可以测定小区域的局部应力，由于X射线穿透能力的限制，它所能记录的是表面10—30um深度的信息，此时垂直于表面的应力分量近似为0，所以它所能处理的是近似的二维应力；另外，对复相合金可以分别测定各相中的应力状态。不过X射线法的测量精度受组织因素影响较大，如晶粒粗大、织构等因素等能使测量误差增大几倍。按本章介绍的方法可测出第一类应力——宏观应力。

71、问答题  影响红外光谱吸收峰位置的主要因素有哪些？

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本题答案：成键轨道类型，诱导效应，共轭效应，键张力，氢键，振动的
本题解析：试题答案成键轨道类型，诱导效应，共轭效应，键张力，氢键，振动的耦合，不同物态等。

72、问答题  原子吸收分析中为什么选择共振线作吸收线？

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本题答案：共振线是元素的特征谱线，最易发生、吸收最强、最灵敏线。
本题解析：试题答案共振线是元素的特征谱线，最易发生、吸收最强、最灵敏线。

73、问答题  哪些因素影响着透射电镜的分辨率？它们的影响程度如何？如果透射电镜的分辨率极高，此时它的景深和焦长如何？

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本题答案：透射电镜分辨率包括衍射效应和像差两方面，其中主要影响因
本题解析：试题答案透射电镜分辨率包括衍射效应和像差两方面，其中主要影响因素为波长λ和孔径半角α。如果透射电镜分辨率极高，这时景深和焦长将减小。

74、单项选择题  当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（）

A.短波限λ0；
B.激发限λk；
C.吸收限；
D.特征X射线

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本题答案：A
本题解析：暂无解析

75、单项选择题  能提高透射电镜成像衬度的光阑是（）

A、第二聚光镜光阑
B、物镜光阑
C、选区光阑
D、索拉光阑

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本题答案：B
本题解析：暂无解析

76、问答题  电子跃迁有哪几种类型？哪些类型的跃迁能在紫外及可见区吸收光谱中反映出来？

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本题答案：电子跃迁主要有四种跃迁所需能量Δ&Epsi
本题解析：试题答案电子跃迁主要有四种跃迁所需能量ΔΕ大小顺序为：n→π＊<π→π＊

77、问答题  若只含碳氢两种元素的一种不饱和有机物有三个双键，如何用一种光谱来确定其双键可能的排列类型？

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本题答案：三个双键共轭、两个共轭和三个双键孤立三种状况，其紫外光
本题解析：试题答案三个双键共轭、两个共轭和三个双键孤立三种状况，其紫外光谱吸收蜂分别在177nm，210-230nm，260nm，由于三类物质紫外吸收峰存在很大差别，容易确定其实际的双键排列类型。

78、问答题  简要说明多晶（纳米晶体）、单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理。

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本题答案：单晶花样是一个零层二维倒易截面，其倒易点规则排列，具有
本题解析：试题答案单晶花样是一个零层二维倒易截面，其倒易点规则排列，具有明显对称性，且处于二维网络的格点上。因此表达花样对称性的基本单元为平行四边形。单晶电子衍射花样就是（uvw）*0零层倒易截面的放大像。多晶面的衍射花样为：各衍射圆锥与垂直入射束方向的荧光屏或照相底片的相交线，为一系列同心圆环。每一族衍射晶面对应的倒易点分布集合而成一半径为1/d的倒易球面，与Ewald球的相惯线为园环，因此，样品各晶粒{hkl}晶面族晶面的衍射线轨迹形成以入射电子束为轴、2θ为半锥角的衍射圆锥，不同晶面族衍射圆锥2θ不同，但各衍射圆锥共顶、共轴。非晶的衍射花样为一个圆斑。

79、问答题  测角仪在采集衍射图时，如果试样表面转到与入射线成300角，则计数管与入射线所成角度为多少？能产生衍射的晶面，与试样的自由表面是何种几何关系？

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本题答案：当试样表面与入射X射线束成30°角时，计数管与入射X射线束的
本题解析：试题答案当试样表面与入射X射线束成30°角时，计数管与入射X射线束的夹角是600。能产生衍射的晶面与试样的自由表面平行。

80、单项选择题  能帮助消除180º不唯一性的复杂衍射花样是（）。

A.高阶劳厄斑；
B.超结构斑点；
C.二次衍射斑；
D.孪晶斑点

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本题答案：A
本题解析：暂无解析

81、名词解释  电子透镜

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本题答案：能使电子束聚焦的装置。
本题解析：试题答案能使电子束聚焦的装置。

82、问答题  试述衍射仪在入射光束、试样形状、试样吸收，以及衍射线记录等方面与德拜法有何异同？测角仪在工作时，如试样表面转到与入射线成30°角时，计数管与入射线成多少度角？

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本题答案：衍射仪记录花样与德拜法有很大区别。首先，接收X射线方面
本题解析：试题答案衍射仪记录花样与德拜法有很大区别。首先，接收X射线方面衍射仪用辐射探测器，德拜法用底片感光；其次衍射仪试样是平板状，德拜法试样是细丝。衍射强度公式中的吸收项µ不一样。第三，衍射仪法中辐射探测器沿测角仪圆转动，逐一接收衍射；德拜法中底片是同时接收衍射。相比之下，衍射仪法使用更方便，自动化程度高，尤其是与计算机结合，使得衍射仪在强度测量、花样标定和物相分析等方面具有更好的性能。
测角仪在工作时，如试样表面转到与入射线成30°角时，计数管与入射线成60度角。因为工作时，探测器与试样同时转动，但转动的角速度为2：1的比例关系。

83、问答题  你如何用学过的光谱来分析确定乙炔是否已经聚合成为聚乙炔？

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本题答案：可采用红外光谱测试，观察是否有共轭双键生成；可采用紫外
本题解析：试题答案可采用红外光谱测试，观察是否有共轭双键生成；可采用紫外光谱测定，以确定是否有共轭双键生成，以及一些共轭双键长度的信息。

84、单项选择题  在待测试样中掺入一定含量的标准物质，把试样中待测相的某根衍射线条强度与掺入试样中含量已知的标准物质的某根衍射线条相比较，从而获得待测相含量的定量分析方法称为（）

A、外标法
B、内标法
C、直接比较法
D、K值法

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本题答案：B
本题解析：暂无解析

85、问答题  磁透镜的像差是怎样产生的？如何来消除和减少像差？

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本题答案：像差分为球差，像散，色差.球差是磁透镜中心区和边沿区对
本题解析：试题答案像差分为球差，像散，色差.球差是磁透镜中心区和边沿区对电子的折射能力不同引起的.增大透镜的激磁电流可减小球差.像散是由于电磁透镜的周向磁场不非旋转对称引起的.可以通过引入一强度和方位都可以调节的矫正磁场来进行补偿.色差是电子波的波长或能量发生一定幅度的改变而造成的.稳定加速电压和透镜电流可减小色差.

86、问答题  为什么特征X射线的产生存在一个临界激发电压？X射线管的工作电压与其靶材的临界激发电压有什么关系？为什么？

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本题答案：要使内层电子受激发，必须给予施加大于或等于其结合能的能
本题解析：试题答案要使内层电子受激发，必须给予施加大于或等于其结合能的能量，才能使其脱离轨道，从而产生特征X射线，而要施加的最低能量，就存在一个临界激发电压。X射线管的工作电压一般是其靶材的临界激发电压的3-5倍，这时特征X射线对连续X射线比例最大，背底较低。

87、问答题  产生X射线需具备什么条件？

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本题答案：实验证实：在高真空中，凡高速运动的电子碰到任何障碍物时
本题解析：试题答案实验证实：在高真空中，凡高速运动的电子碰到任何障碍物时，均能产生X射线，对于其他带电的基本粒子也有类似现象发生。
电子式X射线管中产生X射线的条件可归纳为：1，以某种方式得到一定量的自由电子；2，在高真空中，在高压电场的作用下迫使这些电子作定向高速运动；3，在电子运动路径上设障碍物以急剧改变电子的运动速度。

88、问答题  聚光镜、物镜、中间镜和投影镜各自具有什么功能和特点？

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本题答案：聚光镜：聚光镜用来会聚电子抢射出的电子束，以最小的损失
本题解析：试题答案聚光镜：聚光镜用来会聚电子抢射出的电子束，以最小的损失照明样品，调节照明强度、孔径角和束斑大小。一般都采用双聚光系统，第一聚光系统是强励磁透镜，束斑缩小率为10-15倍左右，将电子枪第一交叉口束斑缩小为φ1--5μm；而第二聚光镜是弱励磁透镜，适焦时放大倍数为２倍左右。结果在样品平面上可获得φ２—１０μm的照明电子束斑。
物镜：物镜是用来形成第一幅高分辨率电子显微图象或电子衍射花样的透镜。投射电子显微镜分辨率的高低主要取决于物镜。因为物镜的任何缺陷都将被成相系统中的其他透镜进一步放大。物镜是一个强励磁短焦距的透镜（f=1--3mm），它的放大倍数高，一般为100-300倍。目前，高质量的物镜其分辨率可达0.1mm左右。
中间镜：中间镜是一个弱励磁的长焦距变倍率透镜，可在0-20倍范围调节。当放大倍数大于1时，用来进一步放大物镜像；当放大倍数小于1时，用来缩小物镜像。在电镜操作过程中，主要利用中间镜的可变倍率来控制电镜的总放大倍数。如果把中间镜的物平面和物镜的像平面重合，则在荧光屏上得到一幅放大像，这就是电子显微镜中的成像操作；如果把中间镜的物平面和物镜的背焦面重合，在在荧光屏上得到一幅电子衍射花样，这就是电子显微镜中的电子衍射操作。
投影镜：投影镜的作用是把中间镜放大（或缩小）的像（或电子衍射花样）进一步放大，并投影到荧光屏上，它和物镜一样，是一个短聚焦的强磁透镜。投影的励磁电流是固定的，因为成像的电子束进入透镜时孔径角很小，因此它的景深和焦长都非常大。即使改变中间竟的放大倍数，是显微镜的总放大倍数有很大的变化，也不会影响图象的清晰度。

89、单项选择题  粉末照相法所用的试样形状为（）

A、块状
B、分散
C、圆柱形
D、任意形状

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本题答案：C
本题解析：暂无解析

90、名词解释  物相鉴定

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本题答案：指确定材料（样品）由哪些相组成。
本题解析：试题答案指确定材料（样品）由哪些相组成。

91、问答题  晶格条纹像和结构像有何异同点？二者成像条件有何不同？

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本题答案：晶格像是以透射波和同晶带的衍射波干涉生成晶格条纹，晶格
本题解析：试题答案晶格像是以透射波和同晶带的衍射波干涉生成晶格条纹，晶格像广泛用在晶格缺陷、界面、表面和相变等领域的研究上，期刊杂志上发表的大多数高分辨电镜图像是二维晶格像。
结构像是透射束加多个衍射束在平行晶带轴条件下成像，要满足谢尔策欠焦。结构像最大特点是像衬度可以直接观察到单胞中原子及其排列的情况，或与模拟像进行比较可以确定衬度与样品原子及排列的对应关系，因此结构像可以在原子尺度上定量研究晶体结构和缺陷结构。

92、问答题  若X射线管的额定功率为1.5kW，在管电压为35kV时，容许的最大电流是多少？

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本题答案：1.5kW/35kV=0.043A
本题解析：试题答案1.5kW/35kV=0.043A

93、问答题  如何区分红外谱图中的醇与酚羟基的吸收峰？

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本题答案：它们的吸收峰的峰位不同。酚羟基在3610cm-1和12
本题解析：试题答案它们的吸收峰的峰位不同。酚羟基在3610cm-1和1200cm-1存在吸收峰，醇羟基则分别在3620-3640和1050-1150cm-1范围内存在吸收；而且含酚羟基的物质存在苯环的特征吸收峰。

94、问答题  能谱仪、俄歇谱仪和X光电子能谱仪都可作成分分析，它们各自的特点如何？

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本题答案：能谱仪 分析的是微区成分，分析范围为11-92的元素，若
本题解析：试题答案能谱仪分析的是微区成分，分析范围为11-92的元素，若开鈹窗能分析5-92的元素，分析精度可达5%；。
俄歇谱仪分析的是极表层的成分，分析深度只有1nm.
X光电子能谱仪也是分析表层成分，但X光电子能谱仪可以提供元素价态。

95、问答题  什么叫“相干散射”、“短波限”？

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本题答案：相干散射，物质中的电子在X射线电场的作用下，产生强迫振
本题解析：试题答案相干散射，物质中的电子在X射线电场的作用下，产生强迫振动。这样每个电子在各方向产生与入射X射线同频率的电磁波。新的散射波之间发生的干涉现象称为相干散射。
短波限，连续X射线谱在短波方向有一个波长极限，称为短波限λ0.它是由光子一次碰撞就耗尽能量所产生的X射线。

96、单项选择题  样品台和测角仪机械连动时，计数器与试样的转速关系是（）

A、1﹕1
B、2﹕1
C、1﹕2
D、没有确定比例

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本题答案：B
本题解析：暂无解析

97、问答题  透射电镜主要由几大系统构成？各系统之间关系如何？

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本题答案：四大系统：电子光学系统，真空系统，供电控制系统，附加仪
本题解析：试题答案四大系统：电子光学系统，真空系统，供电控制系统，附加仪器系统。其中电子光学系统是其核心。其他系统为辅助系统。

98、问答题  衍衬运动学理论的最基本假设是什么？怎样做才能满足或接近基本假设？

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本题答案：1）入射电子在样品内只可能受到不多于一次散射
本题解析：试题答案1）入射电子在样品内只可能受到不多于一次散射
2）入射电子波在样品内传播的过程中，强度的衰减可以忽略，这意味着衍射波的强度与透射波相比始终是很小。可以通过以下途径近似的满足运动学理论基本假设所要求的实验条件：
1）采用足够薄的样品，使入射电子受到多次散射的机会减少到可以忽略的程度。同时由于参与散射作用的原子不多，衍射波强度也较弱。
2）让衍射晶面处于足够偏离布拉格条件的位向，即存在较大的偏离，此时衍射波强度较弱。

99、问答题  为什么说从衍射观点看有些倒易点阵也是衍射点阵，其倒易点不是几何点？其形状和所具有的强度取决于哪些因素，在实际上有和重要意义？

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本题答案：倒易点阵中的一个点代表的是正点阵中的一组晶面。衍射点阵
本题解析：试题答案倒易点阵中的一个点代表的是正点阵中的一组晶面。衍射点阵是那些能产生衍射（去掉结构消光）的倒易点阵。衍射点阵中倒易点不是几何点，其形状和强度取决于晶体形状和倒易体与厄瓦尔德球相交的位置。根据衍射花样可以推测晶体形态或缺陷类型以及衍射偏离布拉格角的程度。

100、问答题  现代分析型电镜具有那些功能？如何在材料微观分析中运用这些功能？

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本题答案：现代分析电镜主要指透射电子显微镜及其外围分析设备。简称
本题解析：试题答案现代分析电镜主要指透射电子显微镜及其外围分析设备。简称分析型透射电镜，AEM。其主要功能除进行形貌观察、衍衬分析外，还能够利用能谱仪、电子能量损失谱进行成分分析。还可以利用相应的样品台，在透射电镜中作原位观察、加热相变观察、冷却相变观察和拉伸试验。会聚束电子衍射也是分析型电子显微镜的附加功能。

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